申请/专利权人：优质视觉技术国际公司

申请日：2018-10-28

公开（公告）日：2020-07-03

公开（公告）号：CN111373240A

主分类号：G01N21/17(20060101)

分类号：G01N21/17(20060101)

优先权：["20171116 US 15/814525"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.01.25#授权;2020.11.20#实质审查的生效;2020.07.03#公开

摘要：一种用于测量机器的光学测量系统包括至少两个扫描设备以用于间断地移动通过静态测量位置的交替定时序列，在静态测量位置的交替定时序列，测量光束被引导往来于测试对象。光学开关将测量光束选择性地路由通过已安置到静态测量位置中的一个的扫描设备中的任一个扫描设备。

主权项：1.一种用于测量机器的光学测量系统，包括：用于产生测量光束的光束源；至少两个扫描设备；公共检测器，其用于检测通过所述至少两个扫描设备从测试对象返回的所述测量光束上的变化；所述至少两个扫描设备被布置用于间断地移动通过静态测量位置的相对定时序列，通过所述静态测量位置的相对定时序列，所述测量光束在到所述公共检测器的途中被导引到所述测试对象上的不同位置；以及光学开关，其用于将所述测量光束选择性地路由通过已安置到所述静态测量位置中的一个的所述至少两个扫描设备中的任一个扫描设备。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 优质视觉技术国际公司 用于测量机器的多光束扫描系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD