申请/专利权人：深圳市深科达半导体科技有限公司

申请日：2019-12-31

公开（公告）日：2020-10-23

公开（公告）号：CN211741447U

主分类号：G01R31/00(20060101)

分类号：G01R31/00(20060101);G01R1/04(20060101);G01V8/10(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.10.23#授权

摘要：本实用新型提供了一种电性测试装置，主要应用于sop系列产品的分选机中，包括：旋转驱动件；卫星盘，由旋转驱动件驱动旋转；至少两个吸嘴座，周向间隔设于卫星盘，吸嘴座具有用于放置待测件的放置位；下压机构，用于下压吸嘴座上的待测件进行电性测试；以及联测机构，用于上顶接触吸嘴座上的待测件进行电性测试。本实用新型提供的电性测试装置，其中一个吸嘴座接收主转盘上料，另一个吸嘴座受到下压组件下压和联测机构上顶，对待测件进行电性测试，在该吸嘴座上的待测件检测完毕后，能够迅速将主转盘处的吸嘴座转移至下压机构及联测机构处，继续进行测试。可以提高下压机构和联测机构的利用率，减少主转盘的等待时间，加快电性测试装置的检测效率。

主权项：1.电性测试装置，其特征在于，包括：旋转驱动件；卫星盘，由所述旋转驱动件驱动旋转；至少两个吸嘴座，周向间隔设于所述卫星盘，所述吸嘴座具有用于放置待测件的放置位；下压机构，用于下压所述吸嘴座上的待测件进行电性测试；以及联测机构，用于上顶接触所述吸嘴座上的待测件进行电性测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市深科达半导体科技有限公司 电性测试装置

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