申请/专利权人：松下神视株式会社

申请日：2016-07-26

公开（公告）日：2020-06-30

公开（公告）号：CN108139191B

主分类号：G01B5/00(20060101)

分类号：G01B5/00(20060101);G01B11/00(20060101);G01B21/00(20060101)

优先权：["20151015 JP 2015-204079"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.06.30#授权;2018.07.03#实质审查的生效;2018.06.08#公开

摘要：一种位移检测装置，包括：多个控制单元，每个控制单元均包括显示单元，该显示单元被配置为基于所述传感器头的检测信号显示测量值；操作键，其设置在各个控制单元中，并且能够在若干初始设定项目的每个初始设定项目中设定初始设定值；以及控制器，该控制器设置在各个控制单元中，并且具有基于操作键的操作将初始设定值从控制单元的主设备复制到控制单元的从设备的功能。在控制器和操作键中设置选择装置17，用于在各初始设定项目的初始设定值的设定操作时选择是否复制相关初始设定项目的初始设定值。

主权项：1.一种位移检测装置，包括：多个传感器头，每个所述传感器头均使由保持器可伸缩地支撑的主轴的端部抵接在测量目标上，从而检测所述测量目标的位移；多个控制单元，每个所述控制单元均包括显示单元，所述显示单元被配置为基于相应的所述传感器头的检测信号而显示测量值；操作键，所述操作键设置在各所述控制单元中，并且能够在多个初始设定项目的每个初始设定项目中设定初始设定值；以及控制器，所述控制器设置在各所述控制单元中，并且具有基于所述操作键的操作将所述初始设定值从所述控制单元的主设备复制到所述控制单元的从设备的功能，其中，在所述控制器和所述操作键中设置选择装置和执行装置，其中，该选择装置被配置为每当进行在各所述初始设定项目中的所述初始设定值的设定操作时，选择是否复制所述初始设定项目的所述初始设定值，并且其中，所述执行装置被配置为基于所述操作键的操作执行由所述选择装置选择为待复制的项目的所述初始设定项目的所述初始设定值的复制。

