【发明授权】触控位置的确定方法、电容触控装置以及电容触控终端_深圳市汇顶科技股份有限公司_201780000775.0 

申请/专利权人:深圳市汇顶科技股份有限公司

申请日:2017-08-01

发明/设计人:彭海军;李刚;彭永豪

公开(公告)日:2020-10-23

代理机构:北京合智同创知识产权代理有限公司

公开(公告)号:CN107636596B

代理人:李杰

主分类号:G06F3/0488(20130101)

地址:518045 广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层

分类号:G06F3/0488(20130101);G06F3/044(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2020.10.23#授权;2018.02.27#实质审查的生效;2018.01.26#公开

摘要:本申请实施例提供一种触控位置的确定方法、电容触控装置以及电容触控终端,通过采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据;根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置,通过噪声采样数据结合原始采样数据确定触控位置,提高了触控位置的准确度。

主权项:1.一种触控位置的确定方法,其特征在于,包括:采集电容触控传感器在加载打码信号时通过检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未加载打码信号时通过检测电极输出的噪声采样数据;根据电容触控传感器分别在加载打码信号时通过检测电极输出的原始采样数据、未加载打码信号时通过检测电极输出噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置,其中,若存在共模噪声则所述噪声采样数据中包括对应的共模噪声包络,所述噪声采样数据有效,根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤,确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置,若不存在共模噪声则所述噪声采样数据中不包括对应的共模噪声包络,所述噪声采样数据无效,直接根据所述原始采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。

