申请/专利权人：致茂电子(苏州)有限公司

申请日：2017-04-20

公开（公告）日：2020-10-16

公开（公告）号：CN108732483B

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.10.16#授权;2018.11.27#实质审查的生效;2018.11.02#公开

摘要：一种具突波保护的测试装置以及测试方法。具突波保护的测试装置包含一开关、一感测电路以及一控制电路。开关耦接一电源供应电路。电源供应电路用以透过开关输出一供应电压予一待测装置。感测电路用以耦接待测装置。感测电路用以接收来自待测装置的一输入电压，且依据输入电压输出一感测信号。控制电路耦接感测电路、电源供应电路与开关。控制电路用以依据感测信号于一第一时间控制电源供应电路停止输出供应电压，且于一第二时间截止开关。借此，可避免突波对待测装置造成不佳的影响。

主权项：1.一种具突波保护的测试装置，其特征在于，包含：一第一开关，耦接一电源供应电路，该电源供应电路用以透过该第一开关输出一供应电压予一待测装置，其中该电源供应电路包含一电源供应器以及一第二开关，其中该第一开关直接耦接该第二开关以及该电源供应器；一感测电路，用以耦接该待测装置，该感测电路用以接收来自该待测装置的一输入电压，且依据该输入电压输出一感测信号；以及一控制电路，耦接该感测电路、该电源供应电路、该第一开关与该第二开关，该控制电路用以依据该感测信号输出一控制信号以控制该第二开关导通或截止以于一第一时间控制该电源供应电路停止输出该供应电压，且于一第二时间截止该第一开关。