全文数据：位移检测装置和光学检测装置技术领域[0001]本发明涉及一种位移检测装置和光学检测装置，其检测测量目标的形状的位移。背景技术[0002]对测量目标的外形的位移进行检测的位移检测装置包括:多个传感器头，其检测测量目标的机械位移量并且将位移转换为电信号；以及多个控制单元，从各个传感器头输出的检测信号输入到该多个控制单元。[0003]传感器头包括被可伸缩地支撑到保持器的主轴以及设置在主轴的端部处的接触器。当将测量目标运送到传感器头的安装位置并且接触器抵靠在测量目标上时，利用保持器中的检测单元检测主轴相对于标准位置的位移量，并且将位移量转换为电信号。[0004]在正常的测量操作中，每个控制单元均基于从各个传感器头输出的检测信号来判定位移量是否正常，并且将判定结果显示到在各个控制单元中设置的显示器。[0005]每个控制单元均在正常测量操作之前进行初始设定。利用作为多个控制单元中的一个控制单元的主设备masterdevice对若干项目中的每一个进行初始设定操作。根据需要将由主设备设定的若干项目的初始设定值复制到从设备slavedevice。[0006]专利文献1公开了一种位移检测装置，其使可移动单元与测量目标进行接触以检测测量目标的位移量。[0007]现有技术文件[0008]专利文献[0009]专利文献1:JP2007-240225A发明内容[0010]技术问题[0011]在上述位移检测装置中，当要被从主设备复制到从设备的项目任意选自若干项目的初始设定值时，需要顺次地从复制设定菜单读出项目，并且需要顺次地选择是否在设定了所有项目的初始设定值之后复制项目。[0012]因此，设定对于若干初始设定项目的复制选择的存在不存在变得复杂。[0013]已经鉴于这样的问题做出本发明，并且本发明的目的是提供一种位移检测装置，其能够简单地进行从控制单元的主设备向从设备的复制选择设定。[0014]问题解决方案[0015]解决以上问题的位移检测装置包括:多个传感器头，每个所述传感器头均使得由保持器可伸缩地支撑的主轴的端部抵在测量目标上，从而检测测量目标的位移;多个控制单元，每个所述控制单元均包括显示单元，所述显示单元被配置为基于相应的所述传感器头的检测信号显示测量值;操作键，所述操作键设置在各个所述控制单元中，并且能够在若干初始设定项目的每个初始设定项目中设定初始设定值;以及控制器，所述控制器设置在各个所述控制单元中，并且具有基于操作键的操作而将所述初始设定值从所述控制单元的主设备复制到所述控制单元的从设备的功能。在所述控制器和所述操作键中设置了选择装置，用于在各个所述初始设定项目的初始设定值的设定操作时选择是否复制所述初始设定项目的所述初始设定值。[0016]利用该配置，当设定每个初始设定项目的初始设定值时，利用选择装置设定是否复制初始设定项目的初始设定值。[0017]在位移检测装置中，选择装置可以包括:复制选择设定键，所述复制选择设定键由所述操作键设定；以及设定单元，所述设定单元设置在所述控制器中，并且被配置为基于所述复制选择设定键的操作为对各个所述初始设定项目设定初始设定值的复制选择。[0018]利用该配置，当设定各个初始设定项目的初始设定值时，基于复制选择设定键的操作设定各个初始设定项目的初始设定值的复制选择。[0019]在位移检测装置中，当在各个初始设定项目处操作复制选择键时，可以在控制单元中设置的显示单元中设置表示复制选择的设定的复制标记。[0020]利用该配置，当操作复制选择键时，在显示单元中显示复制标记，并且能够确认复制选择设定。[0021]在位移检测装置中，初始设定项目能够在初始设定后改变。当所述设定值改变时，所述选择装置能够选择是否复制任意设定改变项目的设定值。[0022]利用该配置，当除了初始设定之外的设定改变时，能够选择是否复制任意设定改变项目的设定值。[0023]解决以上问题的光学检测装置包括：多个传感器头，所述多个传感器头被配置为将检测光束投射到测量目标以检测所述测量目标;多个控制单元，每个所述控制单元均包括显示单元，所述显示单元被配置为基于相应的所述传感器头的检测信号而显不测量值；操作键，所述操作键设置在各个所述控制单元中，并且能够在若干初始设定项目的每个初始设定项目中设定初始设定值；以及控制器，所述控制器设置在各个所述控制单元中，并且具有基于所述操作键的操作将所述初始设定值从所述控制单元的主设备复制到所述控制单元的从设备的功能。在所述控制器和所述操作键中设置了选择装置，用于在各个所述初始设定项目的初始设定值的设定操作时选择是否复制所述初始设定项目的初始设定值。[0024]利用该配置，在光学检测装置中，在各个初始设定项目的初始设定值的设定操作时，利用选择装置设定是否复制初始设定项目的初始设走值。[0025]发明的有利效果[0026]根据本发明的位移检测装置，能够简单地进行从控制单元的主设备到从设备的复制选择设定。附图说明[0027]图1是示意性地图示出位移检测装置的图。[0028]图2是图示出位移检测装置的电气配置的方框图。[0029]图3是图示出控制单元的立体图。[0030]图4是图示出控制单元的操作面板的前视图。[0031]图5是图示出显示单元的操作的前视图。[0032]图6是图示出显示单元的操作的前视图。[0033]图7是图示出显示单元的操作的前视图。[0034]图8是图示出控制单元的操作的流程图。[0035]图9是图示出初始设定操作时显示单元的操作的说明图。[0036]图1〇是图示出初始设定操作时显示单元的操作的说明图。[0037]图11是图示出初始设定操作时显示单元的操作的说明图。[0038]图12是图示出初始设定操作时显示单元的操作的说明图。[0039]图13是图示出初始设定操作时显示单元的操作的说明图。