申请/专利权人：四川大学

申请日：2020-10-21

公开（公告）日：2020-11-24

公开（公告）号：CN111982019A

主分类号：G01B11/24(20060101)

分类号：G01B11/24(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.01.05#授权;2020.12.11#实质审查的生效;2020.11.24#公开

摘要：本发明公开了一种基于线结构光传感器的叶片截面轮廓高精度检测方法，包括：（10）线结构光传感器的位姿标定；（20）回转轴下面标定：利用叶片侧边基准面实现对回转轴线的标定；（30）待测叶片的截面轮廓检测：建立全局坐标系，将数据坐标系采集的叶片截面曲线特征数据转换至坐标系下拼接，实现对叶片截面轮廓的检测；本发明减少标定物传递产生误差，并且在对回转轴线和转动中心标定的时不带入转台转动角度，减少了旋转误差，两次转动线结构光的位置均没有改变，减少了线结构光传感器平移误差。本发明利用一个平整度精度高的基准面来标定回转轴线，不仅减少了叶片检测前的标定步骤，并且标定后的数据误差极小，对叶片截面曲线检测更精确。

主权项：1.基于线结构光传感器的叶片截面轮廓高精度检测方法，包括如下步骤：（10）线结构光传感器的位姿标定：用于标定移动坐标系X、Y、Z轴，使线结构光传感器的数据坐标系o-xyz与移动坐标系O-XYZ平行；（20）回转轴线的标定：用于标定转台回转轴线，使叶片轴线与回转轴线平行；（30）待测叶片的截面轮廓检测：建立全局坐标系，将数据坐标系采集的叶片截面曲线特征数据转换至坐标系下拼接，实现对叶片截面轮廓的检测；其特征在于：步骤（20）回转轴线标定采用以下步骤：（21）将待测叶片放置于转台上，调整线结构光传感器的位姿使线结构光传感器的激光面与叶片的侧边基准面相交，线结构光传感器采集基准面的轮廓线点数据M1；（22）保持线结构光传感器的位姿不变，旋转转台后线结构光传感器采集侧边基准面的轮廓线点数据M2；再次旋转转台且保持线结构光传感器的位姿不变，线结构光传感器采集侧边基准面的轮廓线点数据M3；其中，步骤（21）和步骤（22）所述叶片的侧边基准面为同一基准面；（23）对数据M1、M2、M3进行直线拟合获得三条直线L1、L2、L3，根据旋转中心点O1到三条直线L1、L2、L3的距离相等，求解出旋转中心点O1；（24）沿移动坐标系Z轴移动线结构光传感器，线结构光传感器的激光面与叶片的侧边基准面相交，重复步骤（21）~（23）获取旋转中心点O2；（25）通过旋转中心点O1、O2求解出回转轴线的空间直线方程；根据空间直线方程可计算回转轴线偏转角，根据偏转角调节转台面，即同时实现转台面和回转轴线的标定。

全文数据：

权利要求：

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