全文数据：具突波保护的测试装置以及测试方法技术领域[0001]本揭示中所述实施例内容是有关于一种测试技术，且特别是有关于一种具突波保护的测试装置以及测试方法。背景技术[0002]在集成电路（integratedchip;IC的测试方面，通常会利用测试装置对待测装置deviceunder-teSt;DUT进行相关测试。然而，若是在测试过程中有突波spike产生，突波将不利于集成电路。在一些情况下，突波甚至会损毁集成电路。由此可见，现有技术显然仍存在不便与缺陷，而有待改进。发明内容[0003]有鉴于此，本揭示内容提出一种测试装置以及测试方法，借以解决先前技术所述及的问题。[0004]本揭示内容的一实施方式是关于一种具突波保护的测试装置。测试装置包含一开关、一感测电路以及一控制电路。开关耦接一电源供应电路。电源供应电路用以透过开关输出一供应电压予一待测装置。感测电路用以耦接待测装置。感测电路用以接收来自待测装置的一输入电压，且依据输入电压输出一感测信号。控制电路耦接感测电路、电源供应电路与开关。控制电路用以依据感测信号于一第一时间控制电源供应电路停止输出供应电压，且于一第二时间截止开关。[0005]在一些实施例中，第二时间于时序上晚于第一时间。[0006]在一些实施例中，感测电路包含一第一比较器。第一比较器用以耦接待测装置。第一比较器更用以比较输入电压与一第一参考电压。当输入电压小于第一参考电压时，控制电路依据感测信号截止开关。[0007]在一些实施例中，感测电路还包含一第二比较器。第二比较器用以耦接待测装置。第二比较器更用以比较输入电压与一第二参考电压。当输入电压大于第二参考电压时，控制电路依据感测信号截止开关。[0008]在一些实施例中，测试装置还包含一测试信号提供电路。测试信号提供电路耦接控制电路。测试信号提供电路用以提供一测试信号予待测装置。控制电路更用以依据感测信号，于一第三时间控制测试信号提供电路停止输出测试信号。第三时间于时序上早于第一时间。[0009]本揭示内容的一实施方式是关于一种具突波保护的测试方法。测试方法包含:通过一测试装置的一电源供应电路透过一开关输出一供应电压予一待测装置;通过测试装置的一感测电路接收来自待测装置的一输入电压;通过感测电路依据输入电压输出一感测信号；以及通过测试装置的一控制电路依据感测信号于一第一时间控制电源供应电路停止输出供应电压，且于一第二时间截止开关。[0010]在一些实施例中，第二时间于时序上晚于第一时间。[0011]在一些实施例中，通过感测电路依据输入电压输出感测信号包含:通过感测电路的一第一比较器比较输入电压与一第一参考电压；以及当输入电压小于第一参考I压时，控制电路依据感测信号截止开关。’[0012]在一些实施例中，通过感测电路依据输入电压输出感测信号还包含:通过感测电路的一第二比较器比较输入电压与一第二参考电压；以及当输入电压大于第二参考电压时，控制电路依据感测信号截止开关。[0013]在一些实施例中，测试方法还包含:通过控制电路依据感测信号，于一第三时间控制一测试信号提供电路停止输出一测试信号予待测装置。第三时间于时序上早于第一时间。[0014]综上所述，测试装置控制电源供应电路在第一时间停止输出供应电压，且在第二时间将用以提供供应电压给待测装置的开关截止。借此，可避免突波对待测装置造成不佳的影响。附图说明[0015]为让本揭示的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：[0016]图1是依照本揭示一些实施例所绘示的一种测试系统的示意图；[0017]图2是依照本揭示一些实施例所绘示的图1的测试系统的详细示意图；[0018]图3是依照本掲示一些实施例所绘示的图1中控制信号的时序图；以及[0019]图4是依照本掲示一些实施例所绘示的一种测试方法的步骤流程图。具体实施方式[0020]下文是举实施例配合所附附图作详细说明，但所提供的实施例并非用以限制本掲示所涵盖的范围，而结构运作的描述非用以限制其执行的顺序，任何由元件重新组合的结构，所产生具有均等功效的装置，皆为本揭示所涵盖的范围。另外，附图仅以说明为目的，并未依照原尺寸作图。为使便于理解，下述说明中相同元件或相似元件将以相同的符号标示来说明。[0021]在全篇说明书与权利要求书所使用的用词terms，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在此揭不的内谷中与特殊内容中的平常意义。[0022]关于本文中所使用的“第一”、“第二”、“第三”…等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本揭示，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的元件或操作而己。[0023]在本文中所使用的用词“包含”、“包括”、“具有”、“含有”等等，均为开放性的用语，即意指包含但不限于。[0024]在本文中所使用的用词“耦接”亦可指“电性耦接”，且用词“连接”亦可指“电性连接”。“耦接”及“连接”亦可指二个或多个元件相互配合或相互互动。[0025]请参考图1。图1是依照本揭示一些实施例所绘示的一种测试系统1〇〇的示意图。在一些实施例中，测试系统100包含待测装置12〇以及测试装置140。[0026]在一些实施例中，待测装置120包含待测电路。各种得以实现待测电路的电路皆在本揭示内容的范围内。[0027]在一些实施例中，测试装置140用以输出测试信号VDR™予待测装置12〇,以对待测装置120进行各式测试。在一些实施例中，测试信号VDRIVE为数位测试信号。在一些实施例中，测试装置140为具突波保护的测试装置。