申请/专利权人：深圳市迈测科技股份有限公司

申请日：2020-09-04

公开（公告）日：2020-11-27

公开（公告）号：CN111999738A

主分类号：G01S17/42(20060101)

分类号：G01S17/42(20060101);G01S17/58(20060101);G01S7/481(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.12.15#实质审查的生效;2020.11.27#公开

摘要：本发明涉及一种测量装置，包括：支撑部件；发射部件，发射部件设置于支撑部件；驱动组件，设置于支撑部件，驱动组件内设有中心通孔；遮光部件，设置于驱动组件的输出端，并覆盖于中心通孔，用于遮挡测量装置外部的杂散光，遮光部件设有用于测量光线穿过的透光区域；光学组件，位于遮光部件和支撑部件之间，并设置于遮光部件，且可在驱动组件施加的回转载荷的作用下转动，光学组件用于调节由发射部件发出的发射光线，并使发射光线穿过透光区域，以及用于调节被目标物体返回的且穿过透光区域的反射光线。本申请通过遮光部件遮挡绝大部分测量装置外部的杂散光，降低外部杂散光对反射光线的干扰，进而提高测量结果准确度。

主权项：1.一种测量装置，其特征在于，包括：支撑部件；发射部件，所述发射部件设置于所述支撑部件；驱动组件，所述驱动组件设置于所述支撑部件，所述驱动组件内设有中心通孔；遮光部件，所述遮光部件设置于所述驱动组件的输出端，并覆盖于所述中心通孔，用于遮挡所述测量装置外部的杂散光，所述遮光部件设有用于测量光线穿过的透光区域；光学组件，所述光学组件位于所述遮光部件和所述支撑部件之间，并设置于所述遮光部件，且可在所述驱动组件施加的回转载荷的作用下转动，所述光学组件用于调节由所述发射部件发出的发射光线，并使所述发射光线穿过所述透光区域，以及用于调节被目标物体返回的且穿过所述透光区域的反射光线。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市迈测科技股份有限公司 测量装置

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