全文数据:触控位置的确定方法、电容触控装置以及电容触控终端技术领域[0001]本申请实施例涉及触控技术领域,尤其涉及一种触控位置的确定方法、电容触控装置以及电容触控终端。背景技术[0002]由于电容触控传感器可以直接基于人体对电场的影响实现触控控制,因此,电容触控传感器在智能终端上得到了广泛的应用。[0003]为保证触控的准确,在触控对象对电容触控传感器进行触控时,应保证电容触控传感器的参考地与手指对应的大地之间压差的稳定。但是,由于参考地与大地之间的压差在实际中会发生不规律的变化,以及触控对象与电容触控传感器的接触会形成共模回路,导致电容触控传感器中引入了共模噪声,极大地影响触控位置的准确性。[0004]在智能终端上应用时,除了配置电容触控传感器外,还配置电容触控装置,电容触控传感器包括感应电极,电容触控装置根据采集到的感应电极的输出的数据确定触控位置,图1为电容触控传感器不存在共模噪声时的原理示意图,图2A为电容触控传感器存在共模噪声时的原理示意图。在图1、图2A中,以互容检测为例,驱动电极Tx加载打码信号,打码信号通过电容触控传感器的互电容耦合至感应电极,感应电极RX输出原始采样数据。如图1所示,电容触控传感器中不存在共模噪声时,感应电极Rx输出的原始采样数据不存在噪声采样数据;图2A中,Che表不人体与大地之间的电容、Chd表示人体与驱动电极间的电容、Chs表示人体与感应电极间的电容、Cdg表示驱动电极与参考地间的电容、Csg表示感应电极与参考地间的电容、Vs表示加载的打码信号、Vcm表示引入的共模噪声、Ncm表示耦合后的共模信号、Cds表示驱动电极与感应电极之间的电容,其中,电容Cds的左侧基板为驱动电极Tx,电容Cds的右侧基板为感应电极RX;而如图2A所示,当参考地与大地之间的压差发生不规律变化,以及触控对象进行触控时(即图中存在人体触控时),会使电容触控传感器中引入共模噪声Vcm,图2B为共模噪声的波形示例图,图2C为打码信号的波形示例图,图2D为图2A中感应电极输出的原始采样数据的波形示例图,图2A中的带箭头的虚线表示由于触控对象对电容触控传感器进行触控形成的共模回路,共模噪声的引入使得感应电极RX输出的原始采样数据受到影响以看出与图1中不存在共模噪声时的原始采样数据相比,图2D中存在共模噪声时的原始采样数据的统计波形会出现不同程度的毛刺,进一步导致电容触控装置无法准确地确定出真实的触控位置,最终产生触控失灵的现象,如出现冒点现象、消点现象等,严重地影响了电容触控屏系统的性能。例如,当根据原始采样数据确定的触控位置不仅包括全SP的真实触控位置,还包括其他因共模噪声产生的非真实的触控位置时,可认为是出巧了冒点现象,这些因共模噪声产生的非真实的触控位置被称为冒点;再比如当根据原始采样数据确定的触控位置只包括部分真实的触控位置时,还存在因共模噪声的影响而未被识别出的真实触控位置,可以认为是出现消点现象,这些未被识别出的真实触控位置可以被称为消点。[0005]此外,共模噪声的来源较为广泛,比如来自充电器、白噪声、脉冲噪声、在测试电容触控的抗共模噪声能力时引入的扫频信号等,不同来源的共模噪声的频率范围与打码信号的频率范围差异不同,导致不同来源的共模噪声对同一型号的电容触控传感器以及电容触控装置的影响也不同,比如在确定真实触控位置时,冒点、消点的位置和或数量不同。再者,同一来源的共模噪声对不同型号的电容触控传感器以及电容触控装置的影响也不同,比如冒点、消点的位置和或数量不同。[0006]综上,如何有效地处理上述共模噪声,以提高确定真实触控位置时的准确度,提高电容触控的性能成为现有技术中亟需解决的技术问题。发明内容[0007]本申请实施例的目的在于提供一种触控位置的确定方法、电容触控装置以及电容触控终端,用以至少解决现有技术中的上述问题。[0008]为实现本申请实施例的目的,本申请实施例提供了一种触控位置的确定方法,其包括:[0009]采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据;[0010]根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0011]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为互容触控传感器,所述互容触控传感器包括用于加载打码信号的驱动电极以及用于输出所述原始采样数据的感应电极,则所述采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据包括:采集所述互容触控传感器中所述感应电极输出的所述原始采样数据。[0012]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为自容触控传感器,所述自容触控传感器通过所述检测电极加载打码信号,并通过所述检测电极输出所述原始采样数据,则所述采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据包括:采集所述自容触控传感器中所述检测电极输出的所述原始采样数据。[0013]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为互容触控传感器,所述互容触控传感器包括用于加载打码信号的驱动电极以及用于输出所述原始采样数据的感应电极,则所述采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据包括:[0014]所述驱动电极不加载打码信号时采集所述感应电极输出的噪声采样数据;以及,所述感应电极不加载打码信号时采集所述驱动电极输出的噪声采样数据。[0015]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为自容触控传感器,所述自容触控传感器通过所述检测电极加载打码信号,并通过所述检测电极输出所述原始采样数据,则所述采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据包括:所述检测电极不加载打码信号时采集所述检测电极输出的所述噪声采样数据。