申请/专利权人：中国地质大学(武汉);北京东方计量测试研究所

申请日：2020-03-04

公开（公告）日：2020-07-17

公开（公告）号：CN111427119A

主分类号：G02B6/13(20060101)

分类号：G02B6/13(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-未缴年费专利权终止

法律状态：2024.03.22#未缴年费专利权终止;2021.07.30#授权;2020.08.11#实质审查的生效;2020.07.17#公开

摘要：本发明公开了一种集成晶体光波导的制备方法，首先选取无杂质、无色透明的晶体，选定晶体的尺寸并利用激光对晶体进行切割；接着利用软件设计并优化所需光波导的参数，并对光波导进行模式分析和弯曲处的损耗计算，以确定光波导在不同的芯径下的传输模式和传输损耗；利用飞秒激光按照设计好的光波导并根据晶体材料调整飞秒激光的参数，对晶体进行刻画，得到集成晶体光波导；若在晶体的深部刻画光波导，则在两块晶体表面各刻画一半光波导，再将两块晶体固定，形成完整的光波导。本发明提供的集成晶体光波导制备方法，实现了高精度的集成光波导制备，适用于大多数晶体材料。

主权项：1.一种集成晶体光波导的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：选取无杂质、无色透明的晶体，选定要切割后晶体的尺寸并利用激光对晶体进行切割，切割完成后，对晶体表面进行光学抛光；S2：利用软件设计所需光波导的参数，并对光波导进行模式分析和弯曲处的损耗计算，再利用软件优化光波导的参数，减少光波导在弯曲处的损耗；S3：利用飞秒激光按照步骤S2中设计好的光波导并根据晶体材料调整飞秒激光的参数，对晶体进行刻画，得到集成晶体光波导；

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国地质大学(武汉);北京东方计量测试研究所 一种集成晶体光波导的制备方法

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