[0040]图14是图示出复制项目设定操作时控制单元的操作的流程图。[0041]图15是图示出复制项目设定操作时控制单元的操作的流程图。[0042]参考标记列表[0043]1:传感器头，2:保持器，3:主轴，6:控制单元，6a:主设备，6b:从设备，9:控制器设定单元，CTO，13、14、17:操作键选择装置、复制选择设定键、移位键、回车键和预设键），1〇:显示单元，24:复制标记，W:测量目标具体实施方式[0044]下文中将参考附图描述位移检测装置的实施例。图1所示的位移检测装置被配置为使得从利用DIN导轨预先设定在预定位置处的传感器头1的保持器2向下可伸缩地支撑主轴3。接触器4设置在主轴3的端部处。[0045]传感器头1通过连接电缆5连接到控制单元6。例如，当测量目标W运送到传感器头1的安装位置，并且接触器4抵在目标的表面上时，通过检测主轴3的位移量而获得的检测信号从传感器头1输出到控制单元6。[0046]主控制器MC连接到控制单元6。控制单元6基于从主控制器MC输出的控制信号而运行，并且由控制单元6测量的各种类型的数据被发送到主控制器MC。[0047]如图2所示，多个投光元件7和在面朝各个投光元件7的位置处的多个光接收元件8设置在传感器头1的保持器2中。利用光接收元件8检测由在上下方向上移动的主轴3遮挡的光，从而将主轴3的位移量转换为电信号并且输出。[0048]从光接收元件8输出的检测信号输出到控制单元6中的CPU9。显示单元10连接到CPU9,并且进行期望的显示。设定单元11连接到CPU9,并且被配置为进行期望的设定操作和选择操作。在连接到CPU9的存储器12中，储存了用于控制CPU9的操作的程序和基于设定单元11的操作设定的设定值。[0049]如图3所示，控制单元6在形成为长方体外壳的操作面板中设置有显示单元10。移位键13、回车键14和退出键15设置在显示单元10的一侧上，并且各种类型的指示灯（lightlamp16和预设键17作为设定单元11而设置在显示单元10的另一侧上。[0050]如图4所示，移位键13设置有：向上键13a，用以选择向上移位；向下键13b，用以选择向下移位;右键13c，用以选择向右移位；以及左键13d，用以选择向左移位。[0051]连接器18从控制单元6的侧表面凸出，并且连接器孔设置为在另一侧表面中与连接器18配合。若干控制单元6通过连接器18在厚度方向上互相重叠并且互相连接，并且控制单元6通过连接电缆5连接到单独的传感器头1。[0052]控制单元6可以被配置为使得任意一个控制单元被设定为主设备6a并且其他控制单元6被设定为从设备6b。[0053]如图4所示，显示单元1〇被配置为使得主显示单元19和副显示单元20设置在上级和下级中以点亮多个数字或字母。第一引导标记21设置在副显示单元20的一侧，并且第二引导标记22设置在第一引导标记21的下侧。[0054]第一引导标记21显示四个有效移位键，并且当回车键14有效时第二引导标记22点壳。[0055]圆形仪表23设置在主显示单元19和副显示单元20的另一侧。圆形仪表23显示基于I3个区段的点亮的测量值，或者在长按移位键13时依次使区段点亮，从而显示长保持操作的持续时间。[0056]复制标记24设置在圆形仪表23的内侧。复制标记24是在进行复制设定操作时触发toggled的设定项目，并且当选择了从主设备6a向从设备6b的复制时点亮。[0057][传感器头1的设定操作时控制单元6的操作][0058]在调节传感器头1的安装位置的情况下，首先按向上键13a并且保持3秒钟。然后，如图5所不，显不设定屏幕显不在显不单兀1〇中，并且出现了选择显不在副显示单元2〇中的项目的模式。当按下向上键13a并且保持时，圆形仪表23的区段顺次关闭，并且显示长保持操作的持续时间。[0059]当在该状态下重复按右键13c或左键13d时，如图6所示地顺次切换显示在副显示单元2〇中的项目。显示项目包括正常测量值NORM.V、计算值CALC、标签LABEL、低设定值L0•SET、高设定值HI•SET以及传感器头测量值HEAD.V。[0060]本文中，当在副显示单元2〇中显示传感器头测量值HEAD.V的状态下按下回车键14时，将副显示单元20的显示值确定为传感器头测量值HEAD.V。[0061]然后，如图7所示，将显示单元设定为如下模式，其中，表示主轴3的位置是否在可移动范围内的绝对值被显示为主轴测量值。[0062]接着，显示单元切换到传感器头1的安装位置调整操作。如图8所示，当将标准测量目标置于传感器头1的下方以使主轴3的接触器4抵在标准测量目标上时，测量操作开始步骤1，并且获取主轴3的主轴测量值步骤2。[0063]接着，将显示值调节为标准值步骤3，通过测量在主显示单元19中显示的测量值被标准化的测量目标，而获得该标准值。当测量标准测量目标时（步骤4，标准测量目标的测量值显示在主显示单元19中，并且主轴测量值显示在副显示单元20中（步骤5。[0064]因此，重复进行从步骤1到步骤5的处理，以将传感器头1的安装位置调节为使得主轴测量值落入主轴3的可移动范围的中心。此外，易于将测量值调节为标准测量值。[0065][控制单元6的设定操作][0066]接着将说明在利用作为主设备的控制单元6a进行各种类型的初始设定的情况下的操作。[0067]如图9所示，在进行各种类型的初始设定的情况下，按下右键13c并且保持三秒以上。然后，副显示单元2〇显示作为设定菜单屏之一的BASIC屏25a以选择基本设定。在该状态下，按下向下键13b，并且操作右键13c和左键13d。然后，可以顺次选择属于BASIC屏25a的下级层的12个项目的基本设定项目26中的任意一个基本设定项目。