[0016]可选地,在本申请的任一实施例中,所述根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置包括:[0017]根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证的验证结果,确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0018]可选地,在本申请的任一实施例中,所述根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证包括:[0019]根据有效的所述噪声采样数据,对所述原始采样数据进行验证,以确定所述原始采样数据是否可用;[0020]若可用,则根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0021]可选地,在本申请的任一实施例中,根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置包括:[0022]根据所述原始采样数据,确定触控区域;[0023]根据所述噪声采样数据,滤除掉所述触控区域中的非真实的触控位置,以确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0024]可选地,在本申请的任一实施例中,根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置包括:[0025]根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤;[0026]根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0027]可选地,在本申请的任一实施例中,根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤包括:根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤。[0028]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为互容触控传感器时,根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域包括:[0029]根据驱动电极不加载打码信号时感应电极输出的噪声采样数据确定第一坐标,根据第一坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域;和或,[0030]根据感应电极不加载打码信号时驱动电极输出的噪声采样数据确定第二坐标,根据第二坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域。[0031]可选地,在本申请的任一实施例中,若所述原始采样数据不可用,则根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0032]为实现本申请实施例的目的,本申请实施例提供了一种电容触控装置,所述电容触控装置用于采集电容触控传感器在被打码时通过其检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过其检测电极输出的噪声采样数据;以及,根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0033]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为互容触控传感器,所述互容触控传感器包括用于加载打码信号的驱动电极以及用于输出所述原始采样数据的感应电极,则所述电容触控装置进一步用于:[0034]所述驱动电极不加载打码信号时采集所述感应电极输出的噪声采样数据;以及,所述感应电极不加载打码信号时采集所述驱动电极输出的噪声采样数据。[0035]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为自容触控传感器,所述自容触控传感器通过所述检测电极加载打码信号,并通过所述检测电极输出所述原始采样数据,则所述电容触控装置进一步用于:所述检测电极不加载打码信号时采集所述检测电极输出的所述噪声采样数据。[0036]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控装置进一步用于:[0037]根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证的验证结果,确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0038]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控装置进一步用于:[0039]根据有效的所述噪声采样数据,对所述原始采样数据进行验证,以确定所述原始采样数据是否可用;[0040]若可用,则根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0041]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控装置进一步用于:[0042]根据所述原始采样数据,确定触控区域;[0043]根据所述噪声采样数据,滤除掉所述触控区域中的非真实的触控位置,以确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0044]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控装置进一步用于:[0045]根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤;[0046]根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0047]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控装置进一步用于:根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤。[0048]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控传感器为互容触控传感器时,所述电容触控装置进一步用于:[0049]根据驱动电极不加载打码信号时感应电极输出的噪声采样数据确定第一坐标,根据第一坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域;和或,[0050]根据感应电极不加载打码信号时驱动电极输出的噪声采样数据确定第二坐标,根据第二坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域。[0051]可选地,在本申请的任一实施例中,所述电容触控装置进一步用于:若所述原始采样数据不可用,则根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0052]为实现本申请实施例的目的,本申请实施例提供了一种电容触控终端,包括:电容触控传感器以及本申请任一实施例中所述的电容触控装置,所述电容触控传感器的检测电极与所述电容触控装置电连接。[0053]本申请实施例提供了一种触控位置的确定方法、电容触控装置以及电容触控终端,通过采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据;根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置,通过噪声采样数据结合原始采样数据确定触控位置,提高了触控位置的准确度。附图说明[0054]图1为电容触控传感器不存在共模噪声时的原理示意图;[0055]图2A为电容触控传感器存在共模噪声时的原理示意图;[0056]图2B为共模噪声的波形示例图;[0057]图2C为打码信号的波形示例图;[0058]图2D为图2A中感应电极输出的原始采样数据的波形示例图;[0059]图3为本申请一实施例提供的一种触控位置的确定方法流程示意图;[0060]图4为互容触控传感器不存在共模噪声时的采样原理示意图;[0061]图5为互容触控传感器存在共模噪声时的采样原理示意图;[0062]图6A为电容触控传感器存在共模噪声时不被打码时的采样原理示意图;[0063]图6B为图6A中的感应电极输出的噪声采样数据的波形示意图;[0064]图7为互容触控传感器存在共模噪声时不被打码时的采样结果示意图;[0065]图8为互容触控传感器存在共模噪声时不被打码时的另一采样结果示意图;[0066]图9为电容触控传感器中不存在共模噪声时的噪声采样结果示意图;[0067]图10为根据噪声采样数据确定噪声坐标的原理示意图;[0068]图11为本申请另一实施例提供的一种触控位置的确定方法流程图;[0069]图12为自容触控传感器不存在共模噪声时的采样原理示意图。具体实施方式[0070]以下将配合图示及实施例来详细说明本申请的实施方式,藉此对本申请如何应用技术手段来解决技术向题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。[W71]本申请一实施例以互容触控传感器为例,对本申请提供的触控位置的确定方法进行说明。具体的,图3为本申请一实施例提供的一种触控位置的确定方法流程示意图,其包括:[0072]S11、采集互容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据;[0073]本实施例中,互容触控传感器的驱动电极和感应电极可以为长条形电极或棱形电极等,驱动电极和感应电极布置成两层,上层的驱动电极沿着纵向排布,下层的感应电极沿着横向排布,上下两层电极交汇的节点处之间存在检测电容,当然驱动电极和感应电极也可以是同层搭桥结构,或者其他可用的电极结构,本申请对此不作限定。在互容触控传感器被打码时,驱动电极加载打码信号,并通过检测电容将信号耦合至感应电极,感应电极输出原始采样数据以进行采集。[0074]本实施例中的采集互容触控传感器在被打码时通过感应电极输出的原始采样数g的原理具体可以如图4、图5所示,图4为互容触控传感器中不存在共模噪声时的采样原理示意图,图5为互容触控传感器中存在共模噪声的采样原理示意图;如图4、图5中包括多个驱动电极Tx,以及多个感应电极RX,互容触控传感器可以通过作为驱动电极的纵向电极Tx加载打码信号,并采集所述互容触控传感器中的输出作为感应电极的横向电极Rx输出的原始采样数据。__[0075]互容触控传感器中不存在共模噪声时,如图4所示,采集感应电极输出的原始采样数据后,可以直接根据原始采样数据确定触控对象在互容触控传感器上的触控位置为图4中的实线圆圈所在的位置。[0076]而当互容触控传感器中存在共模噪声时,当有手指触控时,通过真实触控位置处检测电容的感应电极形成了共模回路,从而使得该感应电极与每一个驱动电极交汇的点处的检测电容中都耦合共模噪声,从而同时出现了非真实的触控位置即冒点,进而无法根据原始采样数据准确地确定触控位置。[0077]具体的,在图5中,实线圆圈对应的真实触控位置,而该真实触控位置两侧存在多个虚线圆圈所示的非真实触控位置。