申请/专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

申请日：2020-10-10

公开（公告）日：2021-01-08

公开（公告）号：CN112201186A

主分类号：G09G3/00(20060101)

分类号：G09G3/00(20060101);G09G3/36(20060101);G01R31/26(20140101);G01R1/073(20060101);G01R1/18(20060101);G01R1/04(20060101);H05F3/00(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.01.26#实质审查的生效;2021.01.08#公开

摘要：本申请公开了一种测试元件组。测试元件组用于对一阵列基板进行电性测试，测试元件组包括：一测试治具，测试治具包括多组探针组，每一组探针组用于与一阵列基板上多个间隔设置的测试端子电性接触；静电消除装置，每一静电消除装置设置于相邻两测试端子之间，用以消除探针组上的静电。

主权项：1.一种测试元件组，用于对一阵列基板进行电性测试，其特征在于，所述测试元件组包括：一测试治具，所述测试治具包括多组探针组，每一组所述探针组用于与一所述阵列基板上多个间隔设置的测试端子电性接触；静电消除装置，每一所述静电消除装置设置于相邻两所述测试端子之间，用以消除所述探针组上的静电。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 测试元件组

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