[0068]选择每个基本设定项目26,并且可以使用向上键13a、向下键13b和回车键14为各个项目设定期望的设定值。[0069]在全部设定了属于BASIC屏25a的下级层的项目之后，显示返回到BASIC屏25a。当操作右键13c或左键l：3d时，显示可以切换到处于与BASIC屏25a相同层中的菜单屏25b至25h。[0070]若干设定项目链接到菜单屏25b至25h的下级层，并且可以类似于基本设定项目26地进行设定项目的设定。[0071]当设定基本设定项目26和属于菜单屏25b至25h的下级层的设定项目时，判定是否将设定项目的设定值复制到充当从设备的控制单元6b。[0072]如图10所示，当在完成设定项目的设定时按下预设键17时，如图11所示地显示复制标记24,并且将设定项目设定为从主设备6a复制到从设备6b。当未按下预设键17时，不显示复制标记24，如图12所亦。[0073]如图13所示，当从处于与BASIC屏25a相同层中的菜单屏25b至25h选择了复制设定屏25d时，可以顺次选择复制项目选择屏27a、复制全选设定屏27b和复制执行屏27c中的任_-W.思[0074]在复制项目选择屏27a中，可以在BASIC屏以及其他菜单屏25b至25h的下级层的项目中单独选择待复制的项目。在该操作中，可以利用预设键17改变复制选择操作。[0075]在复制全选设定屏27b中，可以设定BASIC屏25a和其它菜单屏25b至25h的下级层的所有项目。可以处理在复制执行屏27c中选择的项目。[0076]在从设备6b的情况下，复制锁定设定屏28显示在复制设定屏25d的下级层中，以拒绝从主设备6a复制。[0077]接着，将说明在上述初始设定操作时主设备6a的CPU9的处理操作。[0078]如图14所示，当按下并保持右键13c时，在副显示单元20中显示BASIC屏25a和其它菜单屏25b至25h步骤11。[0079]接着，选择BASIC屏25a和其它菜单屏25b至25h中的任意一个屏，并且选择设定项目（步骤12。然后，例如图10所示，显示在主显示单元19中的设定值点亮，并且可以通过向上键13a、向下键13b、右键13c和左键13d的操作来选择该设定值步骤13、14、15和16。[0080]当在步骤15中按下预设键17时，检查复制标记24步骤17和18。在未按下预设键17的情况下，不检查复制标记24步骤19。通过重复这样的操作，进行了属于BASIC屏25a和菜单屏25b至25h的下级层的若干项目的初始设定操作，并且进行是否将主设备6a中的各项目中设定的值复制到从设备6b的选择操作。[0081]当在步骤15中按下回车键14时，确定设定值步骤20，并且初始设定操作结束。[0082]图15图示出在主设备6a选择复制设定屏25d的情况下的操作。当选择了菜单屏之中的复制设定屏25d时步骤21，显示复制项目选择屏27a步骤22。[0083]此处，当按下右键13a或左键13d时，在主显示单元19和副显示单元20中顺次显示菜单屏的下级层的项目的初始设定值步骤23至25。当在显示期望的项目的状态下按下回车键14时，选择从主设备6a到从设备6b的项目的设定值的复制步骤26和27。在步骤26中未按下回车键14的情况下，未选择到从设备6b的复制步骤28。[0084]当在步骤24中按下退出键15时，确定输入复制设定步骤29，并且结束设定操作。[0085]在位移检测装置中，能够获得以下效果。[0086]⑴在测量标准测量目标的位移量以调节传感器头1的安装位置的情况下，测量目标的位移量的测量值和表示主轴3的可移动范围内的位置的绝对值可以作为主轴测量值而同时显示在控制单元6的主显示单元19和副显示单元20中。因此，能够容易地将传感器头1的安装位置调节为使得能够在主轴3的可移动范围的中央部中检测测量目标的位移量。[0087]2在利用控制单元6的主设备6a针对各个项目设定的初始设定值被复制到从设备6b的情况下，能够在各个项目的初始设定操作时预先设定是否复制对象项目的初始设定值。因此，不需要在设定初始设定值之后在复制项目选择屏27a中预先选择是否复制各个项目，从而能够容易地进行复制项目设定操作。[0088]3在复制项目的选择操作时，在选择了复制的项目中显示复制标记24,从而能够容易地识别复制选择的存在不存在。[0089]实施例可以如下变型。[0090]用于设定复制项目的键可以指定为除了预设键17之外的任意键。[0091]已经以位移检测装置为例说明了本发明，该位移检测装置包括传感器头和控制单元，该传感器头通过使主轴的端部抵在测量目标上来检测测量目标的位移。然而，本发明可以应用到光学检测装置，其包括传感器头和控制单元，该传感器头通过将检测光束投射到测量目标上来检测测量目标。[0092]已经利用在初始设定时复制初始设定项目这样的配置举例说明本发明。本发明可以应用至在设定更新时复制初始设定项目的情况。[0093]姓1[0094]在根据权利要求1的位移检测装置中，[0095]控制单元包括：[0096]第一键，其用于将显示设定屏显示在显示单元中；[0097]第二键，其用于选择所述显示设定屏中的主轴测量值显示模式；以及[0098]控制单元，在所述主轴测量值显示模式下，所述控制单元使得在所述显示单元中，主显示单元显示判定测量值，并且副显示单元显示在主轴的位置处的主轴测量值。[0099]注2[0100]在根据注1所述的位移检测装置中，[0101]所述主显示单元和所述副显示单元设置在上下方向上的两级中。[0102]已经详细地或使用具体实施例描述了本发明。然而，本领域技术人员当然可以在不脱离本发明的精神的范围内进行各种修改和变化。[0103]本申请基于2015年10月15日提交的日本专利申请No•2015-204079并要求其优先权，并且其全部内容通过引用并入本文。

