申请/专利权人：中国计量科学研究院

申请日：2020-04-16

公开（公告）日：2020-07-03

公开（公告）号：CN111366108A

主分类号：G01B11/30(20060101)

分类号：G01B11/30(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.07.28#实质审查的生效;2020.07.03#公开

摘要：本发明公开了一种垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪，垂直式表面粗糙度测头包括固定架、移动架、位移测量模块、针杆、触针和导向装置，移动架竖向滑动连接于固定架上，移动架上设置针杆，移动架的底板上设有导向装置，导向装置能够用于对针杆进行竖向导向以防止针杆摆动，针杆的底端固定设置有触针，针杆穿过导向装置，触针贯穿移动架的底板，位移测量模块用于测量针杆竖直方向上的移动距离；表面粗糙度仪包括架体、移动装置和上述的垂直式表面粗糙度测头。本发明中，触针与针杆在导向装置的作用下，测量过程中始终与工件表面垂直，操作简便、测量精准程度高。

主权项：1.一种垂直式表面粗糙度测头，其特征在于：包括固定架、移动架、位移测量模块、针杆、触针和导向装置，所述移动架竖向滑动连接于所述固定架上，所述移动架包括顶板、竖板和底板，所述竖板的两端分别与所述顶板和所述底板固定连接，所述针杆的顶端与所述顶板的下表面弹性连接，所述底板上设有所述导向装置，所述导向装置能够用于对所述针杆进行竖向导向以防止所述针杆摆动，所述针杆的底端固定设置有所述触针，所述针杆穿过所述导向装置，所述触针贯穿所述底板，所述位移测量模块用于测量所述针杆竖直方向上的移动距离。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国计量科学研究院 垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪

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