假如有沿着横向排列的三条感应电极,另外有沿着纵向排列的三条驱动电极,真实触控位置位于第二条驱动电极与第一条感应电极的交汇点处,由于通过第一条感应电极形成了共模回路,为此,就会包括三个触控位置的触控区域,艮P:第二条驱动电极与第一条感应电极的交汇点为真实触控位置,第一条驱动电极与第一条感应电极交汇点出为非真实的触控位置,第三条驱动电极与第一条感应电极交汇点处也为非真实的触控位置。[0078]S12、采集所述互容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据。[0079]另外,本实施例中,采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据的方法原理具体可以如图6A所示(图6A中的标号与图2A中的标号意义相同),不向所述电容触控传感器加载打码信号时(即与图2相比,图6A中不存在Vs,驱动电极Tx与参考地连接,手指与大地连接,由于驱动电极上没有加载打码信号,共模噪声通过手指与感应电极之间形成的电容耦合至感应电极,感应电极Rx输出噪声采样数据,图6B为图6A中的感应电极输出的噪声采样数据的波形示意图。图7对应图6A的噪声采样数据示意图,图7下方的信号包络对应的数据即感应电极Rx输出的噪声采样数据。实线黑圈表示真实的触控位置,噪声采样数据对应图6A中矩形虚线框区域的所在的一整条感应电极。[0080]转化打码方向,即将原图6A中驱动电极Tx作为感应电极Rx’,将原图6A中的感应电极Rx作为驱动电极Tx’,不向所述电容触控传感器中的驱动电极Tx’加载打码信号,即相当于驱动电极Tx’与参考地连接,由于驱动电极Tx’上没有加载打码信号,共模噪声通过手指与感应电极Rx’之间形成的电容耦合至感应电极RX’,感应电极RX’输出噪声采样数据。图8对应图6A中转换打码方向后的噪声采样数据示意图,图8右侧的信号包络对应的数据即感应电极Rx’输出的噪声采样数据。图8中实线黑圈表示真实的触控位置,噪声采样数据对应图8中矩形虚线框区域的所在的一整条感应电极。[0081]一另外,本实施例中,若互容触控传感器可以使用自容触控传感器的驱动方法驱动,那么在采集互容触控传感器的噪声采样数据时,也可以不转换打码方向,直接采集检测电极Tx、Rx输出的噪声采样数据。具体的直接采集检测电极Tx、Rx输出的噪声采样数据的方法可参考下述实施例。[0082]参见图9,当有手指触控但不存在共模噪声时,如果不向驱动电极加载打码信号,则感应,极输出的噪声采样数据不存在对应的共模噪声包络,而上述图7、图8中所示输出的噪声采样数据存在对应的共模噪声包络。[0083]S13、根据互容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0084]本实施例中,在执行步骤S13时具体可以根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证的验证结果,确定所述触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0085]在验证的时候,通过噪声采样数据是否有信号包络来判断噪声采样数据是否有效,若噪声采样数据无效,直接根据所述原始采样数据准确地确定触控位置。[0086]若噪声采样数据有效,此时可以根据有效的所述噪声采样数据,对所述原始采样数据进行验证,以确定所述原始采样数据是否可用,若可用,则根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0087]本实施例中,通过是否有信号包络来判断噪声采样数据是否有效具体可以为:若噪声采样数据可确定出信号包络,则确定噪声采样数据有效,否则,确定噪声采样数据无效。[0088]本实施例中,当噪声采样数据有效时还需确定原始采样数据是否可用,具体地,原始采样数据是否可用可以根据噪声采样数据确定。具体的,以下对如何根据噪声采样数据确定原始采样数据是否可用进行举例说明。[0089]本实施例中,根据噪声采样数据确定原始采样数据是否可用具体包括:[0090]根据所述驱动电极不加载打码信号时所述感应电极输出的噪声采样数据确定第一坐标,本实施例中,由于驱动电极是纵向布置的,所以这里的第一坐标指的是纵坐标。[0091]根据所述感应电极不加载打码信号时所述驱动电极输出的噪声采样数据确定第二坐标,本实施例中,由于感应电极是横向布置的,所以这里的第二坐标指的是横坐标。[0092]下面结合图10对根据噪声采样数据如何具体确定原始采样数据是否可用进行说明。[0093]参见图10,根据上述第一坐标纵坐标和第二坐标横坐标确定出噪声区域,若根据原始采样数据确定的触控区域中也包括噪声区域,则原始采样数据可用;否则,原始采样数据不可用。[0094]若所述原始采样数据不可用,则可以根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0095]若所述原始采样数据可用,则可以根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。由于共模噪声信号无固定规律,导致噪声采样数据信号抖动较大,但是,由于打码信号是有规律的,使得原始采样数据没有抖动,或者抖动较小,所以通过原始采样数据与噪声采样数据共同确定出的触控位置准确度较高。[0096]具体的,本实施例中,若所述原始采样数据可用,可以根据所述原始采样数据,确定触控区域,再根据所述噪声采样数据,滤除掉所述触控区域中因共模噪声产生的非真实的触控位置,以确定所述触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0097]在本申请实施例的另一实现中,可以根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤;再根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0098]具体地,根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤包括:根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述互容触控传感器上触控时形成的噪声区域,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤。[0099]具体的,可以根据所述驱动电极不加载打码信号时所述感应电极输出的噪声采样数据确定第一坐标,根据第一坐标确定所述触控对象在所述互容触控传感器上触控时形成的噪声区域;和或,可以根据所述感应电极不加载打码信号时所述驱动电极输出的噪声采样数据确定第二坐标,根据第二坐标确定所述触控对象在所述互容触控传感器上触控时形成的噪声区域。[0100]以下结合图7、图8以及图10为例对根据第一坐标和或第二坐标确定噪声区域进行举例说明。[0101]参见图7所示,当驱动电极Tx纵向布置时,根据感应电极Rx可以确定的坐标范围为R〇-Rn,若根据驱动电极Tx不加载打码信号时确定的第一坐标即纵坐标Rb,位于纵坐标上的感应电极Rx所在的区域为噪声区域,如图7中矩形虚线框所示;[0102]对应地,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤可以具体为:将纵坐标不为Rb的原始采样数据中过滤掉,从而再根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0103]同理,参见图8,若驱动电极Tx’横向布置,根据感应电极RX’可以确定的坐标范围为R0’-Rn’,若根据驱动电极Tx’不加载打码信号时确定的第二坐标为横坐标Ra’,位于横坐标上的感应电极Rx’所在的区域为噪声区域,如图8矩形虚线框所示。[0104]对应地,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤可以具体为:将横坐标不为Ra’的原始采样数据中过滤掉。[0105]另外,还可以结合图7和图8—起确定出如图10所示的噪声区域,图10中的R〇-Rn即可相当于图7中的R〇-Rn,图10中的TO-Tn即可相当于图8中的R0’-Rn’,Ta上方的虚线圆圈表示确定出的触控区域的横坐标位置与上述Ra’对应),Rb左侧的虚线圆圈表示确定出的触控区域的纵坐标位置,则结合图7与图8—起确定出的所述噪声区域位于Ta,Rb,相对于单独通过图7或者图8所示方式来说,确定出的噪声区域较为准确。[0106]对应地,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤可以具体为:将横坐标不为Ta且纵坐标不为Rb的原始采样数据中过滤掉,从而再根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述互容触控传感器上的触控位置。[0107]本申请另一实施例以自容触控传感器为例,对触控位置的确定方法进行说明。[0108]具体的,图11为本申请另一实施例提供的一种触控位置的确定方法流程图,其包括:[0109]S21、采集自容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据;[0110]自容触控传感器的检测电极可以为长条形电极或方块电极等,在自容触控传感器被打码时检测电极加载打码信号,同时输出原始采样数据以进行采集。[0111]与互容触控传感器通过驱动电极加载打码信号,通过感应电极输出原始采样数据相比,本实施例提供的自容触控传感器既通过检测电极加载打码信号,也通过检测电极输出原始采样数据,即检测电极同时作为驱动电极以及感应电极。[0112]因此,本实施例中的采集自容触控传感器在被打码时通过感应电极输出的原始采样数据时,自容触控传感器通过检测电极Tx、Rx加载打码信号后,直接采集所述检测电极Tx、Rx输出原始采样数据即可。[0113]S22、采集所述自容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据。[0114]本实施例中,所述采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据具体为:所述检测电极不加载打码信号时采集所述检测电极输出的所述噪声采样数据。[0115]与互容触控传感器相比,本实施例提供的自容触控传感器的检测电极同时作为驱动电极以及感应电极,因此本实施例中,在采集噪声采样数据时,如图12所示,可以当自容触控传感器不通过检测电极加载打码信号时,直接采集所述检测电极Tx、Rx输出噪声采样数据。图12中,左侧的信号包络表示采集的检测电极RX输出的噪声采样数据,左侧的实线框表示确定的噪声区域的纵坐标,左侧的实线圆圈表示根据原始采样数据确定的触控位置的纵坐标,上方的信号包络表示采集的检测电极Tx输出的噪声采样数据,上方的实线框表示确定的噪声区域的横坐标,上方的实线圆圈表示根据原始采样数据确定的触控位置的横坐标。[0116]自容触控传感器与互容触控传感器的共模噪声生成原理类似。但是互容触控传感器通过确定感应电极与驱动电极交汇的点来直接确定触控位置,当有手指触控时,真实的触控位置对应的感应电极与每一个驱动电极交汇的点处的检测电容中都耦合共模噪声,使得根据受到共模噪声的影响后的检测电极输出的原始采样数据确定的触控位置包括因共模噪声产生的非真实的触控位置。而自容触控传感器通过沿横向以及纵向排布的检测电极Rx、Tx分别确定出触控区域的横、纵坐标,来间接确定触控位置,在确定触控位置时自容触控传感器中的每个检测电极是独立的,不会与其他检测电极产生交汇点,使得根据受到共模噪声的影响后的检测电极输出的原始采样数据确定的触控位置不包括因共模噪声产生的非真实的触控位置。[0117]S23、根据自容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述自容触控传感器上的触控位置。[0118]本步骤与上述实施例中的步骤S13类似,与上述步骤不同的是:由于自容触控传感器中不会出现冒点,因此,根据原始采样数据确定的触控区域一定不包括非真实的触控区域,此时,不再需要对原始采样数据进行滤除,直接根据原始采样数据以及原始采样数据确定触控坐标即可。