申请/专利权人：惠普发展公司,有限责任合伙企业

申请日：2015-07-30

公开（公告）日：2020-10-23

公开（公告）号：CN107567601B

主分类号：G03G15/045(20060101)

分类号：G03G15/045(20060101);G03G15/043(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.10.23#授权;2018.02.02#实质审查的生效;2018.01.09#公开

摘要：电子照相成像器包括光电导元件、充电器和光源，以将光电导元件的已充电表面的区域曝光以形成潜像。显影元件被相对耦合到光电导元件以经由已充电的标记剂将潜像显影在光电导元件上。在曝光之前将曝光调节因子选择性地应用于潜像的第一可打印区域。

主权项：1.一种电子照相成像器，包括：光电导元件；充电器，用以对光电导元件的表面充电；光源，用以使已充电表面的区域曝光以形成潜像；显影元件，其相对耦合到光电导元件以经由已充电的标记剂将潜像显影在光电导元件上；以及控制器，用以将曝光调节因子选择性地应用于潜像的第一可打印区域，其中曝光调节因子的大小至少基于关于在第一可打印区域之前的潜像的第一评价部分的标记剂转移需求以及基于针对第一评价部分的显影元件的显影状态，其中，标记剂转移需求指示要经由潜像的第一评价部分的显影而转移的标记剂的量，标记剂的量是基于潜像的可打印区域的像素密度参数，并且其中，显影元件的显影状态是基于关于已充电的标记剂的量的显影元件上的位置、以及关于自显影元件上的该位置处的上次显影使用以来的龄期。

全文数据：曝光调节因子背景技术[0001]数字电子照相成像己经彻底改革了文件生产。然而，成像的愈来愈快的处理和愈来愈高的容量继续在在所打印的文件上实现尚质量图像方面提出挑战。附图说明_[0002]图1是示意性地表示根据本公开的一个示例的电子照相成像器的各部分的框图。[0003]图2是示意性地表示根据本公开的一个示例的电子照相成像器的侧视图。[0004]图3是示意性地表示根据本公开的一个示例的电子照相成像器的转移站的部分侧视图。[0005]图4是示意性地表示根据本公开的一个示例的相对耦合到光电导带的显影器的侧视图。_[0006]图5A是示意性地表示根据本公开的一个示例的图像映射maP和显影映射阵列的图示。[0007]图5B是示意性地表示根据本公开的一个不例的显影器存储器的框图。[0008]图6A是示意性地表示根据本公开的一个示例的预期的图像部分与显影不足的图像部分的比较的图示。_[0009]图6B是示意性地表示根据本公开的一个不例的显影部分的图示。[0010]图6C是示意性地表示根据本公开的一个示例的预期的图像部分与显影过度的图像部分的比较的图示。_[0011]图7是示意性地表示根据本公开的一个示例的曝光调节管理器的框图。[0012]图8A是示意性地表示根据本公开的一个示例的控制部分的框图。[0013]图8B是示意性地表示根据本公开的一个示例的用户接口的框图。[0014]图9是示意性地表示根据本公开的一个示例的预期的图像部分与显影不足的图像部分的比较的图不。_[0015]图10是示意性地表示根据本公开的一个示例的预期的图像部分与显影不足的图像部分的比较的图示。_[0016]图11是示意性地表示根据本公开的一个示例的制造电子照相成像器的方法的流程图。具体实施方式_[0017]在以下详细描述中，对附图进行参考，^述附图形成本申请的一部分，并且经由图示在所述附图中示出了可以实践本公开的具体示例。要理解，可以利用其它示例并且可以做出结构的或逻辑的改变而不脱离本公开的范^丨。因此，不应在限制性的意义上理解以下详细描述。要理解，可以将在本文中描述的各种不例的特征部分地或整体地彼此组合，除非另外具体指出。_[0018]本公开的至少一些示例提供了通过采用曝光调节因子来执行具有降低的重影效果的电子照相成像。在一些示例中，这样的重影效果指的是图像的一部分在同一图像的其它部分内显现的无意复制。[0019]在一些示例中，曝光调节因子被选择性地应用于潜像的第一可打印区域，其中曝光调节因子的大小至少基于关于在第一可打印区域之前的潜像的第一评价部分的标记剂markingagent转移需求以及基于针对第一评价部分的显影器元件的显影状态。在一些示例中，第一评价部分紧接在第一可打印区域之前。[0020]在一些示例中，术语“标记剂转移需求”指的是要从显影元件转移到光电导元件以经由标记剂实现潜像的预期的显影量的标记剂的绝对或相对量。[0021]在一些示例中，曝光调节因子指的是，除了电子照相成像器根据其正常操作过程进行其曝光计算之外或在电子照相成像器根据其正常操作过程进行其曝光计算之后，有意地增加或减小光电导元件上的潜像的一部分的曝光。在一些示例中，可以经由百分比来表达曝光调节因子的大小，诸如高于根据正常操作过程的给定像素或区域的标称值的曝光中的百分比增加例如1%、2%、3%、4%、5%、10%等），或者低于根据正常操作过程的给定像素或区域的标称值的曝光中的百分比减小例如-1%、-2%、-3%、-4%、-5%、-10%等）。[0022]在一些示例中，术语“第一”不一定指的是整个潜像的可打印部分的初始实例或整个潜像的评价部分的第一实例，而是相反地，术语“第一”指的是潜像内的可能对其应用调节的感兴趣部分。在一些实例中，贯穿本公开可以可互换地使用术语“部分”和“区域”，而不意指这两个术语之间的任何实质性差异。[0023]在一些示例中，潜像的第一评价部分包括潜像的第二可打印区域，并且标记剂转移需求至少指示第二可打印区域相对于阈值的像素密度。[0024]在一些示例中，潜像的第一评价部分包括潜像的非可打印区域，其还对应于显影元件的尚未用于显影达延长的时间段的至少一个部分。在一些示例中，这样的延长的无显影被表达为显影元件的发生无显影的数个显影循环。[0025]在一些示例中，在经由光源使光电导元件曝光之前，选择性地应用曝光调节因子以增加曝光的量（即引起过度曝光），以由此增加图像的原本会由于相对标记剂转移需求和或显影器元件的至少一些部分的相对显影状态而显影不足的部分的显影程度。[0026]在一些示例中，在经由光源使光电导元件曝光之前，选择性地应用曝光调节因子以减小曝光的量来减小图像的预计在目标范围内显影的部分的显影程度（g卩，以便显影不足），这继而提供总体补偿模式来补偿图像的由于相对标记剂转移需求和或显影元件的至少一些部分的相对显影状态而预计要被显影不足的部分。[0027]在一些示例中，采用先前描述的示例二者的组合来最小化无意的显影不足和或重影效果。例如，将故意使图像的预计要被显影不足的一些部分过度曝光，并且将故意使同一图像的预计正常显影的一些部分曝光不足。[0028]在一些示例中，是否要应用曝光调节因子的决定和曝光调节因子的大小至少部分地基于第一可打印区域和后续可打印区域的标记剂转移需求之间的差异。[0029]在一些示例中，执行曝光调节因子的采用，而不另外更改在页间间隙间隔期间显影器和或光电导元件的偏置电压，这将另外导致浪费的标记剂和增加的操作成本。另外，在光电导元件的页间间隙间隔相对小的布置中，可能成功地执行依据本公开的一些示例的）曝光调节因子的选择性应用，然而不充足的时间可能不可用于尝试经由通过更改显影元件和或光电导元件的偏置电压来清除过量的标记剂的校正。