【发明公布】测试系统_瑞昱半导体股份有限公司_201910165686.2 

申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司

申请日:2019-03-05

发明/设计人:林士杰;林盛霖

公开(公告)日:2020-09-15

代理机构:隆天知识产权代理有限公司

公开(公告)号:CN111667874A

代理人:黄艳;郑特强

主分类号:G11C29/10(20060101)

地址:中国台湾新竹市

分类号:G11C29/10(20060101);G11C29/48(20060101);G11C29/56(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2020.09.15#公开

摘要:一种测试系统,包含:存储器测试电路、存储器、输入逻辑电路、旁通电路、输出逻辑电路及暂存器。暂存器运行为存储器测试电路及输出逻辑电路的管线暂存器。于第一测试模式,由存储器测试电路传送第一测试信号至存储器,以由存储器输出存储器输出测试信号至暂存器后进一步传送至存储器测试电路或输出逻辑电路进行测试。

主权项:1.一种测试系统,包含:一存储器测试电路;一存储器,电性耦接于该存储器测试电路;一输入逻辑电路,电性耦接于该存储器;一旁通电路,选择性地与该存储器测试电路或该输入逻辑电路其中之一电性耦接;一输出逻辑电路;以及一暂存器,包含一输入端以及一输出端,该输入端选择性地与该存储器或该旁通电路其中之一电性耦接,该输出端电性耦接于该存储器测试电路以及该输出逻辑电路,该暂存器运行为该存储器测试电路以及该输出逻辑电路的一管线暂存器;其中于一第一测试模式时,由该存储器测试电路传送一第一测试信号至该存储器,以由该存储器输出一存储器输出测试信号至该暂存器进行暂存后进一步传送至该存储器测试电路,以根据一第一传送结果进行测试。

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权利要求:

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