申请/专利权人：长沙海格北斗信息技术有限公司

申请日：2020-07-09

公开（公告）日：2020-10-23

公开（公告）号：CN111814415A

主分类号：G06F30/3308(20200101)

分类号：G06F30/3308(20200101);G06F8/41(20180101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.11.10#实质审查的生效;2020.10.23#公开

摘要：本发明公开了一种用于芯片验证的高效回归测试方法，包括建立编译模式队列和仿真用例队列；建立并初始化进程池；采用进程池中的进程并行的执行编译模式队列中的编译任务；采用进程池中的进程并行的执行仿真用例队列中的仿真用例；根据执行结果完成用户芯片验证的高效回归测试。本发明通过并行的执行编译模式队列和仿真用例队列，对仿真用例队列进行仿真参数的简化配置，以及对执行失败的仿真用例再升级仿真参数的方式，使得芯片验证的回归测试过程大大简化，同时也兼顾了异常情况下仿真过程和仿真数据的保存；因此本发明方法的可靠性高、实用性好、占用资源较少且效率较高。

主权项：1.一种用于芯片验证的高效回归测试方法，包括如下步骤：S1.建立编译模式队列和仿真用例队列；S2.建立并初始化进程池；S3.采用进程池中的进程并行的执行编译模式队列中的编译任务；S4.采用进程池中的进程并行的执行仿真用例队列中的仿真用例；S5.根据步骤S4得到的执行结果，完成用户芯片验证的高效回归测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长沙海格北斗信息技术有限公司 用于芯片验证的高效回归测试方法

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