权利要求：1.一种位移检测装置，包括：多个传感器头，每个所述传感器头均使由保持器可伸缩地支撑的主轴的端部抵接在测量目标上，从而检测所述测量目标的位移；多个控制单元，每个所述控制单元均包括显示单元，所述显示单元被配置为基于相应的所述传感器头的检测信号而显示测量值；操作键，所述操作键设置在各所述控制单元中，并且能够在多个初始设定项目的每个初始设定项目中设定初始设定值;以及控制器，所述控制器设置在各所述控制单元中，并且具有基于所述操作键的操作将所述初始设定值从所述控制单元的主设备复制到所述控制单元的从设备的功能，其中，在所述控制器和所述操作键中设置选择装置，该选择装置用于在各所述初始设定项目中的所述初始设定值的设定操作时选择是否复制所述初始设定项目的所述初始设定值。2.根据权利要求1所述的位移检测装置，其中，所述选择装置包括：复制选择设定键，所述复制选择设定键由所述操作键设定；以及设定单元，所述设定单元设置在所述控制器中，并且被配置为，基于所述复制选择设定键的操作而针对各个所述初始设定项目设定所述初始设定值的复制选择。3.根据权利要求2所述的位移检测装置，其中，当在各所述初始设定项目处操作复制选择键时，表示复制选择的设定的复制标记设置在所述控制单元中安置的所述显示单元中。4.根据权利要求1至3的任意一项所述的位移检测装置，其中，所述初始设定项目能够在初始设定之后改变，并且其中，当所述设定值改变时，所述选择装置能够选择是否复制任意设定改变项目的设定值。5.一•种光学检测装置，包括：多个传感器头，所述多个传感器头被配置为将检测光束投射到测量目标以检测所述测量目标；多个控制单元，每个所述控制单元均包括显示单元，所述显示单元被配置为，基于相应的所述传感器头的检测信号而显示测量值；操作键，所述操作键设置在各所述控制单元中，并且能够在多个初始设定项目的每个初始设定项目中设定初始设定值;以及控制器，所述控制器设置在各所述控制单元中，并且具有基于所述操作键的操作将所述初始设定值从所述控制单元的主设备复制到所述控制单元的从设备的功能，其中，在所述控制器和所述操作键中设置选择装置，该选择装置用于在各所述初始设定项目中的所述初始设定值的设定操作时选择是否复制所述初始设定项目的所述初始设定值。

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