申请/专利权人：北京大学

申请日：2020-05-20

公开（公告）日：2020-10-13

公开（公告）号：CN111767162A

主分类号：G06F11/00(20060101)

分类号：G06F11/00(20060101);G06F11/07(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.02.26#授权;2020.10.30#实质审查的生效;2020.10.13#公开

摘要：本发明公开了一种面向不同型号硬盘的故障预测方法及电子装置，该方法步骤包括获取待预测硬盘的类别、SMART信息及IO信息，查找共性故障预测模型；若查找到共性故障预测模型，将待预测硬盘的SMART信息及IO信息输入共性故障预测模型，初次判断该待预测硬盘是否正常；若未查找到共性故障预测模型或初次判断正常，根据待预测硬盘的类别，将待预测硬盘的SMART信息及IO信息输入相应的类别故障预测模型，二次判断该待预测硬盘是否正常；若初次判断不正常或二次判断不正常，则该待预测硬盘即将发生故障。本发明创造性地建立二级预测建模机制，能同时兼顾不同品牌、型号硬盘的共性故障特征和个性故障特征，为数据中心不同品牌、型号的硬盘建立统一的故障预测模型。

主权项：1.一种面向不同型号硬盘的故障预测方法，适用于包含k种硬盘的数据中心，其步骤包括：1获取待预测硬盘的类别、SMART信息及IO信息，查找共性故障预测模型；2若查找到共性故障预测模型，将待预测硬盘的SMART信息及IO信息输入共性故障预测模型，初次判断该待预测硬盘是否正常；3若未查找到共性故障预测模型或初次判断正常，根据待预测硬盘的类别，将待预测硬盘的SMART信息及IO信息输入相应的类别故障预测模型，二次判断该待预测硬盘是否正常；4若初次判断不正常或二次判断不正常，则该待预测硬盘即将发生故障。其中，通过以下步骤得到共性故障预测模型：1采集一或多次数据中心的硬盘SMART信息及IO信息，获取各硬盘SMART项与故障盘数量；2根据获取的故障盘数量与采集次数，对各SMART信息及IO信息进行正负样本标记；3获取t种硬盘的SMART项交集中SMART项数量大于设定阀值的相应SMART信息，并将相应SMART信息、相应IO信息及相应正负样本标记进行第一机器模型训练，得到共性故障预测模型，2≤t≤k；通过分别将各种硬盘的SMART信息和IO信息进行第二机器模型训练，得到k个类别故障预测模型。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京大学 一种面向不同型号硬盘的故障预测方法及电子装置

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