[0030]在一些示例中，曝光调节因子的采用可以计及和最小化过量的标记剂充电charging和或无意的充电不足的现象，而不管其可能发生在要打印的图像上的何处。例如，曝光调节因子的选择性应用可以最小化打印图像的中部中的无意的显影不足和或重影，并且不限于最小化在打印页面的开始处的无意的显影不足。[0031]贯穿本公开与至少图1-11相关联地描述了这些示例和另外的示例。[0032]图1是示意性地表示根据本公开的一个示例的经由电子照相成像器10的至少一些部分的成像的图示。如图1中所示，成像器10的控制器20使用图像信息来引导光源22使潜像的图案曝光到已充电的光电导元件30上，所述光电导元件30经由充电器34充电。虽然为了图示简单而未被示出，但是将理解，控制器20还可以引导充电器34、光电导元件30和显影元件33的操作和或与它们合作。[0033]显影元件33被相对耦合到光电导元件30以将潜像显影到显影图像中以用于稍后转移到介质上。然而，在将图像写入到光电导元件30上之前，经由控制器20,成像器10采用选择性的曝光调节因子24来修改光源22使已充电的光电导元件30的选择部分曝光到的程度。在一些示例中，该修改的位置和大小至少部分地基于显影元件33的至少一些部分尚未被显影达时间段的程度和或基于图像相关的标记剂转移需求。在一些示例中，当与术语“标记剂转移需求”相关联地使用时，术语“图像相关的”意味着意图要转移从显影元件转移到光电导元件）的标记剂的绝对或相对量取决于正被显影的特定图像或图像的部分）。稍后与至少图5A-11相关联地进一步描述关于该布置的其它细节。[0034]图2是包括示意性地表示根据本公开的一个示例的电子照相成像器21的侧视图的图示。在一个示例中，成像器21包括成像器10图1的基本上相同的特征和属性中的至少一些，其中类似的参考标号指代类似的元件。[0035]如图2中所示，成像器21的一个示例包括光源22、光电导元件30例如光电导滚筒）和介质辊42。另外，成像器21包括充电器34和具有显影元件33的显影器32。在一些示例中，显影器元件33不断地提供重复的显影循环。在一些示例中，显影元件33包括显影辊。在一个方面中，光电导元件30包括外部电子照相表面或板31，而介质辊42包括覆盖层45。在一些示例中，表面或板31包括有机光电导体0PC。[0036]在一些示例中，成像器21包括控制部分28，其用以引导成像器21的一般操作和或实现图1的曝光调节因子24。在一些示例中，控制部分28包括如稍后与至少图8A相关联地描述的控制部分380的特征和属性中的至少一些。[0037]虽然未在图1中示出，但是在一些示例中，成像器21可以另外包括过量的“标记剂”收集机构、清理器、另外的辊等。下面是成像器21的操作的简要描述。[0038]在接收图像的准备中，如在图2中进一步所示，光电导元件30从充电站34例如，充电辊或栅控电晕器scorotron接收电荷以便在光电导元件30的电子照相表面31上产生均匀充电的表面。接下来，随着光电导元件30旋转如由有向箭头A表示的那样），光源22经由射束23将图像投影到光电导元件30的表面31上，这对光电导元件30的与图像对应的部分放电并且从而形成潜像。经由显影元件33利用标记剂诸如但不限于调色剂使这些已放电的部分显影以产生“标记剂”图像。随着光电导元件30继续旋转，标记剂图像穿过光电导元件30与介质棍42之间的压力親隙pressurenip40A转移到介质It。[0039]虽然未在图2中示出，但是要理解，在一些示例中，介质辊42也充当介质供应，其中介质M环绕着介质辊42的滚筒43以形成介质辊42的外部部分45。在一些示例中，介质辊42在介质M穿过压力辊隙40A时将介质M可释放地固定到介质辊42的表面，使得介质M在压力辊隙40A处环绕着介质辊42。[0040]在一个方面中，显影元件33经由在打印过程期间一般连续的摩擦起电过程通过摩擦使标记剂电力地充电。在一些实例中，如果使显影元件33循环例如使辊旋转达相对长的时间段而没有显影潜像，则在显影元件33处的显影器32内的标记剂可能变得被过度充电，这使得难以将分布在显影元件33的表面上的）标记剂显影或转移到光电导元件30上。该行为继而使得在光电导元件30上形成的初始标记剂图像在外观上比所期望的更浅。换言之，初始标记剂图像显影不足。在已将区域初始显影在光电导元件30上之后，在显影元件33处可用的后续标记剂具有更低的电荷量并且因此更易于显影（即转移到光电导元件30上，使得光电导元件30上的后续显影的区域显得更深，即它们显影得更接近于预期暗度。该显影不足的效果可能在显影元件33的部分在没有标记剂显影的情况下长时间连续运行之后在打印页上的任何地方发生，这继而允许显影元件33上的标记剂变得过度充电。此外，在过度充电的标记剂的初始消耗之后，过度充电的效果随着显影元件33循环而以线性方式再次累积，直到显影元件33的部分被再次用于显影。在本公开的克服该现象的至少一些示例的上下文中与至少图6A和9-10相关联地图示了该现象的至少一些方面。[0041]在一些实例中，在针对潜像的相对高的像素密度区将相对高的对标记剂转移的需求（即标记剂转移需求置于显影元件33上时，显影元件33上的标记剂的相对电荷量变得显著降低，使得标记剂可以被认为是充电不足的。在该充电不足的标记剂条件的情况下，在执行潜像的继高密度像素区之后的各部分的显影时，后续部分可能由于过量的标记剂转移到光电导元件上而显影过度。在本公开的克服该现象的至少一些示例的上下文中与至少图6C相关联地图示了该现象的至少一些方面。[0042]图3是包括根据本公开的一个示例的电子照相成像器50的一部分的侧视图的图示。在一个示例中，成像器50包括成像器21图2的基本上相同的特征和属性，除了另外包括在光电导元件30与介质辊42之间插入的转移辊52之外。如在在先示例中，在光电导元件30的表面31上形成标记剂图像。随着光电导元件30继续旋转，经显影的标记剂图像被转移到旋转的转移辊52的电气偏置的覆盖层54上。（如由有向箭头B表示的）转移辊50的旋转继而将经显影的标记剂图像穿过转移辊50与介质辊似之间的压力辊隙62转移到介质M上。[0043]图4是示意性地表示根据本公开的一个示例的电子照相成像器H的一部分的侧视图。成像器71包括比如成像器21图2或成像器50图3之类的特征和属性，除了包括光电导带70而不是如在图2-3中的）圆柱形的光电导元件3〇之外，其中显影元件33例如一些实例中的親被相对耦合到光电导带70。[0044]图5A是示意性地表示根据本公开的一个示例的包括可打印部分P和非可打印NP部分105的图像105与显影映射162A_162K的对应阵列16〇的并置的图示100。每个相应映射162A-162K表示随着显影元件33在成像过程期间不断地循环而在显影元件33的单个循环时可用的显影表面。在一些示例中，当显影元件33包括辊时，每个循环对应于一回转。[0045]在一个示例中，将通过采用图1-4的电子照相成像器中的一个将图像1〇5形成到介质上。L〇〇46]将理解，图像i〇5可以包括可打印P部分和非可打印NP部分的许多不同组合和配置，并且因此图5A中的图像105仅提供许多示例配置中的一个。[0047]在图5A中示出的示例中，图像1〇5包括邻近列1〇2、1〇3、11〇和12〇，宜中至少一些列具有不同的宽度。'