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【发明授权】散射参数测量方法及器件校准方法_苏州华太电子技术有限公司_201910762741.6 

申请/专利权人:苏州华太电子技术有限公司

申请日:2019-08-19

公开(公告)日:2020-05-26

公开(公告)号:CN110470966B

主分类号:G01R31/26(20140101)

分类号:G01R31/26(20140101);G06F30/20(20200101);G06F30/392(20200101);G06F17/16(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2020.05.26#授权;2019.12.13#实质审查的生效;2019.11.19#公开

摘要:本发明揭示了一种散射参数测量方法及器件校准方法,所述测量方法包括:制备N个标准结构件,标准结构件包括GSGPAD及长度为LN且互不相等的传输线;测量N个标准结构件的散射参数SN;将散射参数SN转化为ABCD参数;根据变量Z1和Y2构造标准结构件中GSGPAD的ABCD矩阵;根据变量γ和Z0构造标准结构件中长度为LN的传输线的ABCD矩阵;构造标准结构件的ABCD矩阵;求解变量Z1、Y2和或变量γ、Z0;获取GSGPAD的ABCD参数和或任意长度LX传输线的ABCD参数;将ABCD参数转化为散射参数S。本发明通过至少两根不同长度传输线的散射参数,即可实现任意长度传输线及GSGPAD散射参数测量,测量精度较高,大大提高了散射参数测量的灵活性,测量得到的散射参数能够广泛应用于器件的校准。

主权项:1.一种散射参数测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:制备N个标准结构件,标准结构件包括GSGPAD及长度为LN且互不相等的传输线,其中,N≥2;测量N个标准结构件的散射参数SN;将散射参数SN转化为ABCD参数根据变量Z1和Y2构造标准结构件中GSGPAD的ABCD矩阵其中,Z1=1Y1,Y1和Y2为标准结构件等效模型中的导纳;根据变量γ和Z0构造标准结构件中长度为LN的传输线的ABCD矩阵其中,γ为电磁波的传播常数,Z0为传输线的特征阻抗;根据和构造标准结构件的ABCD矩阵根据求解变量Z1、Y2和或变量γ、Z0;根据变量Z1、Y2获取GSGPAD的ABCD参数和或根据变量γ、Z0获取任意长度LX传输线的ABCD参数;将GSGPAD的ABCD参数和或任意长度LX传输线的ABCD参数转化为散射参数S;所述标准结构件中GSGPAD的ABCD矩阵解析表达式为: 所述标准结构件中长度为LN的传输线的ABCD矩阵解析表达式为:

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州华太电子技术有限公司 散射参数测量方法及器件校准方法

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