申请/专利权人：北京理工大学

申请日：2020-06-29

公开（公告）日：2020-11-17

公开（公告）号：CN111950217A

主分类号：G06F30/34(20200101)

分类号：G06F30/34(20200101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.10.14#授权;2020.12.04#实质审查的生效;2020.11.17#公开

摘要：本发明公开了SRAM型FPGA故障检测中关键帧地址范围定位方法，涉及抗SRAM型FPGA单粒子翻转容错技术领域。该方法能够减少回读检测的配置帧数目，提高故障检测速度的方法。包括如下步骤：步骤一、对SRAM型FPGA芯片的帧结构进行解析。步骤二、对SRAM型FPGA芯片生成的调试比特流进行解析，推导出SRAM型FPGA的配置帧结构，获得所有配置帧的地址。步骤三、使用布局约束技术将用户设计约束在配置存储器上的预设位置范围内，依据配置帧的地址，在预设位置范围内的配置帧中查找确定关键帧地址范围；关键帧为包含关健位的配置帧，关键位为实现用户逻辑电路的配置位。步骤四、利用确定的关键帧地址范围执行故障检测。

主权项：1.SRAM型FPGA故障检测中关键帧地址范围定位方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、对所述SRAM型FPGA芯片的帧结构进行解析；步骤二、对所述SRAM型FPGA芯片生成的调试比特流进行解析，推导出所述SRAM型FPGA的配置帧结构，获得所有配置帧的地址；步骤三、使用布局约束技术将用户设计约束在配置存储器上的预设位置范围内，依据配置帧的地址，在所述预设位置范围内的配置帧中查找确定关键帧地址范围；所述关键帧为包含关健位的配置帧，所述关键位为实现用户逻辑电路的配置位；步骤四、利用确定的关键帧地址范围执行故障检测。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京理工大学 SRAM型FPGA故障检测中关键帧地址范围定位方法

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