申请/专利权人：宝宇(武汉)激光技术有限公司

申请日：2020-05-19

公开（公告）日：2020-07-24

公开（公告）号：CN111442716A

主分类号：G01B9/02(20060101)

分类号：G01B9/02(20060101);G01H9/00(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.04.16#授权;2020.08.18#实质审查的生效;2020.07.24#公开

摘要：本发明公开了一种引进参考光的干涉测量装置及方法，包含一个信号光DFB激光器及一个参考光DFB激光器，两DFB激光器分别与2x2光纤耦合器相连，2x2光纤耦合器分别与相位调制器和光纤环形器相连，相位调制器还分别与DA转换电路及3x3光纤耦合器相连，光纤环形器还分别与FP标准具及3x3光纤耦合器相连，FP标准具还与探测反射镜相连，3x3光纤耦合器还对应与两个波分复用器相连，其中一个波分复用器与两个光电探测器相连，另一个波分复用器与一个光电探测器相连；三个光电探测器均通过AD转换电路与微处理器相连，微处理器通过DA转换电路与相位调制器相连。本发明优点有：实现了对环境干扰的抑制，保证了探测结果的准确性，避免了高压电路的采用，提高了工作安全性。

主权项：1.一种引进参考光的干涉测量装置，其特征在于：包含DFB激光器A1、DFB激光器B2、2x2光纤耦合器3、相位调制器4、光纤环形器5、FP标准具6、探测反射镜7、3x3光纤耦合器8、波分复用器A9、波分复用器B10、光电探测器A11、光电探测器B12、光电探测器C13、AD转换电路14、微处理器15及DA转换电路16；所述DFB激光器A1及DFB激光器B2分别与2x2光纤耦合器3的两个输入臂相连；所述2x2光纤耦合器3的两个输出臂分别与相位调制器4的输入端及光纤环形器5的端口A相连；所述光纤环形器5的端口B与FP标准具6的输入端相连；所述FP标准具6的输出端与探测反射镜7相连；所述光纤环形器5的端口C及相位调制器4的输出端分别与3x3光纤耦合器8中的两个输入臂相连；所述3x3光纤耦合器8中的两个输出臂分别与波分复用器A9的一输入臂及波分复用器B10的一输入臂相连；所述波分复用器A9的参考光输出臂与光电探测器A11相连，信号光输出臂与光电探测器B12相连；所述波分复用器B10的参考光输出臂悬空，信号光输出臂与光电探测器C13相连，所述光电探测器A11、光电探测器B12及光电探测器C13均与所述AD转换电路14电连接，所述AD转换电路14与所述微处理器15电连接，所述述微处理器15通过DA转换电路16与所述相位调制器4电连接；其中，DFB激光器A1用于输出信号光，DFB激光器B2用于输出参考光。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 宝宇(武汉)激光技术有限公司 一种引进参考光的干涉测量装置及方法

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