申请/专利权人：浙江水晶光电科技股份有限公司

申请日：2020-09-11

公开（公告）日：2021-01-12

公开（公告）号：CN212341037U

主分类号：G01N21/892(20060101)

分类号：G01N21/892(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.01.12#授权

摘要：本实用新型提供了一种芯片检测设备，涉及芯片检测技术领域，所述芯片检测设备包括：滑轨结构、抽取装置、运输装置和图像采集检测装置；所述抽取装置用于将弹夹内的芯片载板抽出并放置在滑轨结构上；所述运输装置用于将所述滑轨结构上的芯片载板运输到检测位置，或者将检测位置的芯片载板从检测位置移出；所述图像采集检测装置位于所述检测位置的上方，用于采集芯片载板上芯片的图像，并将所述图像与标准图像进行比较，从而获取芯片载板上芯片的缺陷。

主权项：1.一种芯片检测设备，其特征在于，所述芯片检测设备包括：滑轨结构100、抽取装置、运输装置和图像采集检测装置400；所述抽取装置用于将弹夹220内的芯片载板抽出并放置在滑轨结构100上；所述运输装置用于将所述滑轨结构100上的芯片载板运输到检测位置，或者将检测位置的芯片载板从检测位置移出；所述图像采集检测装置400位于所述检测位置的上方，用于采集芯片载板上芯片的图像，并将所述图像与标准图像进行比较，从而获取芯片载板上芯片的缺陷。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 浙江水晶光电科技股份有限公司 芯片检测设备

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