申请/专利权人:中核检修有限公司
申请日:2019-09-18
公开(公告)日:2020-06-23
公开(公告)号:CN210833999U
主分类号:G01L27/00(20060101)
分类号:G01L27/00(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2020.06.23#授权
摘要:本实用新型提供了一种微差压校验装置,包括用于连接压力泵的压力室、用于将所述压力室分隔为正压腔和负压腔的分压阀、用于接入待测微差压仪表一端的正压管以及用于接入待测微差压仪表另一端的负压管;所述正压腔与所述压力泵连通,所述正压管与所述正压腔连通,所述负压管与所述负压腔连通;所述压力室上设有用于显示正压腔压力的第一压力表和用于显示负压腔压力的第二压力表。本实用新型提供的微差压校验装置可以有效降低获取微差压的调节难度;且可以使得待测微差压仪表的两端同时受压后再进行微差压的调节,有效避免了压力泵直接冲击待测微差压仪表,降低了损坏待测微差压仪表的风险,有效解决了微差压仪表现场校验困难的问题。
主权项:1.一种微差压校验装置,用于校验微差压仪表,其特征在于,包括用于连接压力泵的压力室、用于将所述压力室分隔为正压腔和负压腔的分压阀、用于接入待测微差压仪表一端的正压管以及用于接入待测微差压仪表另一端的负压管;所述正压腔与所述压力泵连通,所述正压管与所述正压腔连通,所述负压管与所述负压腔连通;所述压力室上设有用于显示正压腔压力的第一压力表和用于显示负压腔压力的第二压力表。
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