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【发明公布】存储器设备和数据验证方法_半导体元件工业有限责任公司_202010012979.X 

申请/专利权人:半导体元件工业有限责任公司

申请日:2020-01-07

公开(公告)日:2020-09-15

公开(公告)号:CN111666037A

主分类号:G06F3/06(20060101)

分类号:G06F3/06(20060101)

优先权:["20190306 US 62/814,329","20190625 US 16/451,244"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.03.29#实质审查的生效;2020.09.15#公开

摘要:本发明题为“存储器设备和数据验证方法”。公开了一种用于验证存储器设备中的数据的方法及电路。将来自微控制器单元或数据存储结构的数据复制到寄存器块。由复制到寄存器块的数据来确定校验和值和校验和种子值。可使用循环冗余校验技术来确定这些值。使用该校验和种子值和该校验和值来确定验证值,该验证值用于验证存储器设备中的数据的完整性。根据另一个方面,电机驱动器电路包括存储器设备,该存储器设备被配置为具有保留数据区段、非保留数据区段和校验和存储区段。寄存器块耦接到该存储器设备,其中寄存器块包括校验和种子存储寄存器;并且校验功能电路耦接到该存储寄存器。

主权项:1.一种用于验证存储器设备中的数据的方法,包括:将所述数据复制到寄存器中;由复制到所述寄存器中的所述数据来确定校验和种子值以及校验和值;使用所述校验和种子值以及所述校验和值来确定验证值;以及使用所述验证值来验证所述存储器设备中的所述数据的完整性。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 半导体元件工业有限责任公司 存储器设备和数据验证方法

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