—[°048]列102包括延伸贯穿列1〇2的全长的打印区域P，而列103包括显著范围的非打印部分104,其然后接着是打印部分1〇6。列110包括打印部分n2、非打印部分114和打印部分lie。在一个方面中，各打印和非打印部分并没有被严格限制成矩形形状，而是可以具有任何期望的形状或尺寸。类似地，列120包括多个打印部分122、126、140和插入在其中的非打印部分124、130。[0049]仅作为一个例证性示例，列120的各打印和非打印部分沿着介质在成像过程期间行进的方向连续地布置。[0050]如可以从图5A看到的，图像105的大部分包括打印部分与非打印部分之间的频繁变化。然而，可以从图5A中看到，列103在打印部分106出现之前包括相对长的一段非打印部分104。如稍后将进一步描述的，该模式可导致打印部分106的显影不足并且将适合于依照本公开的至少一些示例的曝光调节因子图1中的21的应用。[0051]经由图像105相对于映射162A-162K的阵列160的并置，图5A的图示1〇〇展示了图像105的各种打印⑻部分、非打印（NP部分相对于显影元件33的重复循环之间的对应。在一些示例中，显影元件33具有至少等于图像105的宽度W1的宽度W2，如在图5A中表示的那样。在一些示例中，光电导元件3〇的宽度至少等于或大于图像105的宽度W1和或显影元件33的宽度W2。[0052]在图5A中示出的特定示例中，图像105可以与标准美国信件尺寸8.5〃xll〃）文件对应，并且显影元件33可以被定尺寸成使得帮助产生全图像105将耗费显影元件33的11个循环。相应地，针对诸如列1〇3之类的图像1〇5的一部分，将在光电导元件30上在没有标记剂显影的情况下发生显影元件33的显著数目（例如7个循环。在缺少依照本公开的示例的曝光调节因子的情况下，无意的显影不足和或重影可能由这样的情形引起，如稍后与至少图6A和9-10相关联地进一步描述的那样。[0053]在本公开的至少一些示例中，每个相应的映射162A-162K与显影元件33的一个循环的表面积对应，并且每个映射被用来跟踪相对于显影元件33的显影状态的图像1〇5的像素。如先前指出的，在一些示例中，显影元件33具有大致为打印图像105的111的表面积。出于映射显影元件33的过度充电的标记剂驻留于其处的区域的目的，在一些示例中，采用75dpix75dpi的分辨率。假设每“显影元件像素”使用4位，则32k字节存储器缓冲器将足以映射显影元件33,以便保持对具有过度充电的标记剂或具有充电不足的标记剂的区域的跟踪。相应地，通过一次一个循环地跟踪显影元件33上的像素，可以采用相对小且可管理的存储器缓冲器来跟踪显影元件33上的过度充电的标记剂或充电不足的标记剂。[0054]在一些示例中，存储器缓冲器驻留在显影器存储器170中，如图5B中所示。在一些示例中，显影器存储器170形成图8A中的存储器384的部分或者一般形成图8A中的控制部分382的部分。然而，在一些示例中，图5B中的显影器存储器170与存储器384图8A分离且无关，但是显影器存储器170可以与存储器384通信或一般与控制部分382图8A通信。[0055]相比之下，整个图像105例如光栅图像）的全灰度级位映射将涉及到大得多的存储器源来跟踪关于过度充电的标记剂的像素。例如，针对利用每YMCK像素8位以1200dpix600dpi打印分辨率的测量8.5〃xll〃的图像，存储器源将是每页254M字节（例如64M字节颜色。[0056]相应地，通过经由与显影元件33的物理尺寸对应的像素来跟踪已充电的标记剂，可以采用比原本在针对给定的全尺寸图像发生“已充电的标记剂”像素跟踪的情况下将涉及到的存储器小得多的存储器。[0057]在一些示例中，图像105大于或小于美国信件尺寸文件和或显影元件33具有不同于图像105的111的表面积。相应地，当显影元件：33包括辊时，其可以具有不同于一英寸的周长。[0058]图6A是;^意性地表不根据本公开的一个示例的预期的显影图像的部分182A与显影不足的图像的部分182B的比较的图示18〇。在一个方面中，显影不足的图像部分i82B与图像在缺少经由本公开的示例的曝光调节的情况下的显影和打印的外观相对应。在另一方面中，当应用曝光调节时，实际上显影的图像与预期的图像部分182A对应。[0059]在一些示例中，部分182A与诸如但不限于全宽页图像之类的较大图像的列或细长部分对应。在一个这样的示例中，部分182A与图5中的图像105中的列103对应。在一些示例中，部分18M包括一些数目的n个非打印段184A，其中的至少一些由高像素密度打印区186A接替。在一些示例中，非打印段184A中的至少一些立即由高像素密度打印区186A接替。[0060]在一些示例中，每个段184A的高度H2与针对显影元件33的一个循环的表面对应，其由图5A中的H1或图6B中的H1表示。当将出现充足数目的n个）非打印段184A时，那么显影元件33将经历尚未被显影的若干对应循环例如，辊的回转），如由显影映射162H中的无显影部分184C所表不的，如在图6B的图示195中所示。[0061]在一些示例中，在段18M之前的至少最后的非打印段184A包括第一评价部分。在一些实例中，其被称为第一评价部分，因为可以关于标记剂转移需求和或与第一评价部分对应的显影元件的显影部分的显影状态来对其进行评价。在一些实例中，使用关于第一评价部分的该信息来确定是否要将曝光调节因子应用于在第一评价部分之后的第一可打印区域例如打印段188A以及曝光调节因子的大小。在一些示例中，第一可打印区域紧接在第一评价部分之后。如先前指出的，在一些示例中，曝光调节因子的大小被表达或实现为相对于按照正常操作过程的标称目标曝光的）增加的曝光的百分比（例如丨％、2%、5%、10%等），以补偿潜像的特定部分的预计的显影不足。[0062]在一些实例中，可以将非打印段184A视为具有零像素密度、以及因而的零标记剂转移需求的区域。[0063]在延长的无显影的该场景中，如果实际上在没有利用曝光调节的情况下打印了预期的图像部分182A，则图6A中的部分182B将导致高像素密度区18仙的段188B、189B由于由部分184C的无显影的延长时段产生的显影元件33上的摩擦电荷的过度累积而显影不足。无显影的延长时段与（匹配非打印段184A的）一系列非打印段184B对应。该情形导致较少的标记剂被显影到光电导兀件30图1-4上，使得图像部分182B的段188B显影不足，如由交叉影线所表示的那样。在一些示例中，应用曝光调节因子的决定是基于预计的显影不足，其是相对于在正常操作条件下的目标显影量的百分比（例如5%、10%、2〇%等），其中该百分比可由操作者或自动地经由控制部分例如图2中的28或图8A中的380来选择。[0064]如由图6A中的相对较密集的交叉影线所表示的，段189B表示显影元件33的该部分184C的后续循环，并且仍然展现预期的图像部分182A的）预期的高像素密度区186A的一定程度的显影不足。然而，该后续显影的段189B展现比初始显影的段188B更好的显影，因为显影元件33上的一些量的过度充电的标记剂已经由段188B的显影而去除。最后，通过显影元件33的下一循环，打印部分190B展现预期的全显影，如通过没有交叉影线所表示的。