申请/专利权人：上海大学

申请日：2020-06-29

公开（公告）日：2020-09-15

公开（公告）号：CN111665373A

主分类号：G01Q30/02(20100101)

分类号：G01Q30/02(20100101);G01Q30/20(20100101);G01N27/26(20060101);G01N27/30(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2023.12.05#发明专利申请公布后的驳回;2020.10.13#实质审查的生效;2020.09.15#公开

摘要：本发明公开了一种探测光电材料微区光电性能的方法，涉及光电化学技术领域。本发明以扫描电化学显微镜装置为基础，通过采用光纤微探针和微电极探针，在光电化学池中通过精确扫描样品微区包括晶粒和晶界等，从而获得材料微区光电化学性能。本发明的一种探测光电材料微区光电性能的方法可以测量出材料微区的不同表面微观形貌对应的光电性能差异，以及探测晶界及不同晶粒取向的光电性能分布，解决了传统方法上只能测量材料整体宏观光电性质的局限，对光电转化机制研究和工艺性能改进具有重要的指导意义。

主权项：1.一种探测光电材料微区光电性能的方法，其特征在于，可选用光纤微探针法，包括以下步骤：步骤S1：选用乙腈和0.1摩尔升的四丁基铵六氟磷酸盐配置成支撑电解质，然后采用0.05摩尔升的乙基紫精二高氯酸盐或二茂铁为氧化或还原剂，采用银硝酸银电极为参比电极，铂电极为对电极，构成光电化学反应池；步骤S2：将待测的光电薄膜材料固定在所述光电化学反应池底部，将扫描电化学显微镜系统中三电极体系依次与所述银硝酸银电极、所述铂电极、和所述待测的光电薄膜材料工作电极相连接；同时，光纤微探针与所述扫描电化学显微镜移动平台相连接，组成精准控制扫描移动平台；步骤S3：通过所述扫描电化学显微镜精准控制移动使得所述光纤微探针靠近所述待测的光电薄膜材料表面，并保持在2-10微米的距离；步骤S4：打开光源，通过所述光纤微探针将一定强度和波长的光照射到所述待测的光电薄膜材料上，并通过所述扫描电化学显微镜控制所述光纤微探针在所述待测的光电薄膜材料表面匀速扫描，收集微区光电化学反应信号，形成不同区域光电化学信号分布图。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海大学 一种探测光电材料微区光电性能的方法

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