例如,如根据原始采样数据确定的触控位置包括A、B两个点,根据噪声采样数据确定的噪声区域包括A、B、C三个点,则可以确定C点也属于真实的触控位置,C点即可以被称为消点。[0119]本申请再一实施例提供一种电容触控传感器,所述电容触控装置用于采集电容触控传感器在被打码时通过其检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过其检测电极输出的噪声采样数据;以及,根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置,电容触控装置具体可以为触控芯片。[0120]具体的,所述电容触控传感器为互容触控传感器,所述互容触控传感器包括用于加载打码信号的驱动电极以及用于输出所述原始采样数据的感应电极,则所述电容触控装置进一步用于:所述驱动电极不加载打码信号时采集所述感应电极输出的噪声采样数据;以及,所述感应电极不加载打码信号时采集所述驱动电极输出的噪声采样数据。[0121]具体的,所述电容触控传感器为自容触控传感器,所述自容触控传感器通过所述检测电极加载打码信号,并通过所述检测电极输出所述原始采样数据,则所述电容触控装置进一步用于:所述检测电极不加载打码信号时采集所述检测电极输出的所述噪声采样数据。[0122]—具体的,所述电容触控装置进一步用于:根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证的验证结果,确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[01^3]具体的,所述电容触控装置进=步用于:根据有效的所述噪声采样数据,对所述原始采样数据进f验证,以确定所述原始采样数据是否可用;若可用,则根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0124]具体所述电容触控装置进一步用于:根据所述原始采样数据,确定触控区域;根据所述噪声采样数据,滤除掉所述触控区域中的非真实的触控位置,以确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0125]具体的,所述电容触控装置进一步用于:根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤;根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0126]具体的,所述电容触控装置进一步用于:根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤。[0127]具体的,所述电容触控装置进一步用于:根据所述驱动电极不加载打码信号时所述感应电极输出的噪声采样数据确定第一坐标,根据第一坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域;和或,根据所述感应电极不加载打码信号时所述驱动电极输出的噪声采样数据确定第二坐标,根据第二坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域。[0128]具体的,所述电容触控装置进一步用于:若所述原始采样数据不可用,则根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。[0129]本申请一实施例提供一种电容触控终端,其包括:电容触控传感器以及上述任一实施例所述的电容触控装置,所述电容触控传感器的检测电极与所述电容触控装置电连接。[0130]需要说明的是,首先,本申请实施例中只是对采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据先后进行示例性说明,但是并不限定采集原始采样数据以及噪声采样数据的先后顺序。其次,本申请实施例中,仅对确认噪声采样数据是否有效以及确认原始采样数据是否可用的方法进行了举例说明,并不作为本申请的限定,本领域的技术人员根据上述叙述可以确定的其他方法也在本申请的保护范围之内。最后,本申请实施例中的Ta、Ra、Rb中的任一项或者多项可以是一个具体的坐标值,也可以是一个坐标范围,在不同的实施例中还可以表示不同的范围,Ta、Ra、Rb仅用于举例说明,并不作为本申请的限定。[0131]此外,本领域技术人员应该能够理解,上述的单元以及模块划分方式仅是众多划分方式中的一种,如果划分为其他单元或模块或不划分块,只要信息对象的具有上述功能,都应该在本申请的保护范围之内。[0132]本领域的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、装置设备)、或计算机fe序广品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等上实施的计算机程序产品的形式。[0133]本申请是参照根据本申请实施例的方法、装置设备和计算机程序产品的流程图和或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和或方框图中的每一流程和或方框、以及流程图和或方框图中的流程和或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。[0134]这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。[0135]这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。[0136]尽管已描述了本申请的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

