申请/专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院

申请日：2020-06-18

公开（公告）日：2020-10-20

公开（公告）号：CN111795802A

主分类号：G01M11/02(20060101)

分类号：G01M11/02(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.02.15#授权;2020.11.06#实质审查的生效;2020.10.20#公开

摘要：光束取样器角度特性测量装置及方法，装置包括按照光路依次设置的激光器、激光处理组件、取样器、激光测量组件，所述取样器和激光测量组件模块通过二维移动平台设置在转盘上，光路位于转盘圆心的正上方。本发明通过转盘改变取样器激光接收角度，在改变过程中保证光路始终经过取样器的中心，从而使得激光测量组件获得的值更加准确，从而获得更加准确的获得角度特性。

主权项：1.光束取样器角度特性测量装置，其特征在于，包括按照光路依次设置的激光器1、激光处理组件、取样器4、激光测量组件，所述取样器4和激光测量组件模块通过二维移动平台设置在转盘9上，光路位于转盘9圆心的正上方。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院合肥物质科学研究院 光束取样器角度特性测量装置及方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD