申请/专利权人：钛科优控(江苏)工业科技有限公司

申请日：2020-04-27

公开（公告）日：2020-12-01

公开（公告）号：CN212058703U

主分类号：G01B21/08(20060101)

分类号：G01B21/08(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.12.01#授权

摘要：本实用新型涉及一种膜边测厚装置，包括测厚支架，该测厚支架上开设有供膜通过的通道，在所述通道两侧的测厚支架上分别安装有一支撑机构，两个支撑机构沿通道对称设置，且与所述的通道相对应；在接近通道处的测厚支架上还安装有测厚机构，该测厚机构位于其中一支撑机构的内侧。本实用新型的优点是：（1）上位移传感器和下位移传感器采用滚轮式接触，通过上位移传感器和下位移传感器的位移变化量测量，不会损伤膜片，测量结果更加精准。（2）通过调节支架灵活调节，上位移传感器和下位移传感器可以在左右方向及上下方位移动，满足不同厚膜材料的膜边测厚需求。

主权项：1.一种膜边测厚装置，其特征在于，包括测厚支架（1），该测厚支架（1）上开设有供膜通过的通道，在所述通道两侧的测厚支架（1）上分别安装有一支撑机构，两个支撑机构沿通道对称设置，且与所述的通道相对应；在接近通道处的测厚支架（1）上还安装有测厚机构，该测厚机构位于其中一支撑机构的内侧。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 钛科优控(江苏)工业科技有限公司 膜边测厚装置

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