申请/专利权人：中国工程物理研究院材料研究所

申请日：2020-04-24

公开（公告）日：2020-07-17

公开（公告）号：CN111426711A

主分类号：G01N23/046(20180101)

分类号：G01N23/046(20180101);G01N23/207(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2024.03.22#发明专利申请公布后的驳回;2020.08.11#实质审查的生效;2020.07.17#公开

摘要：本发明公开了一种双源能量分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，包括第一X射线源、第一准直器、第二X射线源、样品运动评台、第一探测器、第二准直器、第二探测器和计算机控制系统。本发明通过合理的结构及流程设计，将X射线衍射分析技术与计算机断层成像技术相结合，并利用硬件结构和信息数据耦合的方式，在一套装置上同时实现了衍射分析与计算机断层成像的功能，如此不仅拓展了现有技术的应用场景，更加灵活、全面地满足了实际应用的需求；而且通过上述方式，本发明能够实现材料内部夹杂物或第二相的原位物相分析以及颗粒相的分布均匀性检测，进而解决均匀物质中的夹杂物原位物相分析及多相材料中特定区域的物相分析等检测难题。

主权项：1.双源能量分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，包括第一X射线源1、第一准直器2、第二X射线源3、样品运动评台4、第一探测器6、第二准直器7、第二探测器8和计算机控制系统；所述第二X射线源3和第二探测器8的中心位于同一轴线位置；所述第一X射线源1和第二X射线源3位置相互垂直；所述样品运动平台4用于放置待测样品，并可带动待测样品做360°的转动，使得第二X射线源3发射的X射线充分照射到待测样品上；所述第二探测器8用于待测样品转动时，间隔特定的角度采集待测样品的投影数据；所述计算机控制系统用于对投影数据进行图像冲减，确定夹杂物的位置；所述第一探测器6用于确定夹杂物位置后，在第一准直器和第二准直器延长线的交点位置处记录衍射信号的能量和强度，并最终由计算机控制系统处理衍射信号得到待测样品的材料物相信息。所述第二准直器7设置在第一探测器6旁；所述第一准直器2设置在第一X射线源1旁；并且所述第一探测器6的探测方向与第二X射线源3的光束出射方向之间的夹角为锐角。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国工程物理研究院材料研究所 双源能量分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置

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