申请/专利权人：北京理工大学

申请日：2020-06-12

公开（公告）日：2020-10-20

公开（公告）号：CN111795949A

主分类号：G01N21/47(20060101)

分类号：G01N21/47(20060101);G01J9/02(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.05.31#授权;2020.11.06#实质审查的生效;2020.10.20#公开

摘要：本申请提出一种抗散射成像方法与装置，包括以下步骤：获取散斑图；计算散斑图的自相关信息，对自相关信息进行傅里叶变换后取模值获取原始目标傅里叶域幅值信息；对散斑图进行分块处理得到N张子散斑图，并利用N张子散斑图计算双谱得到双谱相位；其中，N为正整数；根据双谱相位计算原始目标傅里叶域相位的初始估计值，并利用高斯牛顿优化方法对初始估计值进行迭代优化得到高精度傅里叶域相位；根据原始目标傅里叶域幅值信息和高精度傅里叶域相位重建原始目标图像。由此，从单张散斑图即可重建原始目标信息，且幅值和相位恢复过程相互独立，相位恢复精度高，抗噪性强。

主权项：1.一种抗散射成像方法，其特征在于，包括以下步骤：获取散斑图；计算所述散斑图的自相关信息，对所述自相关信息进行傅里叶变换后取模值获取原始目标傅里叶域幅值信息；对所述散斑图进行分块处理得到N张子散斑图，并利用所述N张子散斑图计算双谱得到双谱相位；其中，N为正整数；根据所述双谱相位计算原始目标傅里叶域相位的初始估计值，并利用高斯牛顿优化方法对所述初始估计值进行迭代优化得到高精度傅里叶域相位；根据所述原始目标傅里叶域幅值信息和所述高精度傅里叶域相位重建原始目标图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京理工大学 抗散射成像方法与装置

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