[0028]在一些实施例中，测试装置140包含电源供应电路142、感测电路144、控制电路146以及开关SW1。在一些进一步的实施例中，测试装置140还包含测试信号提供电路148。[0029]以图1示例而言，电源供应电路142耦接开关SW1。控制电路146耦接开关SW1、电源供应电路142、感测电路144以及测试信号提供电路148。开关SW1用以耦接待测装置120。感测电路144用以耦接待测装置120。测试信号提供电路148用以耦接待测装置120。[0030]如此，电源供应电路142得以透过开关SW1输出供应电压VFQRCE予待测装置120。感测电路144得以接收来自待测装置120的输入电压Vin。测试信号提供电路148得以提供测试信号Vdrive予待测装置120。[0031]在一些实施例中，待测装置120接收供应电压Vfqrce，且依据供应电压Vfqrce进行运作。在一些实施例中，待测装置120依据供应电压Vfqrce产生输入电压VIN。举例而言，待测装置120的待测电路中包含一电阻元件。供应电压Vfcirce被传输至该电阻的一端，而电阻的另一端则对应产生输入电压Vin。在一些实施例中，供应电压Vfqrce与输入电压Vin之间的电压差与该电阻的电阻值相关。举例而言，供应电压Vforce与输入电压VIN之间的电压差与该电阻的电阻值成正比。[0032]上述供应电压VFQRCE与输入电压VIN之间的关系仅用于示例的目的。各种供应电压Vforce与输入电压Vin之间的关系皆在本揭不内容的范围内。[0033]在一些实施例中，感测电路144依据输入电压VIN产生感测信号C1。接着，控制电路146依据感测信号C1控制电源供应电路142、开关SW1以及测试信号提供电路148。在一些实施例中，控制电路146依据感测信号C1输出控制信号C2。电源供应电路142依据控制信号C2于第一时间例如:图3中的时间T1停止输出供应电压VFQRCE。在一些实施例中，控制电路146依据感测信号C1输出控制信号C3。开关SW1依据控制信号C3于第二时间（例如：图3中的时间T2截止。在一些实施例中，时间T2于时序上晚于时间T1。[0034]通过测试装置140,电源供应电路142的电源于时间T1被关闭，且开关SW1于时间T2被截止。如此，可避免突波对待测装置120造成不佳的影响。[0035]在一些实施例中，控制电路146更依据感测信号C1输出控制信号C4。测试信号提供电路148依据控制信号C4停止输出测试信号VDRIVE予待测装置120。[0036]在一些实施例中，控制电路146是以控制芯片、控制器或其他具有控制功能的硬件电路实现。各种得以实现控制电路146的电路皆在本揭示内容的范围内。[0037]请参考图2以及图3。图2是依照本揭示一些实施例所绘示的图1的测试系统100的详细示意图。为了易于理解的目的，图2中与图1中相似的元件将指定相同的标号。[0038]在一些实施例中，感测电路144包含参考电压提供电路1442、参考电压提供电路1444、比较器C0M1以及比较器COM2。比较器COM1的两输入端分别耦接参考电压提供电路1442以及待测装置120。比较器C0M1的输出端耦接控制电路146。比较器COM2的两输入端分别耦接参考电压提供电路1444以及待测装置12〇。比较器COM2的输出端耦接控制电路146。[0039]在一些实施例中，参考电压提供电路1442提供参考电压VI至比较器C0M1的第一输入端例如:正输入端）。比较器C0M1的第二输入端例如:负输入端接收来自待测装置120的输入电压VIN。据此，比较器C0M1比较参考电压VI以及输入电压Vin。在一些实施例中，参考电压VI为负电压。在一些实施例中，当输入电压Vin小于参考电压VI时例如：突波），比较器C0M1透过其输出端输出具有逻辑值1的感测信号C12予控制电路146。[0040]在一些实施例中，比较器COM2的第一输入端（例如：正输入端接收来自待测装置120的输入电压VIN。参考电压提供电路1444提供参考电压V2至比较器COM2的第二输入端例如：负输入端）。据此，比较器COM2比较参考电压V2以及输入电压Vin。在一些实施例中，参考电压V2为正电压。在一些实施例中，当输入电压VIN大于参考电压V2时例如:突波），比较器COM2透过其输出端输出具有逻辑值1的感测信号C13予控制电路146。[0041]上述感测电路144的实现方式仅用以示例的目的。感测电路144的各种实现方式皆在本揭示内容的考量范围内。另外，在一些实施例中，上述参考电压VI或参考电压V2的电压值可依据需求动态地被调整。[0042]在一些实施例中，控制电路146依据具有逻辑值1的感测信号C12或感测信号C13输出控制信号C2予电源供应电路142，以控制电源供应电路142。在一些实施例中，控制电路146依据具有逻辑值1的感测信号C12或感测信号C13输出控制信号C3至开关SW1的控制端例如：闸极端），以控制开关SW1。据此，开关SW1受控制信号C3控制以导通或截止。在一些实施例中，控制电路146依据具有逻辑值1的感测信号C12或C13输出控制信号C4予测试信号提供电路148,以控制测试信号提供电路148。[0043]在一些实施例中，电源供应电路142包含电源供应器14加以及开关SW2。开关SW2耦接于电源供应器1420的输出端与接地端之间。电源供应器142〇用以产生供应电压Vfcirce。开关SW2受控制信号C2控制以导通或截止。[0044]在一些实施例中，开关SW1由N型金属氧化物半导体场效晶体管实现。据此，当控制信号C3为高电压VH例如:逻辑值1时，开关SW1导通。当控制信号C3为低电压VL例如:逻辑值〇时，开关SW1截止。[0045]在一些实施例中，开关SW2由P型金属氧化物半导体场效晶体管M0SFET实现。