申请/专利权人：广东华芯微特集成电路有限公司

申请日：2020-04-27

公开（公告）日：2020-07-03

公开（公告）号：CN111366788A

主分类号：G01R27/08(20060101)

分类号：G01R27/08(20060101);G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.07.28#实质审查的生效;2020.07.03#公开

摘要：本发明涉及一种芯片电阻检测装置和芯片器件，该装置包括电流产生电路、电压比较电路和输出转换电路：电流产生电路用于连接外接电阻，产生基准电流；基准电流为被测芯片器件的带隙参考电压与外接电阻的阻值之比。电压比较电路电流输入端连接电流产生电路的电流输出端，用于产生与基准电流对应的测试电压，并输出测试电压与带隙参考电压的比较结果。输出转换电路输入端连接电压比较电路的输出端，用于将比较结果转为数字信号输出至芯片器件的数字电路。通过电流产生电路、电压比较电路和输出转换电路的设计，内部电阻检测过程通过外接电阻产生基准电流，检测过程无需引入芯片器件内部的参考时钟与寄存器电路，达到大幅降低检测功耗的目的。

主权项：1.一种芯片电阻检测装置，其特征在于，包括：电流产生电路，用于连接外接电阻，产生基准电流；所述基准电流为被测芯片器件的带隙参考电压与所述外接电阻的阻值之比；电压比较电路，电流输入端连接所述电流产生电路的电流输出端，用于产生与所述基准电流对应的测试电压，并输出所述测试电压与所述带隙参考电压的比较结果；输出转换电路，输入端连接所述电压比较电路的输出端，用于将所述比较结果转为数字信号输出至所述芯片器件的数字电路。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 广东华芯微特集成电路有限公司 芯片电阻检测装置和芯片器件

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