申请/专利权人：株式会社岛津制作所

申请日：2020-06-19

公开（公告）日：2021-01-12

公开（公告）号：CN112216594A

主分类号：H01J49/06(20060101)

分类号：H01J49/06(20060101);H01J49/40(20060101);G01N30/72(20060101)

优先权：["20190710 JP 2019-128722"]

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的撤回

法律状态：2022.07.12#发明专利申请公布后的撤回;2021.01.29#实质审查的生效;2021.01.12#公开

摘要：提供一种质谱分析装置，获得减轻了高频噪声的影响的品质良好的质谱。质谱分析装置具备离子阱和TOF质谱分析器，重复执行在将源自试样成分的离子捕捉到离子阱之后从离子阱射出离子并利用TOF质谱分析器对离子进行分析的动作，还具备：捕捉电压产生部，对离子阱施加离子捕捉用的高频电压；射出电压产生部，施加相位与高频电压的相位同步的离子射出用电压；控制部，在TOF质谱分析器进行质谱分析的期间进行控制，使得将接下来要分析的离子导入并捕捉到离子阱中；空白信号获取部，在使离子阱进行了动作的状态下获取测定期间或测定窗中的空白信号；噪声去除部，从通过测定样品得到的信号强度数据减去空白信号数据；谱制作部，基于噪声去除后的数据制作质谱。

主权项：1.一种质谱分析装置，具备：离子阱，其通过高频电场捕捉离子；以及飞行时间质谱分析器，其对从所述离子阱射出的离子进行质谱分析，所述质谱分析装置重复执行以下动作：在将源自试样成分的离子捕捉到所述离子阱之后，从该离子阱射出该离子，并利用所述飞行时间质谱分析器对该离子进行分析，所述质谱分析装置还具备：捕捉电压产生部，其对构成所述离子阱的电极中的至少一个电极施加离子捕捉用的高频电压；射出电压产生部，其对构成所述离子阱的电极中的至少一个电极施加相位与所述高频电压的相位同步的离子射出用电压；控制部，在所述飞行时间质谱分析器中对从所述离子阱射出的离子进行质谱分析的期间，所述控制部控制所述捕捉电压产生部和所述射出电压产生部，使得将接下来要分析的离子导入并捕捉到所述离子阱中；空白信号获取部，其事先在所述控制部的控制下使所述离子阱与测定源自试样的离子时同样地进行动作的状态下，获取测定期间或测定窗中的规定时间范围的空白信号，并存储该空白信号的数据，所述测定期间为从离子射出时间点起到一次测定结束的时间点为止的期间，所述测定窗为该测定期间的一部分；噪声去除部，其在所述控制部的控制下，按照与所述测定期间对应的测定期间或与所述测定窗对应的测定窗中的经过时间，从在该测定期间或该测定窗中由所述飞行时间质谱分析器针对作为测定对象的试样得到的信号强度数据中减去所述空白信号的数据；以及谱制作部，其基于由所述噪声去除部去除噪声后的信号强度数据来制作质谱。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社岛津制作所 质谱分析装置

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