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【发明公布】光学测量装置和光学测量方法_株式会社三丰_202010249528.8 

申请/专利权人:株式会社三丰

申请日:2020-04-01

公开(公告)日:2020-10-20

公开(公告)号:CN111795642A

主分类号:G01B11/00(20060101)

分类号:G01B11/00(20060101);G01B11/02(20060101);G01B11/08(20060101)

优先权:["20190405 JP 2019-072408"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.12.21#实质审查的生效;2020.10.20#公开

摘要:一种光学测量装置,包括:发射装置,配置为向物体发射光轴平行移动的扫描光;光接收元件,配置为对经过物体之后的扫描光进行光电转换;计算装置,配置为从由光接收元件输出的电信号的时间变化获得的电压波计算当扫描光的一部分对于时间范围被物体中断时与从相对于扫描光不被物体中断的电压值的第一边缘和相对于扫描光被物体中断的电压值的第二边缘的时间范围相对应的距离。

主权项:1.一种光学测量装置,包括:发射装置,配置为向物体发射光轴平行移动的扫描光;光接收元件,配置为对经过物体之后的扫描光进行光电转换;计算装置,配置为从由光接收元件输出的电信号的时间变化获得的电压波计算当扫描光的一部分对于时间范围被物体中断时与从相对于扫描光不被物体中断的电压值的第一边缘和相对于扫描光被物体中断的电压值的第二边缘的时间范围相对应的距离。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 株式会社三丰 光学测量装置和光学测量方法

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