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【发明公布】一种光学系统自动装调系统及装调方法_中国人民解放军国防科技大学_202010686956.7 

申请/专利权人:中国人民解放军国防科技大学

申请日:2020-07-16

公开(公告)日:2020-10-20

公开(公告)号:CN111796434A

主分类号:G02B27/62(20060101)

分类号:G02B27/62(20060101);G02B7/182(20060101)

优先权:

专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态:2023.10.27#发明专利申请公布后的驳回;2020.11.06#实质审查的生效;2020.10.20#公开

摘要:本发明公开了一种光学系统自动装调系统及装调方法,光学系统包括第一反射光学元件和第二反射光学元件,首先控制检测装置测量获得光学系统的像质数据,并判断获得的像质数据是否满足预设要求,若否则根据获得的像质数据计算获得第一调整量或者第二调整量,并控制第一调整装置根据第一调整量调整第一反射光学元件,或者控制第二调整装置根据第二调整量调整第二反射光学元件,而后再次测量光学系统的像质数据并根据测量结果进行调整,如此循环直到测得光学系统的像质数据满足预设要求。与传统的由人工根据经验对光学系统装调的方式相比,能够实现对两反式光学系统的自动化装调,能够满足对两反式光学系统装调可靠性的要求,能够提高其装调效率。

主权项:1.一种光学系统自动装调系统,其特征在于,应用于的光学系统包括第一反射光学元件和第二反射光学元件;所述光学系统自动装调系统包括控制装置、针对所述光学系统搭建的辅助元件、检测装置、第一调整装置和第二调整装置,所述辅助元件用于基于所述第一反射光学元件和所述第二反射光学元件形成的光路,辅助所述检测装置测量获得所述光学系统的像质数据,所述第一调整装置用于调整所述第一反射光学元件的位置或者姿态,所述第二调整装置用于调整所述第二反射光学元件的位置或者姿态;所述控制装置用于执行以下步骤:步骤S1:控制所述检测装置测量获得所述光学系统的像质数据,并判断获得的像质数据是否满足预设要求,若否则进入步骤S2;步骤S2:根据获得的像质数据计算获得对所述第一反射光学元件进行调整的第一调整量或者获得对所述第二反射光学元件进行调整的第二调整量,并控制所述第一调整装置根据所述第一调整量调整所述第一反射光学元件,或者控制所述第二调整装置根据所述第二调整量调整所述第二反射光学元件,而后进入步骤S1。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国人民解放军国防科技大学 一种光学系统自动装调系统及装调方法

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