据此，当控制信号C2为高电压VH时，开关SW2截止。当控制信号C2为低电压VL时，开关SW2导通。[0046]上述开关SW1以及开关SW2的型式仅用以示例的目的。各种得以实现开关Sffl以及开关SW2的元件皆在本揭示内容的范围内。举例而言，该些晶体管可以为双载子接面晶体管BJT或绝缘闸双极晶体管IGBT。另外，控制信号C3以及控制信号C2的逻辑值可分别依据开关SW1以及开关SW2的型式相应地调整。[0047]上述电源供应电路142的实现方式仅用以示例的目的。电源供应电路142的各种实现方式皆在本揭示内容的考量范围内。[0048]请参考图3。图3是依照本揭示一些实施例所绘示的图1中控制信号C2以及C3的时序图。为易于理解，图3将搭配图2进行描述，但本揭示内容不以此为限制。[0049]在时间T4,控制信号C3从低电压VL转变为高电压VH。据此，开关SW1导通。[0050]在时间T4至时间T5，控制信号C2为低电压VL且控制信号C3为高电压VH。据此，开关SW2导通且开关SW1亦导通。如此，由电源供应器1420所输出的供应电压Vfqrce会透过开关SW2被拉地。也就是说，电源供应电路142不会输出供应电压VF〇RCE给待测装置120。[0051]在时间T5,控制信号C2从低电压VL转变为高电压VH。在时间T5至时间T1，控制信号C2为高电压VH且控制信号C3亦为高电压VH。据此，开关SW2截止且开关SW1导通。如此，由电源供应器1420所输出的供应电压VFQRCE会透过开关SW1传输至待测装置120。也就是说，在时间T5至时间T1为测试系统100的运作期间。[0052]通过测试装置140,开关SW1在时间T4导通且电源供应电路142在时间T5输出供应电压VF_给待测装置120。如此，可避免突波对待测装置120造成不佳的影响。在一些实施例中，时间T4与时间T5之间的时间间隔为0•4毫秒〜0.6毫秒。[0053]在时间T1，控制信号C2从高电压VH转变为低电压VL。在时间T1至时间T2，控制信号C2为低电压VL且控制信号C3为高电压VH。据此，开关SW2导通且开关SW1亦导通。如此，由电源供应器1420所输出的供应电压VFQRCE会透过开关SW2被拉地。如此，电源供应电路142停止输出供应电压Vfqrce给待测装置120〇[0054]在时间T2,控制信号C3从高电压VH转变为低电压VL。据此，开关SW1截止。[0055]通过测试装置140,电源供应电路142在时间T1停止输出供应电压VFQRCE给待测装置120且开关SW1在时间T2截止。如此，可避免测试装置140的突波对待测装置120造成不佳的影响。在一些实施例中，时间H与时间T2之间的时间间隔为1毫秒〜10毫秒。[0056]在一些实施例中，测试信号提供电路148输出测试信号Vdrive予待测装置120,以对待测装置120进行各式测试。在一些实施例中，测试信号提供电路148依据控制信号C4于时间T3停止输出测试信号VDRIVE。在一些实施例中，时间T3于时序上早于时间T1。也就是说，控制电路146先控制测试信号提供电路148停止输出测试信号Vdrive例如:时间T3，再控制电源供应电路142停止输出供应电压Vfqrce例如:时间T1。接着，控制电路146再控制开关SW1截止例如:时间T2。通过时序上的隔离，可避免突波对待测装置120造成不佳的影响。[0057]在一些实施例中，测试装置140用以对多个待测装置进行测试。举例来说，测试装置140对第一待测装置例如:待测装置120以及第二待测装置（图未式进行测试。在一些实施例中，测试装置140于时间T6停止输出测试信号VDRIVE予第二待测装置，且于时间T7停止输出供应电压Vforce予第二待测装置。在一些实施例中，时间T6于时序上晚于时间T2,且时间T7于时序上晚于时间T6。通过时序上的隔离，可避免突波对该些待测装置造成不佳的影响。[0058]请参考图4。图4是依照本揭示一些实施例所绘示的一测试方法400的流程图。在一些实施例中，测试方法400被应用于图1的测试系统100中。测试方法400包含步骤S410、步骤S42〇、步骤S430以及步骤S440。为了以较佳的方式理解本揭露内容，测试方法400将搭配图1的测试系统100进行讨论，但本揭露内容不以此为限制。[0059]在步骤S410中，测试装置140的电源供应电路142透过开关SW1输出供应电压Vforce予待测装置120。[0060]在步骤S420中，测试装置140的感测电路144接收来自待测装置120的输入电压V™。[0061]在步骤S430中，感测电路144依据输入电压VIN输出感测信号Cl。[0062]在步骤S440中，测试装置140的控制电路146依据感测信号Cl于时间T1控制电源供应电路142停止输出供应电压Vfqrce，且于时间T2截止开关SW1。在一些实施例中，时间T2于时序上晚于时间T1。[0063]上述测试方法400的叙述包含示例性的操作，但测试方法400的该些操作不必依所显示的顺序被执行。测试方法400的该些操作的顺序得以被变更，或者该些操作得以在适当的情况下被同时执行、部分同时执行或部分省略，皆在本揭露的实施例的精神与范围内。[0064]综上所述，测试装置控制电源供应电路在第一时间停止输出供应电压，且在第二时间将用以提供供应电压给待测装置的开关截止。借此，可避免突波对待测装置造成不佳的影响。_[0065]虽然本揭示已以实施方式揭示如上，然其并非用以限定本揭示，任何本$域具通常知识者，在不脱离本揭示的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本揭不的保护范围当视所附的权利要求所界定的范围为准。

