申请/专利权人：阳程科技股份有限公司

申请日：2019-04-03

公开（公告）日：2020-10-16

公开（公告）号：CN111781170A

主分类号：G01N21/59(20060101)

分类号：G01N21/59(20060101);G01N21/01(20060101);G01M11/02(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的撤回

法律状态：2023.06.30#发明专利申请公布后的撤回;2020.11.03#实质审查的生效;2020.10.16#公开

摘要：本发明公开了一种偏光对位检测装置及检测方法，该检测装置通过线偏光光源的光源发射面向外投射面光源至偏光元件一侧的受光面，而偏光元件将空间信号加载光源中，以供光源由另一侧的发光面向外投射至待检测物，光源穿过待检测物再投射至另一侧的偏光片，则由偏光片将接收穿透待检测物的线偏光光源并予以滤出偏极光信号，且将光源再投射至另一侧检测系统的摄像镜头，即可通过检测系统将线偏光光源进行检测，达到对待检测物与偏光片进行偏光检测、并予以贴合的目的。

主权项：1.一种偏光对位检测装置，包括线偏光光源、偏光元件、偏光片及检测系统，其特征在于：该线偏光光源设有向外投射面光源至偏光元件的光源发射面，并于偏光元件一侧设有接收光源的受光面、另一侧设有将空间信号加载光源中再向外投射至待检测物的发光面；及该偏光片位于相对偏光元件的待检测物另一侧，供接收穿透待检测物的线偏光光源并予以滤出偏极光信号；该检测系统位于相对待检测物的偏光片另一侧，设有接收偏光片滤出的线偏光光源并进行检测的摄像镜头。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 阳程科技股份有限公司 偏光对位检测装置及检测方法

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