申请/专利权人：深圳市金鹏源辐照技术有限公司

申请日：2020-04-13

公开（公告）日：2021-01-05

公开（公告）号：CN212301618U

主分类号：G01R1/04(20060101)

分类号：G01R1/04(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.01.05#授权

摘要：本实用新型公开了一种电子元器件累计剂量辐照试验支架，包括底座壳和试验支架，所述底座壳的中部固定连接有收纳槽，所述收纳槽的顶部固定连接有试验支架，所述收纳槽的内部滑动连接有剂量盒。该电子元器件累计剂量辐照试验支架，通过透明盖体和放大镜片的设置，透明盖体翻转调整至底座壳的顶部，使其整体对试验支架外围起到密封遮挡的作用，而其中部安装的放大镜片方便了试验人员对检测器件的精确观察，更降低了检测器件对试验人员造成的辐射危害情况，通过收纳槽和剂量盒的设置，对可能出现滴漏液体情况提供底部收纳的作用，方便了试验人员在后期的卫生处理性，更是间接降低了剂量造成的二次辐照危害影响。

主权项：1.一种电子元器件累计剂量辐照试验支架，包括底座壳1和试验支架2，其特征在于：所述底座壳1的中部固定连接有收纳槽3，所述收纳槽3的顶部固定连接有试验支架2，所述收纳槽3的内部滑动连接有剂量盒4，所述收纳槽3的两侧均活动连接有滚轴5，所述滚轴5的外表面固定连接有透明盖体6，所述透明盖体6的中部固定连接有放大镜片7，所述透明盖体6的一侧开设有内陷槽8，所述内陷槽8的内部卡接有锁片9，所述锁片9的一端通过复位弹簧设置有储备箱10。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市金鹏源辐照技术有限公司 一种电子元器件累计剂量辐照试验支架

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