申请/专利权人：星恆威(苏州)精密机械制造有限公司

申请日：2020-06-12

公开（公告）日：2020-10-13

公开（公告）号：CN111761405A

主分类号：B23Q15/22(20060101)

分类号：B23Q15/22(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.07.29#授权;2020.10.30#实质审查的生效;2020.10.13#公开

摘要：本发明偏差微调补偿式高精度加工工艺，步骤如下：推进组件推动矩形体至测定板的顶台顶持参照面；矩形体的参照面分别压持测定针A和测定针B，若干测定针A和若干测定针B通过红外测距器分布得到测定A测数据KA1‑Kan及测定B测数据KB1‑KBn；对测定A测数据KA1‑Kan及测定B测数据KB1‑KBn分别求均值得到数据CA和CB；通过数据CA和CB分别利用微调组件进行顶台两侧的矩形体的位置的微调；微调后推进板和测定板的中间为较少偏差的矩形体的中心线A；后以中心线A为参照进行各要素的加工，获得高精度矩形体。本发明能快速进行矩形体外形偏差测定，通过同步微调确认高精度的参照中心线，通过此中心线进行加工要素的定位，减少加工要素的位置偏差，保证加工所需精度。

主权项：1.一种偏差微调补偿式高精度加工工艺，其特征在于：步骤如下：1推进组件推动矩形体至测定板的顶台顶持参照面；2顶台两侧的测定板上分别均匀设置有若干测定针A和若干测定针B，若干测定针A和若干测定针B均突出顶台，即顶台顶持参照面时顶台两侧的矩形体的参照面分别压持测定针A和测定针B，若干测定针A和若干测定针B通过红外测距器分布得到测定A测数据KA1-Kan及测定B测数据KB1-KBn；3对测定A测数据KA1-Kan及测定B测数据KB1-KBn分别求均值得到数据CA和CB，数据CA和CB分别为测定A测定B测的外形偏差调节值；4通过数据CA和CB分别利用微调组件进行顶台两侧的矩形体的位置的微调；4-1数据CA和CB的正负确定调节板的前进或后退，一侧的调节数据为正时，当前测的调节板受调节驱动件驱动前进，反正为后退；4-2同步的进行两侧微调；5此时推进板和测定板的中间为较少偏差的矩形体的中心线A；6划定中心线A；7通过外部固定装置进行调节后矩形体的固定，后以中心线A为参照进行各要素的加工，获得高精度矩形体。

全文数据：

权利要求：

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