该行为提供如下指示:显影元件33的所述部分已经朝向关于由显影元件33承载的已充电的标记剂的量的正常操作范围返回，因为到光电导元件30上的显影现在正在针对显影元件33的该部分足够频繁地发生。[0065]虽然未在图6A中示出，但是在一些实例中，另外的显影不足的段可能发生在继段188B、189B之后的显影不足的图像部分182B中。[0066]在一些示例中，在图像部分182B中仅存在一个显影不足的段188B，而没有第二个显影不足的段189B。该情形可能出现在显影辊33的一部分例如部分184C的无显影不那么严重的情况下和或预期的图像部分182A的高像素密度区186A较不密集的情况下。[0067]将理解，在至少一些示例中，高像素密度区由于那些区中的相对高的电荷程度而在该现象中被涉及到，这继而将较高的需求置于来自显影元件33的已充电的标记剂上。[0068]在一些示例中，图像的可打印部分的相对像素密度指的是比潜像的标称像素密度相对更高或更低的像素密度。[0069]本公开的至少一些示例经由在预期的图像部分182A在光电导元件30上的曝光之前向预期的图像部分182A选择性地应用曝光调节因子24图1而克服了将由显影不足的部分182B展现的现象。特别地，在控制部分（图2中的28或图7中的380确定了显影元件33的至少一部分184C的无显影己经超过与图7-8B相关联地进一步描述的）阈值时，那么实现曝光调节因子24以为（与显影元件33的延长的无显影部分184C图6B对应的）最后的非打印区184A之后的至少第一段188A调节曝光。在一些示例中，第一段18從紧接在最后的非打印区184A之后。[0070]当根据本公开的至少一些示例实现这样的曝光调节时，那么避免了显影不足的打印段188B、189B，并且代之以实现了预期的图像部分182A，其中高像素密度区186A的段188A、189A将展现它们的预计外观或其合理地接近的近似。[0071]与图7的曝光调节管理器3〇0相关联地描述了关于实现该调节的方式的其它细节。[0072]图6C是示意性地表示根据本公开的一个示例的预期的显影图像部分252A与显影过度的图像部分252B的比较的图示250。在一个方面中，显影过度的图像部分252B与图像在缺少经由本公开的示例的曝光调节的情况下的显影和打印的外观对应。在另一方面中，当应用曝光调节时，实际上显影的图像与预期的图像部分252A对应。[0073]在一些示例中，部分252A与诸如但不限于全宽页图像之类的较大图像的列例如，细长部分对应。在一个这样的示例中，部分252A与图5中的图像105中的列中的一个对应。部分2MA包括可打印段254六、26说、2694、27^，其中段2684包括至少一个高像素密度打印部分256A，其继而包括由非打印部分258A围绕的星星部分257A。在一些示例中，每个段268A、269A、270A等的高度H2与针对显影元件33的一个循环的表面184C对应，其由图5A中的H1或图6B中的H1表示。被标记为28〇A的区域表示正常打印操作的一般继续，其中既没有显影不足也没有显影过度发生。~[0074]在该场景中，如果实际上在不利用曝光调节的情况下打印了预期的图像部分252A，则图6C中的部分252B将导致星星部分257B和围绕的非打印部分258B将具有与星星部分257A和围绕的非打印部分258A相同的外观。如图6C中进一步所示，显影过度的图像部分252B也将包括段269B，其由于由针对高像素密度段256B的高标记剂转移需求的在前显影产生的显影元件33的充电不足而显影过度。在一些示例中，高像素密度段256B的显影紧接在段269B之前。[0075]在一些示例中，至少268A包括第一评价部分。在一些实例中，其被称为第一评价部分，因为可以关于标记剂转移需求和或与第一评价部分对应的显影元件的显影部分的显影状态对其进行评价。在一些实例中，使用关于第一评价部分的该信息来确定是否要将曝光调节因子应用于之后的段269A例如第一可打印区）以及曝光调节因子的大小。[0076]在图6C中图示的涉及到段％9A接在高像素密度段％8A之后的情形导致更多标记剂被显影到光电导元件3〇图1-4上，使得图像部分25¾的段269B由于充电不足而无意地显影过度，如由至少星星部分267B和一般部分266B的如与例如针对段254B或280B的较浅的交叉影线相比较深的交叉影线所表示的。利用与段254B和或段270B相同的交叉影线示出星星周围的部分268B来表示既没有显影不足也没有显影过度。[0077]虽然未在图6C中示出，但是将理解，在一些示例中，继段269B之后的至少一个段27〇B可能仍然展现预期的图像部分25M的部分270A的一定程度的显影过度。然而，该后续显影的段270B将可能展现比初始显影的段269B更好的显影，因为显影元件33上的一些量的预期程度的已充电标记剂将可能已经恢复。[0078]假设仅一个段269B展现显影过度，则诸如段270B之类的后续段可能展现预期的显影，如由针对段254B、270B等示出的标称程度的交叉影线所表示的那样。该行为提供如下指示:显影元件33的所述部分已经朝向关于由显影元件33承载的己充电的标记剂的量的正常操作范围返回。[0079]虽然未在图6C中示出，但是在一些实例中，另外的显影过度的段可能发生在继段269B之后的显影过度的图像部分252B中。[0080]将理解，在至少一些示例中，高像素密度区由于在那些区中用于显影的相对高程度的电荷而在该现象中被涉及到，这继而将较高的需求置于来自显影元件33的已充电标记剂上。[0081]本公开的至少一些示例经由在预期的图像部分252A在光电导元件30上的曝光之前向预期的图像部分252A选择性地应用曝光调节因子24图1而克服了将由显影过度的部分252B展现的现象。特别地，在控制部分（图2中的28或图7中的380确定了针对部分的标记剂转移需求可能超过与图7_8B相关联地进一步描述的）阈值时，那么实现曝光调节因子24以为段268A的最后的高像素密度区256A、257A之后的至少第一段269A调节曝光。在一些示例中，第一段269A紧接在段268A的最后的高像素密度区256A、257A之后。[0082]当根据本公开的至少一些示例实现这样的曝光调节时，那么避免了显影过度的打印段252B，并且代之以实现了预期的图像部分252A，其中高像素密度段268A之后的段269A将展现它们的预计外观或其合理地接近的近似。[0083]与图7的曝光调节管理器300相关联地描述了关于实现该调节的方式的其它细节。[0084]图7是根据本公开的一个示例的曝光调节管理器300的框图，而图8A是根据本公开的一个示例的控制部分380的框图。[0085]概括地，曝光调节管理器300操作以在显影之前提供对光电导元件（图2中的30的曝光的选择性调节以抵消由于显影元件图2中的33上的过度的电荷累积而可能发生的预计的显影不足，所述过度的电荷积累是由于显影元件33的（多个特定区域中的延长的无显影。[0086]如图7中所示，在一些示例中，曝光调节管理器300包括图像映射模块310、显影映射模块33〇和调节因子模块350。[0087]在一些示例中，概括地，图像映射模块310提供要显影和打印的图像的映射。如图7中所示，在一些示例中，图像映射模块310包括打印参数312、非打印参数314、尺寸参数316、形状参数318、类型参数320、像素密度参数322和暗度参数324。