权利要求:1.一种触控位置的确定方法,其特征在于,包括:采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据;根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电容触控传感器为互容触控传感器,所述互容触控传感器包括用于加载打码信号的驱动电极以及用于输出所述原始采样数据的感应电极,所述采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据包括:米集所述互容触控传感器中所述感应电极输出的所述原始采样数据。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电容触控传感器为自容触控传感器,f述自容触控传感器通过所述检测电极加载打码信号,并通过所述检测电极输出所述原始f样数据,所述采集电容触控传感器在被打码时通过检测电极输出的原始采样数据包括:采集所述自容触控传感器中所述检测电极输出的所述原始采样数据。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电容触控传感器为互容触控传感器,所述互容触控传感器包括用于加载打码信号的驱动电极以及用于输出所述原始采样数据的感应电极,所述采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据包括:所述驱动电极不加载打码信号时采集所述感应电极输出的噪声采样数据;以及,所述感应电极不加载打码彳目号时采集所述驱动电极输出的噪声米样数据。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电容触控传感器为自容触控传感器,所述自容触控传感器通过所述检测电极加载打码信号,并通过所述检测电极输出所述原始采样数据,所述采集所述电容触控传感器在未被打码时通过检测电极输出的噪声采样数据包括:所述检测电极不加载打码信号时采集所述检测电极输出的所述噪声采样数据。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置包括:根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证的验证结果,确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证包括:根据有效的所述噪声采样数据,对所述原始采样数据进行验证,以确定所述原始采样数据是否可用;若可用,则根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置包括:根据所述原始采样数据,确定触控区域;根据所述噪声采样数据,滤除掉所述触控区域中的非真实的触控位置,以确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置包括:根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤;根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤包括:根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤。11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述电容触控传感器为互容触控传感器时,根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域包括:根据驱动电极不加载打码信号时感应电极输出的噪声采样数据确定第一坐标,根据第一坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域;和或,根据感应电极不加载打码信号时驱动电极输出的噪声采样数据确定第二坐标,根据第二坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域。12.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,若所述原始采样数据不可用,则根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。13.—种电容触控装置,其特征在于,所述电容触控装置用于采集电容触控传感器在被打码时通过其检测电极输出的原始采样数据,以及采集所述电容触控传感器在未被打码时通过其检测电极输出的噪声采样数据;以及,根据电容触控传感器分别在被打码时、未被打码时通过检测电极输出的原始采样数据以及噪声采样数据,确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。14.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述电容触控传感器为互容触控传感器,所述互容触控传感器包括用于加载打码信号的驱动电极以及用于输出所述原始采样数据的感应电极,则所述电容触控装置进一步用于:所述驱动电极不加载打码信号时采集所述感应电极输出的噪声采样数据;以及,所述感应电极不加载打码信号时采集所述驱动电极输出的噪声采样数据。15.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述电容触控传感器为自容触控传感器,所述自容触控传感器通过所述检测电极加载打码信号,并通过所述检测电极输出所述原始采样数据,则所述电容触控装置进一步用于:所述检测电极不加载打码信号时采集所述检测电极输出的所述噪声采样数据。16.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述电容触控装置进一步用于:根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行验证的验证结果,确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。17.根据权利要求16所述的装置,其特征在于,所述电容触控装置进一步用于:根据有效的所述噪声采样数据,对所述原始采样数据进行验证,以确定所述原始采样数据是否可用;若可用,则根据所述噪声采样数据和所述原始采样数据确定触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。18.根据权利要求17所述的装置,其特征在于,所述电容触控装置进一步用于:根据所述原始采样数据,确定触控区域;根据所述噪声采样数据,滤除掉所述触控区域中的非真实的触控位置,以确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。19.根据权利要求17所述的装置,其特征在于,所述电容触控装置进一步用于:根据所述噪声采样数据对所述原始采样数据进行过滤;根据过滤后的所述原始采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。20.根据权利要求19所述的装置,其特征在于,所述电容触控装置进一步用于:根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域,根据所述噪声区域对所述原始采样数据进行过滤。21.根据权利要求2〇所述的装置,其特征在于,所述电容触控传感器为互容触控传感器时,所述电容触控装置进一步用于:根据驱动电极不加载打码信号时感应电极输出的噪声采样数据确定第一坐标,根据第一坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域;和或,根据感应电极不加载打码信号时驱动电极输出的噪声采样数据确定第二坐标,根据第二坐标确定所述触控对象在所述电容触控传感器上触控时形成的噪声区域。22.根据权利要求17所述的装置,其特征在于,所述电容触控装置进一步用于:若所述原始采样数据不可用,则根据所述噪声采样数据确定所述触控对象在所述电容触控传感器上的触控位置。23.—种电容触控终端,其特征在于,包括:电容触控传感器以及如权利要求13_22任一项所述的电容触控装置,所述电容触控传感器的检测电极与所述电容触控装置电连接。

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