申请/专利权人：华润赛美科微电子(深圳)有限公司

申请日：2020-07-30

公开（公告）日：2020-11-24

公开（公告）号：CN111983424A

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101);G01R1/04(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.12.11#实质审查的生效;2020.11.24#公开

摘要：本发明涉及一种测试治具及测试设备。所述测试治具包括：承载底座，开设有凹槽；弹性组件，固定在凹槽内；限位组件，可拆卸安装在凹槽内，当限位组件内置在凹槽内时，限位组件位于弹性组件上，限位组件的第一面开设有用于容置目标芯片的芯片放置区域，芯片放置区域的深度小于限位组件的厚度；其中，第一面为所述限位组件远离凹槽的一面。本申请测试治具中的限位组件上开设有用于容置目标芯片的芯片放置区域，且芯片放置区域的深度小于限位组件的厚度，对放置在芯片放置区域的目标芯片进行压测时，通过位于限位组件下面的弹性组件，使得目标芯片随限位组件向凹槽内部移动，起到保护目标芯片，降低压测引起的目标芯片引脚弯曲的目的。

主权项：1.一种测试治具，其特征在于，用于对目标芯片进行开尔文测试，包括：承载底座，开设有凹槽；弹性组件，固定在所述凹槽内；限位组件，可拆卸安装在所述凹槽内，当所述限位组件内置在所述凹槽内时，所述限位组件位于所述弹性组件上，所述限位组件的第一面开设有用于容置所述目标芯片的芯片放置区域，所述芯片放置区域的深度小于所述限位组件的厚度；其中，所述第一面为所述限位组件远离所述凹槽的一面。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 测试治具及测试设备

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