权利要求：1.一种具突波保护的测试装置，其特征在于，包含：一开关，耦接一电源供应电路，该电源供应电路用以透过该开关输出一供应电压予一待测装置；一感测电路，用以耦接该待测装置，该感测电路用以接收来自该待测装置的一输入电压，且依据该输入电压输出一感测信号；以及一控制电路，耦接该感测电路、该电源供应电路与该开关，该控制电路用以依据该感测信号于一第一时间控制该电源供应电路停止输出该供应电压，且于一第二时间截止该开关。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该第二时间于时序上晚于该第一时间。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该感测电路包含：一第一比较器，用以耦接该待测装置，该第一比较器更用以比较该输入电压与一第一参考电压，当该输入电压小于该第一参考电压时，该控制电路依据该感测信号截止该开关。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，其中该感测电路还包含：一第二比较器，用以耦接该待测装置，该第二比较器更用以比较该输入电压与一第二参考电压，当该输入电压大于该第二参考电压时，该控制电路依据该感测信号截止该开关。5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包含：一测试信号提供电路，耦接该控制电路，该测试信号提供电路用以提供一测试信号予该待测装置，该控制电路更用以依据该感测信号，于一第三时间控制该测试信号提供电路停止输出该测试信号，其中该第三时间于时序上早于该第一时间。6.—种具突波保护的测试方法，其特征在于，包含：通过一测试装置的一电源供应电路透过一开关输出一供应电压予一待测装置；通过该测试装置的一感测电路接收来自该待测装置的一输入电压；通过该感测电路依据该输入电压输出一感测信号；以及通过该测试装置的一控制电路依据该感测信号于一第一时间控制该电源供应电路停止输出该供应电压，且于一第二时间截止该开关。7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，其中该第二时间于时序上晚于该第一时间。8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，其中通过该感测电路依据该输入电压输出该感测信号包含：通过该感测电路的一第一比较器比较该输入电压与一第一参考电压；以及当该输入电压小于该第一参考电压时，该控制电路依据该感测信号截止该开关。9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，其中通过该感测电路依据该输入电压输出该感测信号还包含：通过该感测电路的一第二比较器比较该输入电压与一第二参考电压；以及当该输入电压大于该第二参考电压时，该控制电路依据该感测信号截止该开关。10.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，还包含：通过该控制电路依据该感测信号，于一第三时间控制一测试信号提供电路停止输出一测试信号予该待测装置，其中该第三时间于时序上早于该第一时间。

百度查询： 致茂电子(苏州)有限公司 具突波保护的测试装置以及测试方法

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