申请/专利权人:华邦电子股份有限公司
申请日:2019-11-19
公开(公告)日:2020-07-31
公开(公告)号:CN111477259A
主分类号:G11C16/14(20060101)
分类号:G11C16/14(20060101)
优先权:["20190124 TW 108102650"]
专利状态码:有效-授权
法律状态:2022.03.08#授权;2020.08.25#实质审查的生效;2020.07.31#公开
摘要:本发明提供一种抹除方法,适于半导体存储器装置,包括对半导体存储器装置执行预程序化程序,对半导体存储器装置执行抹除程序,对半导体存储器装置的多个存储单元执行过抹除验证程序,并检测该些存储单元的总消耗电流,依据总消耗电流决定执行软程序化程序的存储单元数量,以及基于存储单元数量在该些存储单元中进行软程序化程序。
主权项:1.一种抹除方法,适用于半导体存储器装置,包括:对所述半导体存储器装置执行预程序化程序;对所述半导体存储器装置执行抹除程序;对所述半导体存储器装置的多个存储单元执行过抹除验证程序,并检测所述多个存储单元的总消耗电流;依据所述总消耗电流决定执行软程序化程序的存储单元数量;以及基于所述存储单元数量在所述多个存储单元中进行所述软程序化程序。
全文数据:
权利要求:
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