申请/专利权人：捷普电子(新加坡)公司

申请日：2020-03-18

公开（公告）日：2020-10-23

公开（公告）号：CN211741046U

主分类号：G01N21/01(20060101)

分类号：G01N21/01(20060101);G01N21/892(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.10.23#授权

摘要：本实用新型公开一种AOI检测装置以及检测系统，该AOI检测装置包括机架组件、转运机构和信息采集机构，机架组件包括第一承载台和第二承载台，转运机构可移动地设置于机架组件，信息采集机构设置于机架组件；AOI检测装置具有第一状态和第二状态，在AOI检测装置处于第一状态时，转运机构接近第一承载台而在第一承载台就第一工件进行上料；在AOI检测装置处于第二状态时，信息采集机构在第一承载台就第一工件采集信息，且转运机构接近第二承载台而在第二承载台就第二工件进行上料。上述方案能够解决目前的AOI检测装置存在的工作效率偏低的问题。

主权项：1.一种AOI检测装置，适用于工件500的缺陷检测，其特征在于，包括：机架组件100，所述机架组件100包括第一承载台110和第二承载台120；转运机构200，所述转运机构200可移动地设置于所述机架组件100；信息采集机构300，所述信息采集机构300设置于所述机架组件100；所述AOI检测装置具有第一状态和第二状态，在所述AOI检测装置处于第一状态时，所述转运机构200接近在所述第一承载台110而在所述第一承载台110就第一所述工件500进行上料；在所述AOI检测装置处于第二状态时，所述信息采集机构300在所述第一承载台110就第一所述工件500采集信息，且所述转运机构200接近所述第二承载台120而在所述第二承载台120就第二所述工件500进行上料。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 捷普电子(新加坡)公司 AOI检测装置以及检测系统

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