打印参数312标识和跟踪图像的可打印部分，而非打印参数314标识和跟踪图像的非可打印部分即没有发生打印的区域）。尺寸参数316、形状参数318和类型参数320标识和跟踪可打印部分或非可打印部分的尺寸、形状和类型。像素密度参数322跟踪每个可打印部分的像素密度，而暗度参数324跟踪每个可打印部分的暗度例如灰度级别）。在一些示例中，像素密度参数322与图像的逐像素分析相关联，以便确定是否应该应用曝光调节因子，如稍后进一步详细地描述的。[0088]在一些示例中，图像映射模块310包括标记剂转移需求因子325以确定和或指示针对预期图像的特定部分的标记剂转移需求的相对程度。例如，高像素密度区可能在要在显影元件33的给定循环内从显影元件33经由显影转移的标记剂的量上放置相对高的需求。在一些示例中，标记剂转移需求因子325与像素密度参数324相关联和或利用像素密度参数324来做出其确定。[0089]在一些示例中，经由参数316、318、320，用户可以确定要跟踪的可打印部分和非可打印部分的尺寸、形状和或类型。在一些示例中，基于像素密度参数322和或暗度参数324自动地确定可打印部分和非可打印部分的尺寸、形状和或类型。[0090]在一些示例中，显影映射模块330—般操作以确定在连续的成像过程期间在显影元件33上的标记剂电荷的相对程度，其一般与到光电导元件30上的已充电标记剂的显影的相对程度对应。[0091]如图7中所示，在一些示例中，显影映射模块33〇包括状态函数332、尺寸参数340和形状参数342。状态函数332跟踪显影元件33的给定部分的显影状态。在一些示例中，状态函数3幻包括位置参数3M和龄期age参数336。位置参数334标识关于相对显影的状态（即，存在的已充电标记剂的量的显影元件33上的位置，而龄期参数336跟踪自显影元件33的在特定位置处根据参数3：34的部分被最后用来将标记剂显影到光电导元件30上以来的龄期例如，循环的数目或消逝的时间）。[0092]在一些示例中，显影映射模块330包括标记剂可转移性参数344以确定和或指示可以以在目标操作范围内的量或速率转移例如在光电导元件30上显影标记剂的程度。在一些示例中，标记剂可转移性参数344至少部分地基于已充电的标记剂的可用量，以及其跨显影元件33的表面的电荷程度。相应地，在一些示例中，标记剂可转移性参数344可以充当显影元件33上的标记剂的相对充电过度或相对充电不足的指示符。在一些示例中，可以相对于至少显影元件33的目标操作范围来评价标记剂可转移性参数344的值。[0093]在一些示例中，概括地，调节因子模块350操作以确定和实现在向光电导元件30的光源22的）曝光程度方面的调节以补偿可能是由于针对显影元件33图1-2的一些部分的延长时段的无显影的相对充电过度的标记剂，或者以补偿可能是由于最近的高标记剂转移需求的显影元件33上的相对充电不足的标记剂。[0094]如图7中所示，在一些示例中，调节因子模块350包括初始显影参数352、后续显影参数354、图像阈值参数360和显影阈值参数362。在一些示例中，调节因子模块350包括再充电间隔参数364和再充电速率参数366。在一些不例中，调节因子検块350包括逐像素分析参数370。[0095]在一些示例中，初始显影参数352存储与针对可打印段发生的曝光调节的相对程度对应的值，所述可打印段要在针对显影元件33的特定部分的显影元件33的延长时段的无显影之后如在图6A的示例中那样或者在高密度像素区之后如图6C的示例中那样被初始显影。[0096]同时，后续显影参数354存储与针对在初始可打印段之后的（多个每个后续可打印段发生的曝光调节的相对程度对应的值。在一些示例中，按照后续显影参数354的曝光调节的所存储的值一般小于按照初始显影参数352的曝光调节的值，并且在一些实例中，按照后续显影参数354的曝光调节的所存储的值可以被表达为分数。[0097]在一些示例中，（按照后续显影参数354的）曝光调节的值针对每个后续显影在大小上减小。[0098]在一些示例中，至少一些后续曝光调节在大小上大于初始曝光调节。[0099]在一些示例中，后续显影参数354包括恒定参数356和可变参数358。恒定参数356维持对后续显影实例的曝光调节的恒定大小，而不管多少后续显影实例跟随在初始显影实例之后。可变参数358改变曝光调节的大小以随显影的每个接替的后续实例在大小上减小。在一些示例中，可变参数358根据曝光调节将应用于后续显影实例的次数例如2、3、4等）的限制来进行操作。[0100]在一些示例中，图像阈值参数360提供用以选择和跟踪像素密度的阈值参数322的机制，曝光调节因子的应用将针对所述阈值来触发。特别地，随着准备图像用于到光电导元件30上的曝光，将确定在图像的给定区域中将是什么像素密度，并且如果预期的像素密度超过阈值以及如果其它条件证实了（例如显影元件的显影状态），则应用曝光调节因子。相反，当特定区中的图像的预期像素密度小于阈值时，那么不应用曝光调节因子。[0101]将理解，在一些示例中，至少采用关于图像的尺寸和或形状参数316、318来确定向其应用按照参数360的图像阈值的区的尺寸和或形状。[0102]在一些示例中，显影阈值参数360提供用以选择和跟踪显影元件33的部分的无显影的阈值参数362的机制，曝光调节因子的应用将针对所述阈值来触发。特别地，在一些示例中，随着准备图像用于到光电导元件30上的曝光，针对图像的任何高像素密度区超过按照参数360的图像阈值的那些确定显影元件33的部分的显影状态，并且如果所确定的显影状态超过按照参数362的阈值，则应用曝光调节因子。相反，在一些示例中，当特定区中的显影元件33的所确定的显影状态小于阈值362,则不应用曝光调节因子，而不管图像的对应部分是否具有高像素密度。[0103]将理解，在一些示例中，至少采用关于无显影的区域的尺寸和或形状参数340、342来确定显影阈值参数362可以应用于的区的尺寸和或形状。将进一步理解，在一些示例中，至少采用关于充电不足的标记剂的区域的尺寸和或形状参数来确定显影阈值参数362可以应用于的区的尺寸和或形状。[0104]在一些示例中，显影阈值参数362采用至少部分地基于显影元件33的循环数的阈值，针对其显影元件33的至少一个部分已经发生了无显影。在一些示例中，循环数与按照状态函数332的显影状态的龄期参数336相关联或相关。[0105]在一些示例中，显影阈值参数362采用至少部分地基于显影元件33上的可测量的电荷场或自（显影元件33的特定的感兴趣区中的最后显影以来消逝的时间的阈值。[0106]在一些示例中，是否应用曝光调节因子将取决于再充电间隔参数364和或再充电速率366图7，其可以形成曝光调节模块350的部分。再充电间隔参数364跟踪显影元件33被再充电的间隔例如多久一次）。特别地，在一些示例中，在再充电间隔足够低或小于间隔阈值的情形中，那么由于显影元件33的延长的无显影而造成的重影和或无意的显影不足可能将不会发生。因此，在这些情形中，将不应用曝光调节因子。然而，在一些示例中，在再充电间隔足够高到超过阈值以产生这样的显影不足和或重影将更可能发生的情形的情况下，那么将应用曝光调节因子。