申请/专利权人:中国科学技术大学
申请日:2019-09-16
公开(公告)日:2020-08-25
公开(公告)号:CN211348520U
主分类号:G01R31/26(20140101)
分类号:G01R31/26(20140101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2020.08.25#授权
摘要:本实用新型公开了一种TEC制冷性能的测量装置,通过该测量装置,能够精确的对待测TEC的热端温度、冷端温度、工作电流、工作电压和制冷功率这些制冷性能数据进行测量,进而能够准确的进行光电探测器等器件的TEC制冷系统的设计。
主权项:1.一种TEC制冷性能的测量装置,其特征在于,包括:由散热板与盖体组成的密封腔;及在所述密封腔中包括:位于所述散热板上的温控TEC;位于所述温控TEC背离所述散热板一侧的第一均温板,其中,所述温控TEC的冷端与所述第一均温板接触,且所述温控TEC的热端与所述散热板接触,所述第一均温板上设置有第一温度传感器;位于所述第一均温板背离所述散热板一侧的待测TEC;位于所述待测TEC背离所述散热板一侧的第二均温板,其中,所述待测TEC的热端与所述第一均温板接触,且所述待测TEC的冷端与所述第二均温板接触,所述第二均温板上设置有第二温度传感器;以及,位于所述第二均温板背离所述散热板一侧的发热体;及,所述测量装置还包括:与所述温控TEC、第一温度传感器、待测TEC、第二温度传感器和发热体均电连接的数据采集及驱动器件。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国科学技术大学 一种TEC制冷性能的测量装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。