申请/专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所

申请日：2020-05-14

公开（公告）日：2020-07-14

公开（公告）号：CN111413729A

主分类号：G01T3/00(20060101)

分类号：G01T3/00(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.01.04#授权;2020.08.07#实质审查的生效;2020.07.14#公开

摘要：本发明公开了一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器，该方法包括慢化体、正比计数管、隔离电阻、隔离电容、放大电路、电缆和脉冲电源电路；脉冲电源电路，用于基于脉冲发生器生成的脉冲信号产生脉冲电压，并经电缆和隔离电阻发送给正比计数管；正比计数管，用于基于脉冲电压产生原始计数脉冲信号，并经隔离电容发送给放大电路，原始计数脉冲信号携带有偏压信号；放大电路，用于隔离原始计数脉冲信号携带的偏压信号，获取有效计数脉冲信号，并发送给示波器，以避开正比计数管被脉冲X射线辐照产生电子至电子被气体吸收之前的时间间隔，使得由X射线辐照电离产生的电子不因电场加速而增多，提高中子计数的准确性。

主权项：1.一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法，其特征在于，包括：慢化体、正比计数管、隔离电阻、隔离电容、放大电路、电缆和脉冲电源电路；所述脉冲电源电路，用于基于所述脉冲发生器生成的脉冲信号产生脉冲电压，并经所述电缆和所述隔离电阻发送给所述正比计数管；所述正比计数管，用于在所述脉冲电压达到工作电压并与中子发生核反应时，产生原始计数脉冲信号，并经所述隔离电容发送给所述放大电路，所述原始计数脉冲信号携带有偏压信号；所述放大电路，用于隔离所述原始计数脉冲信号携带的所述偏压信号，获取有效计数脉冲信号，并对所述有效计数脉冲信号进行放大；将所述放大后的有效计数脉冲信号发送给示波器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国工程物理研究院流体物理研究所 在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器

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