[0107]在一些示例中，关于再充电速率和或再充电间隔的信息可以影响显影过度是否可能在预期图像的高像素密度区之后发生，并且因此可以至少部分地确定是否可以应用选择性的曝光调节因子。[0108]再充电速率参数364跟踪每当该再充电发生时显影元件33被再充电的速度例如多快）。特别地，在再充电速率足够低或小于速率阈值的情形中，那么由于显影元件33的延长的无显影而造成的重影和或无意的显影不足可能将不会发生。因此，在这些情形中，将不应用曝光调节因子。然而，在再充电速率足够高到超过阈值以产生这样的显影不足和或重影将更可能发生的情形的情况下，那么将应用曝光调节因子。[0109]在一些示例中，再充电间隔参数364和或再充电速率366不经受修改。在一些示例中，可以经由曝光调节管理器300来修改这些参数364、366,以便至少部分地控制或补偿潜在的显影不足和或重影问题。[0110]考虑到曝光调节管理器300的操作的至少一些一般方面，将描述实现曝光调节因子的更具体的示例。在一些示例中，经由按照如图7中所示的逐像素参数370的逐像素分析来进行关于曝光调节因子的应用的决定。[0111]出于例证性目的，一些示例将被关于与显影元件的至少一些部分的延长的无显影相关的显影不足以及显影元件33上的标记剂的相关联的充电过度来描述。然而，将理解，可以将基本上相同的原理中的至少一些应用于关于显影过度的一些示例，所述显影过度是由于与由预期图像的高像素密度区迫使的高标记剂转移需求相关的显影元件33上的充电不足的标记剂。[0112]例如，当打印开始时，与光源22相关联的曝光系统使用（在像素帧缓冲器中可用的）图像信息20图1来设置要写入的单个像素的初始曝光。在经由控制部分28释放该像素用于由光源22写入之前，基于与至少显影元件33相关联的显影器存储器170图5B中的信息通过曝光调节因子（图1中的24并且按照图7中的管理器300来缩放像素。在一些示例中，所存储的信息与存在于要被写入的图像的区域中的标记剂上的过多电荷的状态对应。[0113]在一些示例中，针对要被写入的像素的曝光调节的大小也至少部分地基于针对每个围绕的像素例如4x4样本的过度充电的标记剂的值。在一些示例中，取决于是实心区域像素形成其部分被曝光、单个像素被曝光还是半色调区域被曝光来进行不同的大小调节。在经由图2中的控制部分28释放要被写入的像素以由光源22写入之后，更新与“显影元件”像素区域对应的显影器存储器170图5B以反映在显影元件33的该区域上可用的过度充电的标记剂的减小的量。过程然后在标记剂改变信息被不断地更新的（诸如经由图7中的状态函数332的）显影状态的情况下继续沿页面向下。[0114]将进一步理解，显影元件33上的标记剂的无显影区域拾取辊33的每次旋转上的附加电荷。相应地，在一些示例中，跟踪该现象以增加跟踪显影元件33上的过量电荷水平的准确性，并且从而增加曝光调节因子的准确性。相应地，在一些示例中，与跟踪显影元件33上的“标记剂电荷”像素相关联的存储器例如图5B中的170计及自区域被最后耗尽过度充电的标记剂以来的显影元件33的循环数。在一些示例中，显影器存储器170图5B采用每像素附加4位，使得采用每“显影元件”像素区域总共8位来导致每显影元件33的64k存储器缓冲器。[0115]将理解，存储器尺寸的这些示例是例证性的而非限制性的，因为存储器尺寸可以取决于显影元件33的尺寸和或形状以及其它因子。[0116]在至少一些示例采用逐像素的曝光调节的情况下，可以贯穿在图像的形成期间的打印过程而不是仅发生在图像的开始处的打印过程不断地解决由于显影元件33上的过度充电的标记剂而造成的图像部分例如图6A中的段188B的显影不足的现象。相应地，可以在页面的顶部与底部之间的页面的任何部分内做出调节。[0117]此外，在一个方面中，本公开的至少一些示例可以最小化显影不足和或后续的重影而不会不必要地浪费标记剂，如原本将会在清理到打印作业的每个页面的页间间隙中的过度充电的标记剂时发生的那样。[0118]相应地，本公开的至少一些示例可以通过节省标记剂而为消费者降低操作成本。此外，通过节制这样的清理活动，本公开的至少一些示例可以使得能够使用小得多的页间间隙，这继而允许在不加速实际的纸速或电子照相成像过程组件中的任何的速度的情况下的较高的有效打印速度。这继而可以延长电子照相成像系统的所有机电零件的寿命。[0119]另外，通过使得能够使用较小的页间间隙，本公开解决方案的至少一些示例可以减小在以较高的有效打印速度进行打印时涉及到的能量消耗，因为每个页面之间的物理空间对于给定打印速度而言是较小的。另外，较小的“空闲”时间发生在打印过程在操作中但没有东西被打印在页面上的情形中。[0120]在至少一些示例采用逐像素的曝光调节的情况下，可以贯穿在图像的形成期间的打印过程而不是仅发生在图像的开始处的打印过程不断地解决由于显影元件33上的充电不足的标记剂而造成的图像部分（例如图6C中的段269B的显影过度的现象。相应地，可以在页面的顶部与底部之间的页面的任何部分内做出调节。此外，在一个方面中，本公开的至少一些示例可以最小化显影过度和或后续的重影。[0121]图8A是示意性地图示出根据本公开的一个示例的控制部分380的框图。在一些示例中，控制部分380包括控制器382和存储器384。在一些示例中，控制部分380提供图2中的成像器21的控制部分28的一个示例实现。[0122]概括地，控制部分380的控制器382包括至少一个处理器383和相关联的存储器。控制器382可电耦合到存储器384并且与存储器384通信以生成控制信号来引导贯穿本公开描述的系统的至少一些组件、组件和模块的操作。在一些示例中，这些生成的控制信号包括但不限于采用存储在存储器384中的曝光调节管理器385来以本公开的至少一些示例中描述的方式针对电子照相成像器管理无意的显影不足、无意的显影过度和或相关重影。将进一步理解，还可以采用控制部分380或另一控制部分来操作电子照相成像器的一般功能。在一些示例中，曝光调节管理器385包括与曝光调节管理器300基本上相同的特征中的至少一些，如先前与至少图7相关联地描述的那样。[0123]响应于或基于经由用户接口（例如图8B中的用户接口386和或经由机器可读指令所接收的命令，控制器382生成控制信号来依照本公开的先前描述的示例和或稍后描述的示例中的至少一些实现曝光调节因子。在一些示例中，控制器382被具体化在通用计算机中，而在其它示例中，控制器382被具体化在一般地或结合到贯穿本公开描述的组件中的至少一些诸如控制部分28图2中或与它们相关联的电子照相成像器图1中的10;图2中的21中。[0124]出于本申请的目的，关于控制器382,术语“处理器”将意味着执行包含在存储器中的机器可读指令序列的目前开发或将来开发的处理器或处理资源）。在一些示例中，机器可读指令序列（诸如经由控制部分380的存储器384所提供的那些）的执行使得处理器实行动作，诸如操作控制器382以实现曝光调节因子，如在本公开的至少一些示例中（或与在本公开的至少一些示例一致地一般性地描述的那样。可以将机器可读指令加载在随机存取存储器RAM中用于由处理器从它们的存储位置执行，所述存储位置在只读存储器ROM、大容量存储设备或一些其它持久性存储例如，非暂时性有形介质或非易失性有形介质，如由存储器384所表示的）中。在一些示例中，存储器384包括计算机可读有形介质，其提供可由控制器382的过程执行的机器可读指令的非易失性存储。