申请/专利权人：无锡国芯微电子系统有限公司

申请日：2019-10-17

公开（公告）日：2020-07-24

公开（公告）号：CN211086585U

主分类号：G01S7/40(20060101)

分类号：G01S7/40(20060101);G01C25/00(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.07.24#授权

摘要：本实用新型涉及用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，包括被动微波探测设备、二维转台、信号源、测试计算机、喇叭天线，二维转台的活动端与微波探测设备连接，在二维转台的内部分别设置用于驱动二维转台活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台作周向运动的周向动力机构；本实用新型通过设置二维转台使其可以大幅度提高被动微波探测设备的测试效率，其只需要通过一次扫描测试即可完成传统一维转台系统数十次的测试工作，由于测试组数少了，存储数据的工作量也相对减小，且在测试过程中无需移动天线位置，避免频繁移动天线导致测试前后数据不一致的问题，从而减小误差。

主权项：1.用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：包括被动微波探测设备1、二维转台2、信号源4、测试计算机5、喇叭天线6，所述被动微波探测设备1、二维转台2、喇叭天线6均位于微波暗室7内，所述二维转台2的活动端与被动微波探测设备1连接，在所述二维转台2的内部分别设置用于驱动二维转台2活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台2作周向运动的周向动力机构；所述测试计算机5的信号输入端与被动微波探测设备1的信号输出端连接，所述测试计算机5的信号输出端分别与二维转台2及信号源4的信号输入端连接，所述信号源4的信号输出端与喇叭天线6的信号输入端连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 无锡国芯微电子系统有限公司 用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构

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