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【发明公布】面板的检测系统及检测方法_深圳市华星光电半导体显示技术有限公司_202010346722.8 

申请/专利权人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

申请日:2020-04-28

公开(公告)日:2020-07-17

公开(公告)号:CN111427176A

主分类号:G02F1/13(20060101)

分类号:G02F1/13(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.12.23#授权;2020.08.11#实质审查的生效;2020.07.17#公开

摘要:本申请公开了一种面板检测系统。面板检测系统包括阵列检测数据模块,配置为检测面板与提供阵列检测数据组;成盒检测数据模块,配置为检测面板与提供成盒检测数据组;以及数据整合模块,配置为接收阵列检测数据组与成盒检测数据组,分析阵列检测数据组与成盒检测数据组的至少一者以提供面板身分文件,以及依据面板身分文件指示成盒检测数据模块检测面板。

主权项:1.一种面板检测系统,用以检测面板,其特征在于,包括:阵列检测数据模块,配置为检测所述面板与提供阵列检测数据组;成盒检测数据模块,配置为检测所述面板与提供成盒检测数据组;以及数据整合模块,配置为接收所述阵列检测数据组与所述成盒检测数据组,分析所述阵列检测数据组与所述成盒检测数据组的至少一者以提供面板身分文件,以及依据所述面板身分文件指示所述成盒检测数据模块检测所述面板。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 面板的检测系统及检测方法

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