在其它示例中，可以使用硬接线电路代替机器可读指令或与机器可读指令结合地使用硬接线电路来实现所描述的功能。例如，控制器382可以被具体化为至少一个专用集成电路ASIC的部分。在至少一些示例中，控制器382不限于硬件电路和机器可读指令的任何具体组合，也不限于由控制器382执行的机器可读指令的任何特定源。[0125]在一些示例中，用户接口386包括用户接口或其它显示，其提供控制部分380的各种组件、模块、功能、参数、特征和属性和或电子照相成像器的各种方面中的至少一些的同时显示、激活和或操作，如贯穿本公开描述的那样。在一些示例中，经由图形用户接口GUI来提供用户接口486的至少一些部分或方面。在一些示例中，如图8B中所示，用户接口386包括显示器388和输入端389。[0126]图9是示意性地表示根据本公开的一个示例的预期的图像部分与显影不足的图像部分的比较的图示。[0127]在一些示例中，图9的示例包括曝光调节因子的操作的与图6A-6B的示例中基本上相同的特征和属性中的至少一些。[0128]如图9中所示，图示500示意性地表示根据本公开的一个示例的预期图像的部分502A与显影不足图像的部分502B的比较。在一个方面中，显影不足的图像部分5〇2B与缺少经由本公开的示例的曝光调节的情况下使预期图像显影的外观对应。在另一方面中，当依照本公开的至少一些示例应用曝光调节时，实际上显影的图像将一般与预期的图像部分502A对应。[0129]如同图6A中的示例，在一些示例中，部分502A与具有部分182A的较大图像的列或细长部分对应，其包括一些数目的（n个非打印段510A，其由高像素密度打印区512A接替。在一些示例中，数⑹个非打印段510A立即由高像素密度打印区512A接替。在一个方面中，局像素密度打印区512A包括第一或初始段515A，其一部分包括星星部分520A和围绕高像素密度星星520A的一个非打印部分522A，目卩“星星周围的”部分。在另一方面中，出于论述的目的，高像素密度区512A可分摊到其它段中，诸如段530A、540A和550A，其中段530A还包括星星520A、星星周围的非打印部分522A以及下面的打印部分523A。同时，段540A、550A包括没有任何非打印部分的高像素密度区。[0130]在一些示例中，每个段510A的高度H2与显影元件33的周长对应，所述周长由图5A中的H1或图9中的D1表示。当将出现充足数目的（n个）非打印段510A时，那么显影元件33将会经历尚未被显影的若干对应循环，使得显影元件33的过度地未显影的部分184C可能存在，如图6B的图示195中所表示的。[0131]在该场景中，如果实际上在没有利用曝光调节的情况下使预期的图像部分502A显影，则图9中的部分即邪将导致高像素密度区512B的初始段515B包括上面的星星部分520B由于由部分184C图仙的无显影的延长时段产生的显影元件33上的摩擦电荷的过度累积而显影不足。无显影的延长时段与（匹配非打印段510A的）一系列非打印段510B对应。该情形导致较少的标记剂例如调色剂被显影到显影元件33图1-4的部分184C上，使得图像部分1S2B的段515B包括上面的星星部分520B显影不足，如由交叉影线所表示的那样。[0132]在该示例中，段530B包括围绕的非打印部分522B其围绕上面的星星部分520B和下面的星星部分520C，其仍然与显影元件33图2的无显影部分对应，使得在显影元件33图2的后续循环时出现显影不足的部分542B其围绕完全显影的星星部分540B，因为围绕部分542B有效地限定在显影辊33的延长的无显影区域的最后实例（部分522B之后的初始显影部分。[0133]如由图9中的交叉影线的相对较密集部分所表示的，段550B表示显影元件33的相同部分的后续循环，并且仍然展现预期的图像部分502A的）预期的高像素密度区512A的显影不足。后续显影的段550B的围绕部分552B展现比围绕段540中的星星部分540C的初始显影的“星星周围的”部分542B更好的显影。最后，通过显影元件33的下一循环，在段550B之后的f印部分展现预期的全显影，如通过在区512B的其余部分中没有交叉影线所表示的。这指示显影元件33的特定部分已经朝向关于由显影元件33承载的已充电标记剂的量的正常操作范围返回，因为显影现在正在显影元件33的该部分中足够频繁地发生。[0134]在一些示例中，另外的显影不足的段可能发生在段550B之后，其中另一“星星周围的”部分将显现为在原本完全显影的高像素密度区512B内的显影不足的部分。[0135]在一些示例中，仅存在一个显影不足的段540B包括“星星周围的，，部分542B，而没有第二显影不足的段550B包括星星部分550C和“星星周围的”部分552B。该情形可能出现在显影辊33的一部分的无显影不那么严重的情况下和或预期图像的高像素密度区较不密集的情况下。[0136]考虑到这一点，本公开的至少一些示例经由在预期的图像部分502A到光电导元件30上的曝光之前向预期的图像部分502A选择性地应用曝光调节因子24图1而克服了将原本由显影不足的图像部分5〇2B展现的现象。特别地，在控制部分（图2中的28或图7中的380确定了显影兀件33的至少一部分184C的无显影已经超过先前与图7-8B相关联地描述的）阈值时，那么实现曝光调节因子24以为（继而与显影元件33的延长的无显影部分184C图6B对应的）最后的非打印区510A之后的至少第一段515A调节曝光。在一些示例中，第一段515A紧接在该最后的非打印区510A之后。[0137]曝光调节因子的采用将补偿显影元件33的部分的延长的无显影状态，并且从而避免将原本在图9中的段515B如部分516B，以及如上面的星星部分520B中、在段540B如“星星周围的”部分542B中以及段550B如“星星周围的”部分552B中展现的显影不足。[0138]当根据本公开的至少一些示例实现这样的曝光调节时，那么电子照相成像器避免产生图9中的显影不足的打印段51®包括部分516B、520©、显影不足的段540B包括“星星周围的”部分542B以及显影不足的段550B如“星星周围的”部分552B。替代地，实现预期的图像部分5〇2A，其中高像素密度区512A包括围绕星星520A的非打印区域的所有段将展现其预计的外观或其合理地接近的近似）。[0139]如结合图6A指出的，用于图9的示例的这些调节可以经由曝光调节管理器300和或控制部分382来实现，如先前与至少图7相关联地描述的那样。[0140]图10是根据本公开的一个示例的预期的图像部分600A与显影不足的图像部分600B的图示601。以与先前与图6A和9的示例相关联地描述的方式基本上相同的方式，经由在光电导元件的曝光之前采用曝光调节因子，显影不足的图像部分600B被避免并且出现预期的图像600A的适当显影。[0141]以与图6A或图9的示例类似的方式，图10描绘了预期的图像部分600A和显影不足的图像部分6〇OB，它们分别在初始打印区604A、604B之前具有至少一个非打印段602A和602B。[0142]然而，不像图6A或图9的在先示例，图10描绘了预期的图像部分60〇A包括初始打印区604A，其包括由相对均匀的高像素密度区606A跟随的文本字符的阵列。