申请/专利权人：三星电子株式会社

申请日：2014-09-02

公开（公告）日：2020-10-20

公开（公告）号：CN104422878B

主分类号：G01R31/3177(20060101)

分类号：G01R31/3177(20060101)

优先权：["20130902 KR 10-2013-0104710"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.10.20#授权;2016.10.05#实质审查的生效;2015.03.18#公开

摘要：公开了一种集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置。所述集成电路IC包括：片上逻辑，包括输入端、输出端和在扫描链中连接的多个同步电路；测试数据输入TDI线；测试数据输出TDO线，连接到输出端；测试接入端口TAP控制器，响应于一个或者更多个选择信号，将从多个数据源中的一个输出的数据发送到输入端，其中，所述数据源包括TDI线和输出端。

主权项：1.一种集成电路，包括：片上逻辑，包括输入端、输出端和在输入端与输出端之间的扫描链中连接的多个顺序连接的同步电路；测试数据输入线；测试数据输出线，连接到输出端；测试接入端口控制器，响应于一个或者更多个选择信号，将从包括测试数据输入线和输出端的多个数据源中的一个输出的数据发送到输入端；可编程存储器，存储控制信号；掩膜电路，基于从可编程存储器输出的控制信号控制测试数据输出线和测试数据输出引脚之间的连接，使得：当从可编程存储器输出的控制信号具有第一电平时，从输出端输出的数据经由测试数据输出引脚被输出到所述集成电路的外部；当从可编程存储器输出的控制信号具有第二电平时，从输出端输出的数据不经由测试数据输出引脚被输出到所述集成电路的外部，其中，输出端通过测试数据输出线和掩膜电路连接到测试数据输出引脚。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 三星电子株式会社 集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置

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