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【发明公布】一种LED的PN结电压检测系统_无锡英迪芯微电子科技股份有限公司_202010885829.X 

申请/专利权人:无锡英迪芯微电子科技股份有限公司

申请日:2020-08-28

公开(公告)日:2020-11-24

公开(公告)号:CN111983418A

主分类号:G01R31/26(20140101)

分类号:G01R31/26(20140101);G01R31/27(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.01.28#授权;2020.12.11#实质审查的生效;2020.11.24#公开

摘要:本发明公开了一种LED的PN结电压检测系统,涉及电子电路领域,该系统包括LED工作通路、测量恒流源、测量控制开关、差分检测电路和ADC检测电路,测量恒流源的电流远小于所述待测LED的工作电流,测量恒流源的正极连接待LED的阴极、负极通过测量控制开关接地,在每个检测周期的测量时段,测量控制开关闭合并保持LED工作通路断开,ADC检测电路通过差分检测电路检测得到PN结电压,在工作时段LED工作通路正常工作,该系统根据LED的物理特性采用小电流的测量恒流源作为激励源,充分降低了工作电流的变化以及不同的应用环境带来的测量误差,可以在基本不影响LED正常使用的情况下准确测量LED的PN结电压。

主权项:1.一种LED的PN结电压检测系统,其特征在于,所述系统包括LED工作通路、测量恒流源、测量控制开关、差分检测电路和ADC检测电路;所述LED工作通路包括待测LED、工作恒流源、工作控制开关和PWM控制电路,所述待测LED的阳极连接供电电源、阴极连接所述工作恒流源的正极,所述工作恒流源的负极通过所述工作控制开关接地,所述PWM控制电路控制所述工作控制开关的通断;所述测量恒流源的正极连接所述待测LED的阴极,所述测量恒流源的负极通过所述测量控制开关接地,所述测量恒流源的电流远小于所述待测LED的工作电流;所述差分检测电路的两个差分输入端分别连接所述待测LED的阳极和阴极,所述差分检测电路的输出端连接所述ADC检测电路;所述PN结电压检测系统按周期检测所述待测LED的PN结电压,每个检测周期内均包括测量时段和工作时段:在所述测量时段开始时刻触发所述测量控制开关闭合并保持所述工作控制开关断开,所述ADC检测电路通过所述差分检测电路检测得到所述待测LED的PN结电压,直至所述测量时段的结束时刻时所述ADC检测电路停止检测并控制所述测量控制开关断开;在所述工作时段的开始时刻,保持所述测量控制开关断开,所述PWM控制电路输出PWM波控制所述工作控制开关的通断,直至所述工作时段的结束时刻。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 无锡英迪芯微电子科技股份有限公司 一种LED的PN结电压检测系统

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