申请/专利权人：纳晶科技股份有限公司

申请日：2020-02-09

公开（公告）日：2020-06-26

公开（公告）号：CN111341682A

主分类号：H01L21/66(20060101)

分类号：H01L21/66(20060101);H01L21/67(20060101);H01L27/15(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2023.12.29#发明专利申请公布后的驳回;2020.07.21#实质审查的生效;2020.06.26#公开

摘要：本发明公开了一种显示基板的芯片检修装置及检修方法，该芯片检修装置其包括检测模块、判别模块以及修复模块，检测模块用于检测显示基板上的目标芯片，检测模块包括发光单元以及接收单元，发光单元用于向目标芯片发射第一光线，目标芯片在第一光线的激发下发射第二光线，接收单元用于接收第二光线，判别模块用于对比接收单元接收的第二光线和预设光谱数据，并判断目标芯片是否为坏点芯片，修复模块用于拾取坏点芯片和或更换芯片。从而适用于量子点全彩化的MicroLED显示基板的芯片检修，不需要后续绑定等操作后再进行通电检测，节约时间成本和检修成本，提高检修准确率。

主权项：1.一种显示基板的芯片检修装置，其特征在于，包括检测模块，所述检测模块用于检测显示基板上的目标芯片，所述检测模块包括发光单元以及接收单元，所述发光单元用于向所述目标芯片发射第一光线，所述目标芯片的量子点在所述第一光线的激发下发射第二光线，所述接收单元用于接收所述第二光线。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 纳晶科技股份有限公司 一种显示基板的芯片检修装置及检修方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD