申请/专利权人：英飞凌科技股份有限公司

申请日：2019-12-11

公开（公告）日：2020-06-19

公开（公告）号：CN111315083A

主分类号：H05B45/56(20200101)

分类号：H05B45/56(20200101)

优先权：["20181211 DE 102018131803.0"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.05.18#实质审查的生效;2020.06.19#公开

摘要：公开了一种方法和电子电路。该方法包括：检测包括被监控的LED串3的电子电路中的至少一个操作参数；基于检测的至少一个操作参数调整电压阈值S3TH；检测被监控的LED串3两端的串电压V3；将串电压V3与电压阈值S3TH进行比较；以及基于比较来检测LED串3中的缺陷。

主权项：1.一种方法，包括：检测包括被监控的LED串3的电子电路中的至少一个操作参数；基于检测的所述至少一个操作参数调整电压阈值S3TH；检测所述被监控的LED串3两端的串电压S3；将所述串电压S3与所述电压阈值S3TH进行比较；以及基于所述比较检测所述LED串3中的缺陷。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 英飞凌科技股份有限公司 检测LED串中缺陷的方法以及具有至少一个LED串的电子电路

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