申请/专利权人：瑞昱半导体股份有限公司

申请日：2019-01-17

公开（公告）日：2020-07-24

公开（公告）号：CN111443274A

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.06.17#授权;2020.08.18#实质审查的生效;2020.07.24#公开

摘要：本公开内容涉及一种电路测试系统及电路测试方法。电路测试系统包含控制电路、接口电路、扫描链电路及待测电路。控制电路电性连接于测试机台，且用以接收扫描控制信号。接口电路电性连接于控制电路、测试机台、扫描链电路及待测电路。在扫描控制信号处于第一电平时，控制电路用以控制接口电路将扫描链电路导通至测试机台，以将测试机台传来的扫描测试信号传送给扫描链电路。在扫描控制信号处于第二电平时，控制电路用以控制接口电路将待测电路导通至测试机台，以将待测电路产生的响应信号传递至测试机台。

主权项：1.一种电路测试系统，包含：一控制电路，电性连接于一测试机台，且用以接收一扫描控制信号；以及一接口电路，电性连接于该控制电路、该测试机台、一扫描链电路及一待测电路；其中在该扫描控制信号处于一第一电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该扫描链电路导通至该测试机台，以将该测试机台传来的一扫描测试信号传送给该扫描链电路；在该扫描控制信号处于一第二电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该待测电路导通至该测试机台，以将该待测电路产生的一响应信号传递至该测试机台。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 瑞昱半导体股份有限公司 电路测试系统及电路测试方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD