申请/专利权人：电子科技大学

申请日：2020-08-07

公开（公告）日：2020-11-20

公开（公告）号：CN111970003A

主分类号：H03M1/12(20060101)

分类号：H03M1/12(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.04.19#授权;2020.12.08#实质审查的生效;2020.11.20#公开

摘要：本发明公开了一种ADC频谱测试中非相干采样信号恢复方法，首先对被测ADC输出信号进行离散傅里叶变换得到其频域信号，然后利用频域信息对被测ADC的采样周期的整数部分和小数部分进行估计，然后估计得到系数a,b的估计值基于系数的估计结果计算得到幅度估计值和初始相位估计值，利用幅度估计值、初始相位估计值及采样周期进行非相干采样基波信号重构，利用幅度估计值、初始相位估计值、及采样周期的整数部分进行相干采样基波信号重构，将被测ADC输出信号中非相干基波信号替换成相干基波信号，即可对非相干采样信号恢复得到相干采样信号。本发明可以被测ADC在非相干采样下得到的采样信号进行恢复，使得在非相干采样下也可以对ADC进行精确的频谱测试。

主权项：1.一种ADC频谱测试中非相干采样信号恢复方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：在非相干采样条件下进行ADC频谱测试时，记被测ADC的输入信号xt为：xt＝acos2πfit+bsin2πfit其中，A,fi,φ分别表示基波的幅度、频率和初始相位，a,b为系数，a＝Acosφ,b＝-Asinφ；对被测ADC的输出信号x[n]进行离散傅里叶变换，得到输出信号的频域表达式Xk，Xk的表达式为： 其中，n表示采样点序号，M表示采样点数；利用输出信号的频域信息对被测ADC的采样周期的整数部分和小数部分进行估计，得到采样周期总数的估计值其中整数部分和小数部分的表达式分别为： S2：计算如下公式，求得系数a,b的估计值 其中， 其中，上标H表示求取共轭转置，Y1、Y2、Y3的表达式如下：Y1＝[x[0],x[1],…,x[M-1]]T, E＝αI其中，矩阵I为单位矩阵，α为预设的大于0的极小值常数，使得A+E为对称正定矩阵；S3：采用以下公式计算幅度估计值 采用以下公式计算初始相位估计值 其中，S4：利用幅度估计值初始相位估计值及采样周期进行非相干采样基波信号重构，得到重构后的非相干采样基波信号x_nc[n]： S5：利用幅度估计值初始相位估计值及采样周期的整数部分进行相干采样基波信号重构，得到重构后的相干采样基波信号x_c[n]： S6：将被测ADC输出信号x[n]中非相干基波信号x_nc[n]替换成相干基波信号x_c[n]，即可对非相干采样信号恢复得到相干采样信号x_new[n]：x_new[n]＝x[n]-x_nc[n]+x_c[n]。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 电子科技大学 ADC频谱测试中非相干采样信号恢复方法

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