申请/专利权人：VMI荷兰公司

申请日：2020-04-07

公开（公告）日：2020-10-20

公开（公告）号：CN111795682A

主分类号：G01C15/00(20060101)

分类号：G01C15/00(20060101);G01B11/00(20060101)

优先权：["20190405 NL 2022874"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.04.26#实质审查的生效;2020.10.20#公开

摘要：本发明涉及一种用于校准激光三角测量系统的校准工具和方法，其中，该校准工具包括限定参考平面的工具主体，其相对于测量系统可绕垂直于所述参考平面的旋转轴线旋转，其中，该工具主体设置有一个或多个校准表面，校准表面限定校准位置的图案，其中，该图案包括在远离旋转轴线的径向上延伸的至少三列和绕旋转轴线沿周向延伸的至少三排，其中，对于每列，所述相应列内的校准位置相对于参考平面的高度在垂直于所述参考平面的高度方向上有所变化，并且其中，对于每排，相应排内的校准位置的高度相对于所述参考平面在高度方向上有所变化。

主权项：1.一种用于校准激光三角测量系统的校准工具，其中，所述校准工具包括相对于所述测量系统能绕垂直于参考平面的旋转轴线旋转的工具主体，其中，所述工具主体设置有一个或多个校准表面，所述校准表面限定有校准位置的图案，其中，所述图案包括在径向上远离所述旋转轴线延伸的至少三列和绕所述旋转轴线沿周向延伸的至少三排，其中，对于每列，相应的列内的校准位置相对于所述参考平面的高度在垂直于所述参考平面的高度方向上有所变化，并且其中，对于每排，相应的排内的校准位置的高度相对于所述参考平面在所述高度方向上有所变化。

全文数据：

权利要求：

百度查询： VMI荷兰公司 校准工具和方法

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