申请/专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

申请日：2020-06-17

公开（公告）日：2020-10-20

公开（公告）号：CN111795799A

主分类号：G01M11/00(20060101)

分类号：G01M11/00(20060101);G06F11/26(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2023.04.25#发明专利申请公布后的驳回;2020.11.06#实质审查的生效;2020.10.20#公开

摘要：本发明提供一种测试方法及装置。其中，测试方法用于对显示面板进行性能测试，显示面板包括至少一个功能单元，每一功能单元对应至少一个性能指标，测试装置中存储有每一性能指标对应的模板数据和测试策略，测试方法包括：确定待测试的功能单元和待测试的性能指标；根据待测试的性能指标，调用对应的模板数据和测试策略；根据待测试的功能单元和测试策略，对模板数据进行测试。本发明通过预先在测试装置中存储显示面板的每一性能指标对应的模板数据和测试策略，在需要对显示面板进行性能测试时，只需根据待测试的性能指标即可获取到对应的模板数据和测试策略，并根据显示面板的待测试的结构和测试策略对模板数据进行测试，准确率高且效率高。

主权项：1.一种测试方法，应用于测试装置中，用于对显示面板进行性能测试，所述显示面板包括至少一个功能单元，每一所述功能单元对应至少一个性能指标，其特征在于，所述测试装置中预先存储有每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略，所述测试方法包括：确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标；根据待测试的所述性能指标，调用对应的所述模板数据和所述测试策略；根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 测试方法及装置

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