申请/专利权人:杭州士兰微电子股份有限公司
申请日:2019-10-23
公开(公告)日:2020-07-17
公开(公告)号:CN211043955U
主分类号:G04F10/04(20060101)
分类号:G04F10/04(20060101);G01P21/00(20060101);G01M7/08(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2020.07.17#授权
摘要:本申请公开了接触时间测量装置和冲击实验装置。该接触时间测量装置包括:质量块和导电板,所述质量块从所述导电板上方的预定高度自由落体跌落至与所述导电板接触;电压源和电阻,所述电压源的负极与所述导电板连接且接地,所述电压源的正极连接所述电阻的第一端,所述电阻的第二端通过导线连接所述质量块;以及脉冲测量装置,与所述电阻的第二端相连接,所述质量块与所述导电板接触时产生冲击脉冲,所述脉冲测量装置获得所述冲击脉冲,根据所述冲击脉冲的宽度获得所述质量块与所述导电板的接触时间。根据测得的接触时间计算质量块自由落体跌落到导电板时的反向冲击加速度,从而获得一个比较准确的高G冲击环境。
主权项:1.一种接触时间测量装置,其特征在于,包括:质量块和导电板,所述质量块从所述导电板上方的预定高度自由落体跌落至与所述导电板接触;电压源和电阻,所述电压源的负极与所述导电板连接且接地,所述电压源的正极连接所述电阻的第一端,所述电阻的第二端通过导线连接所述质量块;以及脉冲测量装置,与所述电阻的第二端相连接,其中,所述质量块与所述导电板接触时产生冲击脉冲,所述脉冲测量装置获得所述冲击脉冲,根据所述冲击脉冲的宽度获得所述质量块与所述导电板的接触时间。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 杭州士兰微电子股份有限公司 接触时间测量装置和冲击实验装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。