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【发明公布】一种稀疏角度快中子CT成像方法_中国工程物理研究院材料研究所_202010377207.6 

申请/专利权人:中国工程物理研究院材料研究所

申请日:2020-05-07

公开(公告)日:2020-09-11

公开(公告)号:CN111652951A

主分类号:G06T11/00(20060101)

分类号:G06T11/00(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.06.06#授权;2020.10.13#实质审查的生效;2020.09.11#公开

摘要:本发明公开了一种稀疏角度快中子CT成像方法,包括:S1利用快中子CT系统采集稀疏角度下待测样品的投影数据,获得待重建切片层的正弦图,并对正弦图进行对数变换处理;S2对投影数据采用统计迭代重建算法进行重建,得到初步的重建结果;S3构建稀疏角度快中子CT图像重建模型;S4对稀疏角度CT图像重建模型进行求解,获得图像全变分优化后的图像;S5循环步骤S2~S4,当循环次数达到预设的次数后即停止计算,并将获得的迭代计算结果作为最终的重建图像。本发明不仅能更准确地刻画噪声模型,获得更好的重建图像,而且有效缩短了快中子CT的扫描时间,提高了迭代收敛速度。因此,本发明更好地满足了实际应用的需求。

主权项:1.一种稀疏角度快中子CT成像方法,其特征在于,包括如下步骤:S1设置快中子CT成像几何系统参数,得到系统矩阵,然后利用快中子CT系统采集稀疏角度下待测样品的投影数据,获得待重建切片层的正弦图,并对正弦图进行对数变换处理;S2对步骤S1中对数变换处理后的投影数据采用统计迭代重建算法进行重建,得到初步的重建结果;S3利用步骤S2获得的图像构建稀疏角度快中子CT图像重建模型,该图像重建模型为: 其中,p是步骤S1获取的稀疏角度投影数据;f是当前重建的CT图像;W是CT系统矩阵,由步骤S1获取的系统参数确定;为约束条件;||f||TV表示图像f的全变分函数,其定义为式中,i、j分别表示图像像素点所在的行号和列号,ε为投影数据的噪声水平,η为大于0小于10-8的常数;S4对步骤S3中构建的稀疏角度CT图像重建模型进行求解,获得图像全变分优化后的图像;S5循环步骤S2~S4,当循环次数达到预设的次数后即停止计算,并将获得的迭代计算结果作为最终的重建图像。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国工程物理研究院材料研究所 一种稀疏角度快中子CT成像方法

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