申请/专利权人：伊莱肯兹公司

申请日：2019-02-01

公开（公告）日：2020-09-15

公开（公告）号：CN111670354A

主分类号：G01N21/3504(20060101)

分类号：G01N21/3504(20060101);G01N21/31(20060101);G01N21/27(20060101);G01J3/427(20060101);G01N21/61(20060101)

优先权：["20180205 FR 1850956"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.01.23#授权;2021.01.08#实质审查的生效;2020.09.15#公开

摘要：本发明的目的在于一种用于测量存在于气体中的气态物质Gx的量ex的方法，所述气态物质能够吸收在吸收光谱带Δx中的光，该方法包括以下步骤：a将气体放置在光源11和测量光电检测器20之间，光源11能够发射入射光波12，该入射光波传播通过气体到达所述测量光电检测器20；b通过光源11对气体G进行照明；c通过测量光电检测器20测量在包含吸收光谱带Δx的测量光谱带中由气体透射的光波14的强度，该强度称为测量强度；d通过参考光电检测器20ref测量由光源11在参考光谱带Aref中发射的参考光波12ref的强度，该强度称为参考强度；在多个测量时间1...k...K实施步骤b至d，该方法在每个测量时间包括：e根据参考光电检测器测量的参考强度以及根据测量光电检测器测量的测量强度Ik，估计气体对入射光波12的吸收率absk；f根据步骤e估计的吸收率来估计气态物质Gx的量exk；该方法的特征在于，步骤e包括考虑校正函数S，该校正函数表示在测量光谱带120中的入射光波12的强度相对于在参考光谱带Aref中的入射光波12的强度的时间变化；并且所述校正函数8是在校准阶段预先建立的，包括以下步骤：cal‑i放置面向测试测量光电检测器20'和面向测试参考光电检测器20'ref的测试光源111，测试光源、测试测量光电检测器以及测试参考光电检测器分别代表光源11、测量光电检测器20和参考光电检测器20ref；cal‑ii在校准周期内的校准时间期间，通过测试光源对测试测量光电检测器和测试参考光电检测器进行照明；cal‑iii将由测试测量光电检测器在测量光谱带中检测到的强度的时间变化和由测试参考光电检测器在参考光谱带Aref中检测到的强度I'refk的时间变化进行比较。

主权项：1.一种用于测量气体中存在的气态物质Gx的量cx的方法，所述气态物质能够吸收在吸收光谱带Δx中的光，所述方法包括以下步骤：a将气体放置在光源11和测量光电检测器20之间，所述光源11能够发射入射光波12，所述入射光波传播通过气体到达测量光电检测器20；b通过所述光源11对气体G进行照明；c通过所述测量光电检测器20测量在包含吸收光谱带Δx的测量光谱带Δ20中由气体透射的光波14的强度Ik，所述强度称为测量强度；d通过参考光电检测器20ref测量参考光波12ref的强度Irefk，所述强度称为参考强度，所述参考光波由光源11在参考光谱带Δref中发射；在多个测量时间1...k...K实施步骤b至d，所述方法在每个测量时间包括：e根据所述参考光电检测器测量的参考强度Irefk，以及所述测量光电检测器测量的测量强度Ik，估计所述气体对入射光波12的吸收率absk；f根据步骤e估计的吸收率来估计所述气态物质Gx的量cxk；所述方法的特征在于，步骤e包括考虑校正函数δ，所述校正函数表示在测量光谱带Δ20中的入射光波12的强度相对于在参考光谱带Δref中的入射光波12的强度的时间变化；并且在于，所述校正函数δ是在校准阶段预先建立的，包括以下步骤：cal-i放置面向测试测量光电检测器20'和面向测试参考光电检测器20'ref的测试光源11'，所述测试光源、所述测试测量光电检测器以及所述测试参考光电检测器分别代表光源11、测量光电检测器20和参考光电检测器20ref；cal-ii在校准周期内的校准时间期间，通过所述测试光源对测试测量光电检测器和测试参考光电检测器进行照明；cal-iii将由所述测试测量光电检测器在测量光谱带Δ20中检测到的强度I'k的时间变化和由所述测试参考光电检测器在参考光谱带Δref中检测到的强度I'refk的时间变化进行比较。

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权利要求：

百度查询： 伊莱肯兹公司 通过双重照明分析气体的方法

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