如同图6A或图9的在先示例，在缺少（依照本公开的示例的）曝光调节因子的情况下，显影不足的图像部分6〇OB将原本展现文本字符的显影不足的段6〇4B和非打印、文本周围的部分605B。[0143]段604B随后是具有“文本周围的”部分611B的后续段610B围绕打印的文本字符的区域），其显现为区中的应该显现为相对统一的高像素密度段610A的显影不足的图像。[0144]特别地，段610B中的“文本周围的”部分611B与在无显影部分605A的最后的迭代实例之后的高像素密度段610A的初始显影实例对应，其围绕段6〇4A中的文本字符。在一些示例中，“文本周围的”部分611B紧接在无显影部分605A的最后的迭代实例之后。[0145]在一个方面中，文本周围的部分611B的显影不足至少就来自段604B的文本字符产生至少段610B中的无意且不期望的外观的意义而言导致段6〇4B的文本字符的重影。[0146]如由相对更密集的交叉影线在图10中进一步所示，显影不足的图像部分60013的后续段612B将仍然展现显影不足的“文本周围的”部分613B，但具有比在段612B中相对更多的显影。该情形还导致段6〇4B的文本字符的重影，其产生段612B中的无意且不期望的外观。[0147]如在图6A和9的在先不例中那样，可以一般性地经由采用与至少图1和图7-8A相关联的曝光调节因子来避免或显著降低显影不足的“文本周围的”部分611B和613B，以由此产生预期的图像部分600A。[0148^图11是根据本公开fj—个示例的制造电子照相成像器的方法701的流程图700。在一些示例中，可以经由如先前与至少图w0相关联地描述的组件、模块、功能、参数和系统中的至少一些来执行方法701。例如，在一些示例中，可以经由具有控制器20图丨）的成像器10图1、具有控制部分28图2的成像器21图2和或具有曝光调节管理器385图8A的控制器382图8A来执行方法701。在一些示例中，可以经由不同于先前与至少图i-io相关联地描述的那些的至少一些组件、模块、功能、参数和系统来执行方法701。[0149]如图11中所示，在7〇6处，方法701包括将光源布置成使光电导元件的可充电表面的区域曝光以形成潜像，包括将光源布置成可控制以将第一曝光调节因子选择性地应用于潜像的至少第一可打印部分。在一些示例中，方法701进一步包括将至少一个第二曝光调节因子应用于潜像的至少一个后续可打印部分。[0150]在708处，方法701包括将显影元件布置成相对耦合到光电导元件以利用标记剂例如调色剂将潜像显影在光电导元件上。在一个方面中，至少第一曝光调节因子至少基于在第一可打印区域之前的潜像的第一评价部分的像素密度的大小和显影元件的显影状态。在一些示例中，第一评价部分紧接在第一可打印区域之前。在一些示例中，至少第二曝光调节因子也至少基于在第一可打印区域之前的潜像的第一评价部分的像素密度的大小和显影元件的显影状态。在一些示例中，第一评价部分紧接在第一可打印区域之前。[0151]本公开的至少一些示例提供了通过采用曝光调节因子而具有降低的显影不足、降低的显影过度和或重影效果的电子照相成像。[0152]尽管已经在本文中图示和描述了具体示例，但是各种各样的替换和或等价实施方式可以代替所示出和描述的具体示例而不脱离本公开的范围。本申请意图涵盖在本文中论述的具体示例的任何改编或变化。

权利要求：I.一种电子照相成像器，包括：光电导元件；充电器，用以对光电导元件的表面充电；光源，用以使已充电表面的区域曝光以形成潜像；显影元件，其相对耦合到光电导元件以经由已充电的标记剂将潜像显影在光电导元件上；以及控制器，用以将曝光调节因子选择性地应用于潜像的第一可打印区域，其中曝光调节因子的大小至少基于关于在第一可打印区域之前的潜像的第一评价部分的标记剂转移需求以及基于针对第一评价部分的显影元件的显影状态。2.根据权利要求1所述的电子照相成像器，其中潜像的第一评价部分包括潜像的第二可打印区域，其中标记剂转移需求至少与第二可打印区域的像素密度对应。3.根据权利要求1所述的电子照相成像器，其中潜像的第一评价部分包括潜像的非可打印区域，其与显影元件的至少一个无显影区域对应。4.根据权利要求1所述的电子照相成像器，其中控制器与存储器相关联，所述存储器用以在逐像素的基础上存储关于显影元件的显影状态的映射。5.根据权利要求4所述的电子照相成像器，其中显影状态包括显影元件上的位置和在所述位置处的无显影的相对龄期。6.根据权利要求1所述的电子照相成像器，控制器用以将曝光调节因子选择性地应用于在介质行进的方向上沿着潜像连续地布置的多个可打印区域，并且其中所述多个可打印区域包括第一可打印区域，并且其中每个不同的可打印区域与显影元件的多个无显影区域中的相应无显影区域对应。7.根据权利要求1所述的电子照相成像器，其中用于一系列可打印区域中的相应可打印区域的至少第一显影的曝光调节因子具有第一值，并且其中用于所述系列中的相继的可打印区域的至少一些后续显影的曝光调节因子具有与第一值不同的第二值。8.根据权利要求1所述的电子照相成像器，其中是否要选择性地应用曝光调节因子的决定至少部分地基于显影元件的再充电间隔和在每个再充电循环内对显影元件再充电的再充电速率。9.根据权利要求1所述的电子照相成像器，其中是否要选择性地应用曝光调节因子的决定至少部分地基于第一可打印区域的像素密度针对其进行比较的阈值。10.—种电子照相成像器控制部分，包括：处理器，其与存储在存储器中的指令相关联，以在光电导元件上的潜像的第一可打印部分处在光电导元件上选择性地应用曝光调节因子，其中是否要应用曝光调节因子的决定和曝光调节因子的大小至少基于关于在第一可打印部分之前的潜像的第一评价部分的图像相关的标记剂转移需求以及基于相关联的与第一评价部分对应的显影元件的第一显影部分的显影状态。II.根据权利要求1〇所述的电子照相成像器控制部分，其中显影元件是具有用以在逐像素的基础上存储关于显影元件的显影状态的映射的存储器的显影元件，其中映射的尺寸与显影元件的一个循环的表面积对应，并且其中显影状态包括无显影区域的位置和龄期。12.根据权利要求10所述的电子照相成像器控制部分，其中第一评价部分是如下各项中的全少一个：，非可打印部分，其中第一显影部分具有在显影元件的数个显影循环内没有发生显影的显影状态；以及可打印部分，针对其的标记剂转移需求超过阈值。13.—种制造电子照相成像器的方法，包括：布置光源以使光电导元件的可充电表面的区域曝光来形成潜像，包括将光源布置成可，制以将第一曝光调节因子选择性地应用于潜像的第一可打印部分并且以将至少一个第二曝光调节因子选择性地应用于潜像的至少一个后续可打印部分;以及将显影元件布置成相对耦合到光电导元件以利用标记剂将潜像显影在光电导元件上，其中相应的第一和第二曝光调节因子至少基于在第一可打印区域之前的潜像的第一评价部分的像素密度的大小和显影元件的显影状态。14.根据权利要求IS所述的方法，其中第一评价部分与显影元件的在超过阈值的循环数内未针对其发生显影的至少一个显影部分对应。、15•根据权利要求14所述的方法，其中至少第一曝光调节因子的大小进一步至少基于潜像的第一可打印部分的像素密度、所述至少一个显影部分的位置以及所述循环数超过阈值的大小。

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